平面度检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种平面度检测方法及装置，包括：多个光线发射光源；所述多个光线发射光源的出射光线的颜色不同，并从不同角度射向检测表面，且交汇于一点；当不同数量的光线发射光源的出射光线交汇于一点时，该点的颜色相应不同。本发明专利技术利用中心光源、倾斜光源出射的光线在被检测物体表面形成光点，若不同的光线在同一平面交于一点，则当待检测面不平的时候，会导致光束不能聚集，从而通过观察光点聚集情况(例如颜色、光点分布)可知待测平面是否存在缺陷。缺陷。缺陷。

【技术实现步骤摘要】
平面度检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及非接触式平面度检测技术，具体地，涉及平面度检测方法及装置。

技术介绍

[0002]对有平面度要求的产品，如卫星太阳翼基板，其用于贴太阳能电池片的绝缘表面(一般为聚酰亚胺薄膜)容易产生凸起和凹坑。在生产过程中，现有的检验方法都需要与产品进行接触，比如专利文献CN113654449A提供的一种气缸盖检测仪的平面度检测机构，利用刀口尺和塞尺进行检测。
[0003]但是，接触式的平面检测方式可能在检验的过程中对产品产生额外的损伤，且不易操作和观察。另外，对于尺度小于塞尺范围的缺陷(尤其是凹坑)，在检测时塞尺往往不能通过刀口尺，即无法检测出该缺陷。因此，该领域平面度检测需要更加简便、精确、不易产生额外损伤的方法。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是提供一种平面度检测方法及装置。
[0005]根据本专利技术提供的一种平面度检测装置，包括多个光线发射光源；
[0006]所述多个光线发射光源的出射光线的颜色不同，并从不同角度射向检测表面，且交汇于一点；
[0007]当不同数量的光线发射光源的出射光线交汇于一点时，该点的颜色相应不同。
[0008]优选地，光线发射光源的出射光线的颜色包括红、黄、蓝，或者包括红、绿、蓝。
[0009]优选地，多个光线发射光源中包括中心光源、倾斜光源；
[0010]所述中心光源发出垂直于检测平面的光线；
[0011]所述倾斜光源发出与检测平面形成夹角的光线。
[0012]优选地，包括：环形灯架、灯架结构；
[0013]所述中心光源设置在环形灯架的几何中心；
[0014]所述倾斜光源设置在环形灯架的环形结构上；
[0015]环形灯架连接在灯架结构上。
[0016]优选地，倾斜光源通过角度调整机构滑配于环形灯架的环槽。
[0017]根据本专利技术提供的一种平面度检测方法，令多个光线发射光源照射检测平面，光线发射光源在检测平面上形成光点；
[0018]所述多个光线发射光源的出射光线的颜色不同，并从不同角度射向检测表面，且交汇于一点；
[0019]当不同数量的光线发射光源的出射光线交汇于一点时，该点的颜色不同。
[0020]优选地，光线发射光源的出射光线的颜色包括红、黄、蓝，或者包括红、绿、蓝；
[0021]多个光线发射光源中包括中心光源、倾斜光源；所述中心光源发出垂直于检测平面的光线；所述倾斜光源发出与检测平面形成夹角的光线。
[0022]优选地，采用所述的平面度检测装置，进行平面度检测。
[0023]优选地，包括：
[0024]步骤S1：调节灯架结构的竖直灯架的高度与多个光线发射光源中倾斜光源的入射角，使得倾斜光源入射光线在被检测表面汇聚成一点；
[0025]步骤S2：调节灯架结构的水平灯架伸展长度或移动灯架结构的底座的滚轮，对检测平面上的不同位置的平面度进行检测；
[0026]步骤S3：若所述多个光线发射光源的所有发射光线均交汇于一点，则认为该点所在的平面位置无平面度缺陷；若存在不交汇的光点，或者交汇的光点的颜色不同于所述多个光线发射光源的所有发射光线均交汇于一点所形成光点的颜色，则认为多个光线发射光源中的中心光源发射光线在检测平面上的照射点位置存在平面度缺陷。
[0027]优选地，当认为存在平面度缺陷时，通过光点离散的方式得到缺陷的形式：
[0028]若倾斜光源以及该倾斜光源的光点相对于中心光源的入射光线在同一侧，则认为缺陷为凸起；
[0029]若倾斜光源以及该倾斜光源的光点相对于中心光源的入射光线在不同侧，则认为缺陷为凹坑；
[0030]通过量取倾斜光源的光点相对于中心光源的光点的偏移的距离，得出缺陷的尺寸大小。
[0031]与现有技术相比，本专利技术具有如下的有益效果：
[0032]1、本专利技术利用中心光源、倾斜光源出射的光线在被检测物体表面形成光点，若不同的光线在同一平面交于一点，则当待检测面不平的时候，会导致光束不能聚集，因此通过观察光点聚集情况(例如颜色、光点分布)可知待测平面是否存在缺陷。例如入射光为红绿蓝三种颜色的时候，若光线聚集，则光点为白色的复合光，若蓝色光线不能聚集，则聚集光为黄色。
