本实用新型专利技术涉及电测试装置领域，尤其涉及一种电子元件放置盘及通电测试装置，包括：放料盘及测试盘，所述放料盘包括限位盘和底盘，所述限位盘底部设置有连接块，所述底盘上开设有第一连接孔，所述限位盘和底盘之间通过连接块配合第一连接孔拼接，所述限位盘上设置有放料槽，所述放料槽内底部设置有针脚限位孔，所述测试盘上设置有测试工位，所述测试工位与放料槽位置数量对应，所述测试工位上设置有针脚孔，所述测试工位上设置有针脚孔与放料槽内设置的针脚限位孔的孔位置对应；通过测试工位对放置盘放料槽内的电子元件进行通电测试，可以整盘进行通电测试，测试效率高，且不要对电子元件进行拿取，降低了作业人员的工作效率。降低了作业人员的工作效率。降低了作业人员的工作效率。
【技术实现步骤摘要】
一种电子元件放置盘及通电测试装置
[0001]本技术涉及电测试装置领域，尤其涉及一种电子元件放置盘及通电测试装置。
技术介绍
[0002]电子元件是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。
[0003]电子元件在出厂前需要进行通电测试，而现有通电测试需要作业人员拿取电子元件，并对拿取的单独对电子元件进行测试，难以成批次的进行测试，测试效率低。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是最接近的现有技术。
技术实现思路
[0005]本技术所要解决的技术问题是提供一种通电测试效率高的电子元件放置盘及通电测试装置。
[0006]为达到所述目的，本技术的技术方案是这样实现的，包括：放料盘及测试盘，所述放料盘包括限位盘和底盘，所述限位盘底部设置有连接块，所述底盘上开设有第一连接孔，所述限位盘和底盘之间通过连接块配合第一连接孔拼接，所述限位盘上设置有放料槽，所述放料槽内底部设置有针脚限位孔，所述测试盘上设置有测试工位，所述测试工位与放料槽位置数量对应，所述测试工位上设置有针脚孔，所述测试工位上设置有针脚孔与放料槽内设置的针脚限位孔的孔位置对应。
[0007]进一步地，所述测试盘两侧设置有电源线，所述测试工位上的针脚孔外部设置有通电底座，所述通电底座底部连接有通电线，所述通电线一侧连接有连接线，所述连接线连接电源线。
[0008]进一步地，所述连接块内开设有伸缩槽，所述伸缩槽内活动连接有弧形卡块，所述弧形卡块与伸缩槽底壁之间安装有复位弹簧。
[0009]进一步地，所述测试盘顶部两侧开设有第二连接孔，所述第一连接孔与第二连接孔均为L形，所述底盘两侧设置有第一推杆，所述第一推杆内侧活动设置于第一连接孔内，所述测试盘两侧设置有第二推杆，所述第二推杆内侧活动设置于第二连接孔内。
[0010]进一步地，所述针脚孔顶部呈上大下小的漏斗形。
[0011]进一步地，所述底盘上设置有放置槽。
[0012]本技术的有益效果体现在：
[0013]本技术，通过放料盘拆分式的设计，配合测试盘进行使用，在需要对电子元件进行测试时，只需将放料盘拆分为限位盘和底盘，并将放料盘及放置盘放料槽内的电子元件与测试盘拼接，通过测试工位对放置盘放料槽内的电子元件进行通电测试，可以整盘进行通电测试，测试效率高，且不要对电子元件进行拿取，降低了作业人员的工作效率。
附图说明
[0014]图1为本技术提供的放料盘的立体结构示意图；
[0015]图2为本技术提供的限位盘和测试盘的结构示意图；
[0016]图3为本技术提供的限位盘和测试盘的结构示意图；
[0017]图4为图2提供的限位盘和测试盘的剖视图；
[0018]图5为图3提供的限位盘和测试盘的剖视图；
[0019]图6为图4提供的A处放大示意图；
[0020]图7为图5提供的B处放大示意图。
[0021]附图标记说明：
