涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种涡流测量方法，该方法包括：施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域；测试梯度用于产生涡流；射频脉冲信号用于产生磁共振信号；选层梯度用于选择层方向上梯度磁场的方向；选层回聚梯度用于回聚选层梯度产生的散相信号；打散梯度用于打散被激发的残余磁化矢量；水模用于提供涡流测量需要的磁共振信号；采集射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号，并根据磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B0涡流与线性涡流。采用本申请实施例提供的涡流测量方法能够在一次扫描中完整测量出所有的涡流项，并且采样精度高。并且采样精度高。并且采样精度高。

【技术实现步骤摘要】
涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及涡流测量领域，具体而言，涉及一种涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]磁共振成像系统在扫描过程中需要快速的梯度切换，在周围导体中产生涡流。涡流既随时间变化又有空间依赖性，因而会产生与空间位置无关的涡流项和与空间位置有关的涡流项；其中，与空间位置无关的涡流项称为B0涡流，与空间位置x，y，和z相关的涡流项称为线性涡流。
[0003]其中，线性涡流会使得实际发生的梯度场产生畸变，从而影响被梯度空间编码的信号的相位，导致图像伪影或者图像上的信号不均匀；而随时间变化的B0涡流会导致磁共振成像频率也随时间变化而变化，有可能在成像过程中产生较为严重的偏共振效应，对某些涡流敏感的序列(比如快速自旋回波成像FSE和基于回波平面采集的扩散成像DWI)，会引起图像伪影、移位甚至变形。
[0004]目前，对磁共振系统中的涡流测量的方法一般为通过水模采集信号，需要施加测试梯度，通过单个90
°
脉冲激发和采集自由衰减信号(FID)，因为FID信号的相本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种涡流测量方法，其特征在于，所述方法包括：施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域；其中，所述测试梯度用于产生涡流；所述射频脉冲信号用于产生磁共振信号；所述选层梯度用于选择层方向上梯度磁场的方向；所述选层回聚梯度用于回聚选层梯度产生的散相信号；所述打散梯度用于打散被激发的残余磁化矢量；所述水模用于提供涡流测量需要的磁共振信号；采集所述射频脉冲信号在所述预设区域产生的磁共振信号，并根据所述磁共振信号分别测量长时间常数涡流和短时间常数涡流的B0涡流与线性涡流；其中，所述B0涡流为与空间位置无关的涡流；所述线性涡流为所述磁共信号中与空间位置有关的一阶涡流；所述磁共振信号包括所述射频脉冲信号在所述预设区域产生的磁共振信号。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述测试梯度包括极性相反的第一测试梯度和第二测试梯度；所述磁共振信号包括第一磁共振信号、第二磁共振信号、第三磁共振信号和第四磁共振信号；所述施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域，包括：施加所述第一测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域；施加所述第二测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域；所述采集所述射频脉冲信号在所述预设区域产生的磁共振信号，并根据所述磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B0涡流与线性涡流，包括：在所述预设区域采集所述第一磁共振信号、第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和第四磁共振信号；其中，所述第一磁共振信号和第二磁共振信号包括与所述第一测试梯度对应的磁共振信号；所述第三磁共振信号和第四磁共振信号包括与所述第二测试梯度对应的磁共振信号；根据所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号计算所述长时间常数涡流的B0涡流与线性涡流。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选层梯度包括极性相反的第一选层梯度和第二选层梯度；所述选层回聚梯度包括极性相反的第一选层回聚梯度和第二选层回聚梯度；所述预设区域包括第一预设区域和第二预设区域；所述施加所述第一测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域，包括：施加所述第一测试梯度至所述第一预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述第一选层梯度、所述第一选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的第一预设区域；其中，所述测试梯度与所述第一选层梯度和所述第一选层回聚梯度位于同一梯度轴；施加所述第一测试梯度至所述第二预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述第二选层梯度、所述第二选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的第二预设区域；其中，所述测
试梯度与所述第二选层梯度和所述第二选层回聚梯度位于同一梯度轴；所述根据所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号计算所述长时间常数涡流的B0涡流与线性涡流，包括：采集所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号；根据所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号计算所述长时间常数涡流的B0涡流和线性涡流的直接项。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述施加所述第一测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域，还包括：施加所述测试梯度至所述第一预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述第一选层梯度、所述第一选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的第一预设区域，并获取所述第一预设区域的所述第一磁共振信号；其中，所述测试梯度与所述第一选层梯度和所述第一选层回聚梯度位于不同梯度轴；施加所述第一测试梯度至所述第二预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述第二选层梯度、所述第二选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的第二预设区域，并获取所述第二预设区域的所述第二磁共振信号；其中，所述测试梯度与所述第二选层梯度和所述第二选层回聚梯度位于不同梯度...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤伟男，王龙庆，李培，
申请(专利权)人：北京万东医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：