一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及杂质检测技术领域，具体为一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，包括检测机柜，所述检测机柜内部的上方设置有振料器，且振料器的底部设置有缩分机，所述检测机柜内部的中部设置有筛料机构本发明专利技术通过在检测机柜的内部设置筛料机构，利用筛料机构中的筛料架以及位于筛料架内部设置的两个筛孔直径不同的固定筛网和活动筛网，让活动筛网与固定筛网的网孔之间发生错位，从而对固定筛网和活动筛网之间形成的筛孔通路大小进行调节，从而实现对不同直径大小的杂质起到筛除效果；通过上侧的导料管对固体颗粒向筛料架的内部进行送料，通过下侧的导料管对筛料架内部的杂质进行抽出，实现对固体颗粒的自动高效杂质筛除处理。实现对固体颗粒的自动高效杂质筛除处理。实现对固体颗粒的自动高效杂质筛除处理。

【技术实现步骤摘要】
一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置及方法


[0001]本专利技术涉及杂质检测
，具体为一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置及方法。

技术介绍

[0002]目前在对固体颗粒中的杂质进行检测时所采用的检测装置需要通过多个杂质筛除结构进行配合工作，才能够实现对固体颗粒中杂质的自动高效去除，这样会导致检测装置的体积过大，而且对固体颗粒中杂质的检测效率也会降低，而采用单一的滤网结构只能够实现对固定直径大小的杂质起到筛除效果，导致固体颗粒中混入大量的杂质，对固体颗粒中杂质的检测效果差。
[0003]为此，我们提出了一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，同时还公开了该用于固体颗粒检验的杂质检测装置的检测方法。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置及方法，用于采用简化结构实现对固体颗粒中不同粒径大小的杂质的自动高效去除。
[0005]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，包括检测机柜，所述检测机柜内部的上方设置有振料器，且振料器的底部设置有缩分机，所述检测机柜内部的中部设置有筛料机构，且筛料机构的顶部设置有进料斗，所述筛料机构的一侧设置有缩分收集机构，且缩分收集机构的下方设置有称重机构，所述检测机柜内部的下方分别设置有杂质收集罐和杂质检测仪，且杂质收集罐和杂质检测仪分别位于筛料机构与称重机构的下方；
[0006]所述筛料机构包括固定架和筛料架，所述固定架设置在检测机柜的内部，且筛料架设置在固定架的内部，所述固定架的两侧分别设置有第一安装架和第二安装架，且筛料架的两侧分别位于第一安装架和第二安装架的内部转动设置，所述筛料架内部的上下方均设置有固定筛网，且两个固定筛网的一侧均设置有活动筛网，所述筛料架一侧的上下方均设置有微型电动推杆，且两个微型电动推杆的驱动端分别与两个活动筛网的一侧连接，所述筛料架的内部设置有转动杆，且转动杆的表面设置有翻料架，所述翻料架的顶部与底部均设置有连接架，且两个连接架的内部均转动设置有刮料刷。
[0007]优选的，所述筛料架的右侧设置有侧板，且侧板内部的上方开设有料口，所述料口的内部设置有两个密封板，且两个密封板的一侧均通过合页与料口的内壁转动连接。
[0008]优选的，所述第二安装架的内部设置有导料组件，所述导料组件包括两个导料架，且两个导料架分别位于第二安装架内部的上下方设置，两个所述导料架的一侧均活动设置有连接管，且两个连接管的一侧均设置有伺服电缸。
[0009]优选的，两个所述导料架相背离的一侧还设置有导料管，且两个导料管的一侧均延伸至第二安装架的右侧。
[0010]优选的，所述固定架内壁的一侧设置有鼓风机，且固定架内壁的另一侧设置有出料管。
