射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例涉及通信技术领域，公开了一种射频指标测量方法，包括：确定目标阵列天线的瑞利分辨率；根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。本发明专利技术实施例还公开了一种射频指标测量装置、系统、电子设备及存储介质。本发明专利技术实施例提供的射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质，可以提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质


[0001]本申请实施例涉及通信
，特别涉及一种射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着5G通信技术的发展，振子尺寸达到毫米级的大规模阵列天线技术得以应用于5G通信产品中。毫米波电路设计及大规模相控阵列天线的应用，要求天线与远端射频单元(Radio Remote Unit，RRU)实现一体化，从而形成有源天线系统(Active Antenna System，AAS)。3GPP(3rd Generation Partnership Project)标准规定，AAS基站属于2
‑
O类型5G设备，其射频指标必须在暗室中通过空口(Over the Air，OTA)方式测量。
[0003]然而，目前在测量阵列天线的ACLR(Adjacent Channel Leakage Ratio，邻信道泄漏功率比)和杂散这两个射频指标时，为了获取较为准确的测量结果，采样时设置的步进较小，使得采样点过多，导致在测量ACLR和杂散的效率较低。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频指标测量方法，其特征在于，包括：确定目标阵列天线的瑞利分辨率；根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。2.根据权利要求1所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP，包括：测量所述目标阵列天线在每一所述采样点上的EIRP
T
、EIRP
L
和EIRP
R
，所述EIRP
T
为带宽内输出的EIRP，所述EIRP
L
为左侧邻道泄漏EIRP，所述EIRP
R
为右侧邻道泄漏EIRP；所述根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标，包括：根据所述归一化波矢空间算法将所述EIRP
T
、EIRP
L
和EIRP
R
分别积分累计为TRP
T
、TRP
L
和TRP
R
，所述TRP
T
为带宽内TRP，所述TRP
L
为左侧邻道泄漏TRP，所述TRP
R
为右侧邻道泄漏TRP；根据ACLR
L
＝TRP
L
‑
TRP
T
计算得到所述目标阵列天线的左侧ACLR，根据ACLR
R
＝TRP
R
‑
TRP
T
计算得到所述目标阵列天线的右侧ACLR。3.根据权利要求2所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述根据所述归一化波矢空间算法将所述EIRP
T
、EIRP
L
和EIRP
R
分别积分累计为TRP
T
、TRP
L
和TRP
R
，包括：根据计算所述TRP
T
；根据计算所述TRP
L
；根据计算所述TRP
R
；其中，所述Δu和所述Δv为波矢空间的采样间隔，所述EIRP
T，i
为第i个采样点的EIRP
T
，i∈M，所述M为正整数，所述EIRP
L，i
为第i个采样点的EIRP
L
，所述EIRP
R，i
为第i个采样点的EIRP
R
，所述θ
i
和所述为第i个采样点在所述球坐标系的角度值。4.根据权利要求1所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP，包括：根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点；根据每一所述频谱测试点测量所述目标阵列天线在每一...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄言春，杨华，张飞越，吕婧任，金鹤飞，赵志勇，冯卫东，吴健，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：