[0033]2、本专利技术通过倾斜光源及其在检测表面上形成的光点两者相对于中心光源的位置关系，检测得到平面度缺陷为凸起或者凹坑。
[0034]3、本专利技术适用于对有平面度有要求的产品，如航天领域的卫星太阳翼基板等等。
附图说明
[0035]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0036]图1为检测表面存在凸起情况的光线结果示意图。
[0037]图2为检测表面存在凹坑情况的光线结果示意图。
[0038]图3为中心光源与环形光源构造的侧面角度的结构示意图。
[0039]图4为中心光源与环形光源构造的仰视角度的结构示意图。
[0040]图5为环形灯架滑槽示意图。
[0041]图6为环形光源组光源结构图。
[0042]图7为检测装置效果图。
[0043]图中示出：
[0044]具体实施方式
[0045]下面结合具体实施例对本专利技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本专利技术，但不以任何形式限制本专利技术。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本专利技术的保护范围。
[0046]本专利技术的目的在于以提供一种平面度检测的技术方案，及解决上述技术背景中的技术问题，使平面度的检测过程更加简便，结果更加直观、精确，与现有的检测方法相比，能够进行更小尺度的检测，且检测设备与被测产品在过程中不产生接触，避免了产生额外损伤。
[0047]根据本专利技术提供的一种平面度检测装置，包括多个光线发射光源；所述多个光线发射光源的出射光线的颜色不同，并从不同角度射向检测表面，且交汇于一点；当不同数量的光线发射光源的出射光线交汇于一点时，该点的颜色相应不同。多个光线发射光源中包括中心光源1、倾斜光源。
[0048]下面对本专利技术进行具体说明。
[0049]中心光源1设置在环形灯架3的几何中心，中心光源1的入射光线方向保证垂直度，即入射光线沿竖直方向，可作为检点位置的标志。
[0050]环形光源组2，环形光源组2的光源构成倾斜光源，包括：第一光源201、第二光源202、第三光源303、第四光源204。第一光源201、第二光源202、第三光源303、第四光源204设置于环形灯架3的环形结构，并在环形结构的周向上均匀分布。环形光源组2的光源的发射光线与竖直方向呈一定角度，在被检测表面上与中心光源1的发射光线交于一点；在变化例中，所述环形灯架3上有两个、三个或四个以上的光源，在水平方向上以不同角度设置，即设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面度检测装置，其特征在于，包括多个光线发射光源；所述多个光线发射光源的出射光线的颜色不同，并从不同角度射向检测表面，且交汇于一点；当不同数量的光线发射光源的出射光线交汇于一点时，该点的颜色相应不同。2.根据权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，光线发射光源的出射光线的颜色包括红、黄、蓝，或者包括红、绿、蓝。3.根据权利要求1所述的平面度检测装置，其特征在于，多个光线发射光源中包括中心光源、倾斜光源；所述中心光源发出垂直于检测平面的光线；所述倾斜光源发出与检测平面形成夹角的光线。4.根据权利要求3所述的平面度检测装置，其特征在于，包括：环形灯架、灯架结构；所述中心光源设置在环形灯架的几何中心；所述倾斜光源设置在环形灯架的环形结构上；环形灯架连接在灯架结构上。5.根据权利要求4所述的平面度检测装置，其特征在于，倾斜光源通过角度调整机构滑配于环形灯架的环槽。6.一种平面度检测方法，其特征在于，令多个光线发射光源照射检测平面，光线发射光源在检测平面上形成光点；所述多个光线发射光源的出射光线的颜色不同，并从不同角度射向检测表面，且交汇于一点；当不同数量的光线发射光源的出射光线交汇于一点时，该点的颜色不同。7.根据权利要求6所述的平面度检测方法，其特征在于，光线发射光源的出射光线的颜色包括红、黄、蓝，或者包括红、绿、蓝；多个光线发射光源中包括中心...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡剑峰，张贻启，魏海旭，王先衬，秦洪远，吴鑫锐，郑印，郝玉，黄国亮，周涛，
申请(专利权)人：上海复合材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：