[0011]优选的，所述第一安装架的内部设置有第一伺服电机，且第一伺服电机的输出端与转动杆的一端通过联轴器连接，所述第一安装架的一侧还设置有第二伺服电机，且第二伺服电机的输出端设置有驱动齿轮，所述筛料架的左侧设置有内齿圈，且内齿圈的内壁与驱动齿轮的齿牙表面相啮合。
[0012]优选的，所述固定架的底部设置有收集架，且收集架的内部通过提料绞龙与振料器的内部连通。
[0013]优选的，所述缩分收集机构包括第一集料罐和第二集料罐，所述第一集料罐和第二集料罐均设置在缩分机的下方，且第一集料罐和第二集料罐的一侧还设置有电动推料架。
[0014]优选的，所述称重机构包括称重罐以及位于称重罐底部设置的称重传感器。
[0015]优选的，一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置的检测方法，具体步骤如下
[0016]步骤一、首先利用第二安装架上侧的伺服电缸的驱动端推动连接架靠近侧板，让连接架的一侧将两个密封板顶开后进入料口的内部，将固体颗粒从进料斗中送入筛料机构中；
[0017]步骤二、通过微型电动推杆的驱动轴推动活动筛网，让活动筛网与固定筛网的网孔之间发生错位，从而对固定筛网和活动筛网之间形成的筛孔通路大小进行调节，固体颗粒进入筛料架的内部后，第一伺服电机的输出端驱动转动杆进行90
°
往复转动，转动杆表面的翻料架同步转动，利用翻料架对筛料架中的固体颗粒进行翻动，同时翻料架上的刮料刷对固定筛网上进行清洁；
[0018]步骤三、利用下方固定筛网对固体颗粒中的细小杂质进行筛除时，细小杂质落入固定架的内部，此时鼓风机将细小杂质吹入出料管中；
[0019]步骤四、接着第二伺服电机的输出端带动驱动齿轮进行转动，由于驱动齿轮和内齿圈的齿牙表面相啮合，因此第二伺服电机输出轴在转动时，驱动筛料架进行转动，让位于上方的固定筛网转动至下方，通过调整固定筛网与活动筛网之前的相对位置，让固体颗粒穿过固定筛网和活动筛网进入固定架中，最后控制下方的连接管一侧位移至料口中，将筛料架内部的杂质进行抽出；
[0020]步骤五、在对固体颗粒中的杂质进行筛除后，再将处理后的固体颗粒送入振料器中，利用振料器将固体颗粒送入缩分机的内部，接着缩分机将固体颗粒按照一定的粒径送入缩分收集机构中进行处理；
[0021]步骤六、通过第一集料罐和第二集料罐分别对缩分机中送出的固体颗粒进行存放，利用电动推料架将第一集料罐和第二集料罐送至杂质检测仪的上方，利用机械手将第一集料罐和第二集料罐中的固体颗粒送入杂质检测仪中，分别对第一集料罐和第二集料罐中的固体颗粒杂质进行检测。
[0022]本专利技术提供了一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置及方法。与现有技术相比具备以下有益效果：
[0023]通过在检测机柜的内部设置筛料机构，利用筛料机构中的筛料架以及位于筛料架内部设置的两个筛孔直径不同的固定筛网和活动筛网，通过微型电动推杆的驱动轴推动活
动筛网，让活动筛网与固定筛网的网孔之间发生错位，从而对固定筛网和活动筛网之间形成的筛孔通路大小进行调节，从而实现对不同直径大小的杂质起到筛除效果。
[0024]通过让两个刮料刷的表面分别与上下两个固定筛网的内表面接触，通过控制转动杆进行转动，转动杆表面的翻料架同步转动，利用翻料架上的刮料刷对固定筛网上进行清洁，避免杂质对固定筛网的筛孔直径造成堵塞，显著提高对固体颗粒中杂质的筛除效率。
[0025]通过在第二安装架中设置两个导料架，配合在侧板上开设的一个料口，利用改变料口处于上方和下方的位置，实现对筛料架内部的进料以及杂质抽出处理，通过上侧的导料管对固体颗粒向筛料架的内部进行送料，通过下侧的导料管对筛料架内部的杂质进行抽出，实现对固体颗粒的自动高效杂质筛除处理。
附图说明
[0026]图1为本专利技术实施例一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置结构的示意图；
[0027]图2为本专利技术实施例筛料机构结构的示意图；
