【技术实现步骤摘要】
一种大规格镁合金锻件超声探伤检测方法
[0001]本专利技术涉及镁合金材料无损检测
,尤其是一种大规格镁合金锻件超声探伤检测方法。
技术介绍
[0002]镁是地壳储量中最丰富的轻金属元素之一,其密度约1.74g/cm3,是铝的2/3,钢的1/4,镁合金作为实际工程应用中最轻的金属结构材料,具有密度低,比强度比刚度高,导电导热性能好,易于成型加工等优势,广泛应用于航空航天武器装备等零部件,被誉为“21世纪绿色工程材料”。镁合金结构件的应用可显著降低航空航天武器装备的系统重量,大幅度提高装备综合战术性能,已成为航空航天、国防军工领域最受青睐的轻量化材料。
[0003]镁合金锻件通过对镁合金铸造材料实施多道次锻压变形,塑性变形充分,晶粒细化效果显著、铸造组织缺陷改善明显,具有良好的综合力学性能,越来越成为高强性能镁合金结构件的主要生产方式。然而镁合金大规格锻件加工技术尚处于起步阶段,制备过程中常出现锻造开裂、锻透性差、组织不均匀等加工缺陷,严重影响产品质量。
[0004]目前大规格镁合金锻件超声检测以全声程检 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种大规格镁合金锻件超声探伤检测方法,其特征在于,所述超声探伤检测方法采用半声程检测法,包括以下步骤:S1:对待测件进行前处理,设计对比试块;S2:选取探伤设备、探头及耦合剂;所述探头包括单晶纵波直探头和双晶纵波直探头;S3:根据待测件任一横截面上长边和短边的比值,确定扫查面;S4:根据探头晶片尺寸,确定扫查间距;S5:根据对比试块扫查速度,确定待测件扫查速度;S6:在半声程检测范围内设置不同检测区域,双晶纵波直探头检测近表面区域,单晶纵波直探头检测其他区域,且单晶纵波直探头和双晶纵波直探头的检测区域交界处有重叠;近表面区域为待测件表面至加工余量距离;S7:设置对比试块埋深,根据所述对比试块埋深进行探头灵敏度调控;S8:确定传输修正补偿;S9:采用单晶纵波直探头和双晶纵波直探头扫查检测。2.如权利要求1所述的超声探伤检测方法,其特征在于,在步骤S2中,所述探头的回波频率与其标称值的偏差在
±
10%以内,频率≥5MHZ,晶片尺寸≤20mm;所述单晶纵波直探头的最大检测深度超过待测件厚度的一半。3.如权利要求1或2所述的超声探伤检测方法,其特征在于,在检测深度<10mm近表面缺陷时,使用焦距深度5mm的双晶聚焦探头,晶片尺寸≤12mm;在检测深度10~20mm近表面缺陷时,使用焦距深度10mm的双晶聚焦探头,晶片尺寸≤14mm;单晶纵波直探头检测时,晶片尺寸≤20mm,评定缺陷时晶片尺寸≤14mm。4.如权利要求1所述的超声探伤检测方法,其特征在于,在步骤S2中,所述耦合剂为机油或者液压油。5.如权利要求4所述的超声探伤检测方法,其特征在于,在步骤S3中,当长边和短边比值≤3:1时,分别沿长边和短边方向进行扫查;当长边和短边比值>3:1时,则只沿短边方向进行扫查。6.如权利要求1所述的超声探...
【专利技术属性】
技术研发人员:倪立波,张涛,周承伟,康心锴,
申请(专利权)人:航天科工长沙新材料研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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