用于优化继电保护缺陷诊断措施的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:37105740 阅读:27 留言:0更新日期:2023-04-01 05:04
一种用于优化继电保护缺陷诊断措施的方法及装置,该方法包括:收集若干项变电站异常信息;建立缺陷点与专家知识库中缺陷诊断措施的关联矩阵;根据关联矩阵和每个缺陷点的可能性概率,建立目标函数;求解目标函数的最优解,以使所需的缺陷诊断措施的期望数目最少。通过本发明专利技术实施例提供的方法及装置,解决了现有继电保护缺陷诊断中未能够根据缺陷点的可能性高低给出有针对性、高效的缺陷诊断措施的问题,帮助现场运行人员从最可能的缺陷点对应的诊断措施入手,使用最少的诊断步骤定位缺陷点,实现缺陷智能诊断,减少缺陷排查时间,提高诊断效率,降低电网安全运行风险,支撑电网安全稳定运行。全稳定运行。全稳定运行。

【技术实现步骤摘要】
用于优化继电保护缺陷诊断措施的方法及装置


[0001]本专利技术涉及继电保护运行维护
,具体而言,涉及一种用于优化继电保护缺陷诊断措施的方法及装置。

技术介绍

[0002]继电保护缺陷诊断对于快速恢复装置运行、提升继电保护可靠运行水平具有重要意义。目前,继电保护缺陷诊断仍多依靠人员现场检查或后台报文信息,对继电保护在线监视信息、告警信息等的应用不足。继电保护缺陷诊断及消缺仍多依赖于专家经验。构建专家库是当前缺陷诊断的主要方法。依据缺陷诊断专家库,构造推理机,根据用户的输入数据,利用专家库中的知识,按照一定的推理规则给出结果。对于规则存在歧义的情形,采用决策融合(如D

S证据理论)进行处理。但是,这些案例均是对典型个案的诊断方法进行的总结,尚未提取出继电保护缺陷诊断的一般规律,仅能向运维人员提供缺陷诊断的若干思路和角度,不足以完成缺陷诊断的全过程。数据驱动的方法主要提取能够表征缺陷的特征量,如装置温度、差流、光口强度等,采用PCA、人工神经网络等方法建立缺陷诊断规则并进行诊断。二次回路缺陷诊断还需要对设备与回路的连接关系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于优化继电保护缺陷诊断措施的方法,其特征在于,所述方法包括:建立缺陷点与专家知识库中缺陷诊断措施的关联矩阵;根据所述关联矩阵和每个缺陷点的可能性概率,建立目标函数;求解所述目标函数的最优解,以使所需的缺陷诊断措施的期望数目最少。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立缺陷点与专家知识库中缺陷诊断措施的关联矩阵,包括:建立缺陷点与专家知识库中缺陷诊断必要措施的关联矩阵B=[b
kj
]
K
×
J
;其中,b
kj
=1表示对于缺陷点j,必须实施缺陷诊断措施k,缺陷点j才能够得以确认;b
kj
=0表示缺陷点j的确认无需实施缺陷诊断措施k;列向量b
j
=[b
kj
]
K
×1表示与缺陷点j对应的各个缺陷诊断措施的关联性向量;J表示缺陷点数量,K表示缺陷诊断措施数量,1≤j≤J,1≤k≤K,J、K均为正整数。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述关联矩阵和每个缺陷点的可能性概率,建立目标函数,包括:根据所述关联矩阵B=[b
kj
]
K
×
J
和缺陷点j的可能性概率l
j
,建立如下目标函数:其中,对于一套缺陷诊断措施排序S,其中的任一元素S(k)表示第k项缺陷诊断措施的执行序号。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述求解所述目标函数的最优解,以使所需的缺陷诊断措施的期望数目最少,包括:采用原子核衰变算法求解所述目标函数的最优解,以使所需的缺陷诊断措施的期望数目最少。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述采用原子核衰变算法求解所述目标函数的最优解,以使所需的缺陷诊断措施的期望数目最少,包括:步骤1:将K个自然数随机组合,作为缺陷诊断措施初始排序S0,设置放射性粒子的初始强度C0、半衰期h、截止强度C',则第r次迭代的放射性粒子强度C
r
为:其中,r为正整数,初始迭代r=1:步骤2:第r次迭代中,设置随机数α,0≤α≤1;当α>0.5时,从当前解S1中随机选取两个数交换位置,作为新解S2;当α≤0.5时,从当前解S1中随机选取三个数交换位置,作为新解S2;若E(S2)≤E(S1),接受新解;否则,按照概率p
iter
确定是否接受新解;其中,若接收新解,则将新解作为当前解;本步骤重复g次,g为正整数,重复g次后得到的解作为本次迭代的最优解S
best
及下次迭
代的初始解;步骤3:更新迭代步数r=r+1,当C
...

【专利技术属性】
技术研发人员:张烈郭鹏李仲青闫周天杨国生王文焕王丽敏张瀚方李妍霏药韬康逸群申华吴春亮胡海燕叶馨
申请(专利权)人:中国电力科学研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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