【技术实现步骤摘要】
一种基于EDA的图形用户界面的测试系统
[0001]本专利技术涉及电子设计自动化
,特别是涉及一种基于EDA的图形用户界面的测试系统。
技术介绍
[0002]电子设计自动化(Electronic design automation,EDA)是设计大规模集成电路必备的工具,也被称为EDA工具。EDA工具与IP、工艺制程等深度耦合,使EDA工具不断更新,如果需要基于行业先进技术进行集成电路设计,就需要将所使用的EDA工具更新到最新版本。
[0003]EDA每次更新都需要将图形用户界面的全部功能进行测试,全部功能包括未更新的功能和更新的功能,功能测试依赖于测试工程师的人工测试,由于更新前后大多数的测试对象、测试用例与测试步骤和软件更新前相同,导致测试工程师重复劳动,并且无法保证测试的效率。
技术实现思路
[0004]针对上述技术问题,本专利技术采用的技术方案为:一种基于EDA的图形用户界面的测试系统,所述系统包括数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器,所述数据库包括图形用户界面中N个测试项的标准测试命令文件CON和每个测试项的标准测试结果文件REP,其中:CON={con1,con2,
…
,con
i
,
…
,con
N
},con
i
={com
i,1
,com
i,2
,
…
,com
i,j
,
…
,com
i,
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于EDA的图形用户界面的测试系统,其特征在于,所述系统包括数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器,所述数据库包括图形用户界面中N个测试项的标准测试命令文件CON和每个测试项的标准测试结果文件REP,其中:CON={con1,con2,
…
,con
i
,
…
,con
N
},con
i
={com
i,1
,com
i,2
,
…
,com
i,j
,
…
,com
i,J(i)
},con
i
为记录第i个测试项的标准测试动作对应的标准测试命令文件,com
i,j
为con
i
中按照标准测试动作的执行顺序记录的第j个标准测试动作的标准测试命令,j的取值范围为1到J(i),J(i)的函数值为大于0的整数,i的取值范围为1到N,N为大于0的整数;REP={rep1,rep2,
…
,rep
i
,
…
,rep
N
},rep
i
={res
i,1
,res
i,2
,
…
,res
i,j
,
…
,res
i,J(i)
},rep
i
为第i个测试项的标准测试结果文件;res
i,j
为com
i,j
的标准测试结果;当所述计算机程序被处理器执行时,实现以下步骤:S200,根据CON中的N个标准测试命令文件对待测的图形用户界面进行测试,得到N个当前测试结果文件RREP={rrep1,rrep2,
…
,rrep
i
,
…
,rrep
N
},其中rrep
i
为con
i
的当前测试结果文件,rrep
i
={rres
i,1
,rres
i,2
,
…
,rres
i,j
,
…
,rres
i,J(i)
},rres
i,j
为com
i,j
的当前测试结果;S400,将RREP与REP进行比对,得到N个比对结果文件IDE={ide1,ide2,
…
,ide
i
,
…
,ide
N
},ide
i
={sam
i,1
,sam
i,2
,
…
,sam
i,j
,<...
【专利技术属性】
技术研发人员:匡彦杰,
申请(专利权)人:上海合见工业软件集团有限公司,
类型:发明
国别省市:
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