【技术实现步骤摘要】
一种低寄生电感的Si
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SiC功率集成模块
[0001]本专利技术涉及半导体
,特别是涉及一种低寄生电感的Si
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SiC功率集成模块。
技术介绍
[0002]功率集成模块将整流电路、制动电路和逆变电路等封装在同一个模块中,以满足大电流、高功率的应用要求,并且具有体积小、重量轻、开关损耗低等优点,近年来受到了广泛的关注。随着第三代半导体的发展,功率模块中采用碳化硅(SiC)器件代替硅(Si)器件能够提高功率密度、减小功率损耗。当然同时也对功率集成模块的封装技术提出了更高的要求。胡娟等在中国专利申请202110426392.8中通过采用碳化硅基SBD芯片替代逆变电路中的硅基FRD芯片,增大了Si
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SiC功率集成模块内部的布局空间,采用Cu/GN异质薄膜代替局部键合线的方式,将大功率PIM中斩波电路IGBT芯片的局部热量通过上下两条热传导路径散发,降低芯片上的局部热点温度;同时将石墨烯均匀地添加到环氧树脂中作为灌封材料,从而减小大功率PIM从芯片到环境的整体热阻,提升散热效率。碳化硅基功率半导体器件开关频率不断提高,导致器件寄生参数的影响增大、开关损耗增大、EMI增加。在器件开和关的瞬间寄生电感将会产生较大的电压,与器件本身的电压或电流叠加,从而影响器件的正常工作状态,同时导致EMI增加,从而会加速器件的老化,甚至引起器件失效,同时寄生参数的存在也加大了器件的损耗。
[0003]为了减小功率模块由封装带来的寄生电感,并维持传统封装结构易于加工的特点,本专 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种低寄生电感的Si
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SiC功率集成模块,包括制作在覆铜陶瓷基板(11)上的三相逆变电路(1)、制动电路(2)和三相整流电路(3),所述三相逆变电路(1)包括六个硅基IGBT芯片和六个碳化硅SBD芯片,一个硅基IGBT芯片和一个碳化硅SBD芯片构成一组,共六组,两组构成一相电路,共三相,分别称为U相、V相和W相,每相中的上下组分别称为上桥臂和下桥臂;制动电路(2)包括一个硅基IGBT芯片和硅基FRD芯片;三相整流电路(3)包括六个硅基整流二极管,两两一组构成三相,每组分成上臂和下臂,三相的上臂三个硅基整流二极管阴极连接在一起构成共阴极组,三相的下臂三个硅基整流二极管阳极连接在一起构成共阳极组;其特征在于,覆铜陶瓷基板(11)表面刻蚀有若干铜基板作为布线层,其中一部分铜基板上焊接有引脚电极作为引线框架;所述三相逆变电路(1)中,U、V、W每相都有专门的直流母线引脚电极,上桥臂焊接在同一个铜基板上,引出三组引脚电极,外接直流电压源的正极,下桥臂焊接在三个不同的铜基板上,各相通过键合线分别连到三个不同的引线框架铜基板上,分别引出三组引脚电极,外接直流电压源的负极;所述制动电路(2)中的硅基FRD芯片的阴极焊接在三相逆变电路(1)上桥臂所在的铜基板上,靠近U相上桥臂芯片,并且与U相上桥臂共用同一个引脚电极外接直流电压源的正极;制动电路(2)中的硅基IGBT芯片的集电极焊接在另一个铜基板上,该铜基板与硅基FRD芯片的阳极通过键合线相连并且引出制动电路(2)输出引脚电极;制动电路(2)中的硅基IGBT芯片的发射极旁设有一个外接直流电压源负极的引线框架铜基板(9),硅基IGBT芯片的发射极与该外接直流电压源负极的引线框架铜基板(9)之间采用一个铜片(10)连接。2.根据权利要求1所述的低寄生电感的Si
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SiC功率集成模块,其特征在于:所述覆铜陶瓷基板(11)上从左到右依次排布三相逆变电路(1)、制动电路(2)和三相整流电路(3)。3.根据权利要求2所述的低寄生电感的Si
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SiC功率集成模块,其特征在于:所述三相逆变电路(1)中U、V、W三相上桥臂的三个硅基IGBT芯片的集电极和三个碳化硅基SBD芯片的阴极焊接在同一个铜基板上,三组芯片从左到右并排排列,布局一致,其中三个硅基IGBT芯片位于靠近覆铜陶瓷基板(11)上边缘一侧,且IGBT芯片的栅极朝外,三个碳化硅基SBD芯片对应在三个硅基IGBT芯片下方等间距处,在三个碳化硅基SBD芯片右侧铜基板上分别引出三组引脚电极,作为U、V、W三相的直流电压源正极引脚,引脚电极一组两个;上桥臂三个IGBT芯片的发射极和三个碳...
【专利技术属性】
技术研发人员:周云艳,胡娟,鲍婕,芦莎,孙太明,赵年顺,汪礼,刘梓灿,刘永辉,
申请(专利权)人:黄山学院,
类型:发明
国别省市:
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