[0028]图3为本专利技术实施例固定架与筛料架结构的示意图；
[0029]图4为本专利技术实施例固定架、筛料架、第一安装架与第二安装架结构的示意图；
[0030]图5为本专利技术实施例筛料架内部结构的示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，包括检测机柜(10)，所述检测机柜(10)内部的上方设置有振料器(20)，且振料器(20)的底部设置有缩分机(30)，其特征在于：所述检测机柜(10)内部的中部设置有筛料机构(40)，且筛料机构(40)的顶部设置有进料斗(50)，所述筛料机构(40)的一侧设置有缩分收集机构(60)，且缩分收集机构(60)的下方设置有称重机构(70)，所述检测机柜(10)内部的下方分别设置有杂质收集罐(80)和杂质检测仪(90)，且杂质收集罐(80)和杂质检测仪(90)分别位于筛料机构(40)与称重机构(70)的下方；所述筛料机构(40)包括固定架(11)和筛料架(12)，所述固定架(11)设置在检测机柜(10)的内部，且筛料架(12)设置在固定架(11)的内部，所述固定架(11)的两侧分别设置有第一安装架(13)和第二安装架(14)，且筛料架(12)的两侧分别位于第一安装架(13)和第二安装架(14)的内部转动设置，所述筛料架(12)内部的上下方均设置有固定筛网(15)，且两个固定筛网(15)的一侧均设置有活动筛网(16)，所述筛料架(12)一侧的上下方均设置有微型电动推杆(17)，且两个微型电动推杆(17)的驱动端分别与两个活动筛网(16)的一侧连接，所述筛料架(12)的内部设置有转动杆(18)，且转动杆(18)的表面设置有翻料架(19)，所述翻料架(19)的顶部与底部均设置有连接架(110)，且两个连接架(110)的内部均转动设置有刮料刷(111)。2.根据权利要求1所述的一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，其特征在于：所述筛料架(12)的右侧设置有侧板(112)，且侧板(112)内部的上方开设有料口(113)，所述料口(113)的内部设置有两个密封板(114)，且两个密封板(114)的一侧均通过合页与料口(113)的内壁转动连接。3.根据权利要求1所述的一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，其特征在于：所述第二安装架(14)的内部设置有导料组件，所述导料组件包括两个导料架(21)，且两个导料架(21)分别位于第二安装架(14)内部的上下方设置，两个所述导料架(21)的一侧均活动设置有连接管(22)，且两个连接管(22)的一侧均设置有伺服电缸(23)。4.根据权利要求3所述的一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，其特征在于：两个所述导料架(21)相背离的一侧还设置有导料管(24)，且两个导料管(24)的一侧均延伸至第二安装架(14)的右侧。5.根据权利要求1所述的一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，其特征在于：所述固定架(11)内壁的一侧设置有鼓风机(31)，且固定架(11)内壁的另一侧设置有出料管(32)。6.根据权利要求1所述的一种用于固体颗粒检验的杂质检测装置，其特征在于：所述第一安装架(13)的内部设置有第一伺服电机(41)，且第一伺服电机(41)的输出端与转动杆(18)的一端通过联轴器连接，所述第一安装架(13)的一侧还设置有第二伺服电机(42)，且第二伺服电机(42)的输出端设置有驱动齿轮(43)，所述筛料架(12)的左侧设置有内齿圈(44)，且内齿圈(44...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗陨飞，姜英，周璐，邵徇，
申请(专利权)人：英飞智信苏州科技有限公司，
类型：发明
国别省市：