一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具，涉及晶覆膜检验技术领域，包括显微镜平台，显微镜设备，定位机构，晶覆膜机种面板，固定机构。本实用新型专利技术通过设置固定机构，转动伸缩柱带动滑块转动解除对伸缩柱的位置固定，按动伸缩柱挤压伸缩弹簧收缩移动，带动连接杆移动，带动密封板从吸盘内部移出，解除对进气槽和吸盘的密封，使空气通过进气槽流入吸盘内部，解除吸盘与显微镜平台的连接，解除定位端子和显微镜平台的位置固定，即可便于定位端子进行位置更换，在刻度尺上选定与多晶覆膜机种面板合适的检测位置，减少多晶覆膜机种面板自身位置移动对保护膜的损伤，并提高显微镜平台的检测效率。并提高显微镜平台的检测效率。并提高显微镜平台的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具


[0001]本技术涉及晶覆膜检验
，具体是一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具。

技术介绍

[0002]COF常称覆晶薄膜，是将驱动IC固定于柔性线路板上晶粒软膜构装技术，是运用软质附加电路板作封装芯片载体将芯片与软性基板电路结合的技术，主要应用于液晶模组显示行业，而COF在进行检测时，需要将COF贴附在机种面板进行检测。
[0003]而在检测设备对晶覆膜机种面板进行检验时，原显微镜检验平台无位置固定标尺，只适合检测单覆晶薄膜的液晶面板，由于多覆晶薄膜机种面板进行检测时，需要多次移动来完成多覆晶薄膜机种面板的位置定位，而多覆晶薄膜机种面板移动会与玻璃接触摩擦，容易使多覆晶薄膜表面保护膜划伤，导致覆晶薄膜检测不合格，同时多覆晶薄膜机种面板多次移动，降低了设备平台的检测效率，因此，我们提出一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于检验多单晶覆膜机种面板的工装治具，包括显微镜平台(1)，所述显微镜平台(1)的顶端设置有包含有定位端子(203)的定位机构(2)，所述显微镜平台(1)的顶端放置有位于定位端子(203)一端的晶覆膜机种面板(4)，其特征在于，所述定位端子(203)的顶端设置有贯穿至定位端子(203)内部的固定机构(3)，用于对定位端子(203)与显微镜平台(1)解除连接固定操作；所述固定机构(3)包括有伸缩柱(301)，所述伸缩柱(301)转动连接于定位端子(203)的顶端，并延伸至定位端子(203)的内部，所述伸缩柱(301)的两侧连接固定有滑块(302)，所述滑块(302)滑动连接于定位端子(203)的内部，所述伸缩柱(301)的底端转动连接有连接杆(303)，所述连接杆(303)贯穿定位端子(203)的底端，所述伸缩柱(301)的底端连接固定有伸缩弹簧(304)，所述伸缩弹簧(304)位于定位端子(203)的内部，所述连接杆(303)的底端连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯龙伟，谭北冰，
申请(专利权)人：咸阳泰嘉光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：