[0022]1、放料盘；11、限位盘；111、放料槽；1111、针脚限位孔；112、连接块；1121、伸缩槽；1122、弧形卡块；1123、复位弹簧；12、底盘；121、放置槽；122、第一连接孔；123、第一推杆；2、测试盘；21、测试工位；211、针脚孔；212、通电底座；213、通电线；22、第二连接孔；23、第二推杆；24、电源线；25、连接线。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]参见图1至图7：
[0025]本技术一种电子元件放置盘及通电测试装置，包括：放料盘1及测试盘2，所述放料盘1包括限位盘11和底盘12，所述限位盘11底部设置有连接块112，所述底盘12上开设有第一连接孔122，所述限位盘11和底盘12之间通过连接块112配合第一连接孔122拼接，所述限位盘11上设置有放料槽111，所述放料槽111内底部设置有针脚限位孔1111，所述测试盘2上设置有测试工位21，所述测试工位21与放料槽111位置数量对应，所述测试工位21上设置有针脚孔211，所述测试工位21上设置有针脚孔211与放料槽111内设置的针脚限位孔1111的孔位置对应；
[0026]具体实施中，在作业时将电子元件放置在放料盘1内，在需要对放料盘1内的电子元件进行通电测试时，将放料盘1拆分为限位盘11和底盘12，通过限位盘11带着电子元件放置与测试盘2进行拼接，而电子元件的针脚进入测试工位21上的针脚孔211内，通过测试工位21对电子元件进行通电测试，可以同时对限位盘11上的电子元件进行通电测试，测试效率高。
[0027]本技术，所述测试盘2两侧设置有电源线24，所述测试工位21上的针脚孔211外部设置有通电底座212，所述通电底座212底部连接有通电线213，所述通电线213一侧连接有连接线25，所述连接线25连接电源线24；这样设计，通过通电底座212对针脚孔211内放置的电子元件针脚进行通电测试，而通过针脚孔211提供测试盘2在通电测试时需要的电源。
[0028]本技术，所述连接块112内开设有伸缩槽1121，所述伸缩槽1121内活动连接有
弧形卡块1122，所述弧形卡块1122与伸缩槽1121底壁之间安装有复位弹簧1123；这样设计，限位盘11通过连接块112和弧形卡块1122与底盘12和测试盘2之间进行连接，且在连接锁合的同时，便于分离。
[0029]本技术，所述测试盘2顶部两侧开设有第二连接孔22，所述第一连接孔122与第二连接孔22均为L形，所述底盘12两侧设置有第一推杆123，所述第一推杆123内侧活动设置于第一连接孔122内，所述测试盘2两侧设置有第二推杆23，所述第二推杆23内侧活动设置于第二连接孔22内；这样设计，在连接块112位于第一连接孔122或第二连接孔22内时，需要与放料盘1之间进行拆分时，通过第一推杆123或者第二推杆23挤压弧形卡块1122进入伸缩槽1121内，随后将连接块112从第一连接孔122或第二连接孔22内取出，完成与放料盘1之间的拆分。
[0030]本技术，所述针脚孔211顶部呈上大下小的漏斗形；这样设计，便于电子元件针脚进入针脚孔211内。
[0031]本技术，所述底盘12上设置有放置槽121；这样设计，放置槽121用于放置电子元件针脚部分。
[0032]以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同更换、改进等，均本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，包括：放料盘(1)及测试盘(2)，所述放料盘(1)包括限位盘(11)和底盘(12)，所述限位盘(11)底部设置有连接块(112)，所述底盘(12)上开设有第一连接孔(122)，所述限位盘(11)和底盘(12)之间通过连接块(112)配合第一连接孔(122)拼接，所述限位盘(11)上设置有放料槽(111)，所述放料槽(111)内底部设置有针脚限位孔(1111)，所述测试盘(2)上设置有测试工位(21)，所述测试工位(21)与放料槽(111)位置数量对应，所述测试工位(21)上设置有针脚孔(211)，所述测试工位(21)上设置有针脚孔(211)与放料槽(111)内设置的针脚限位孔(1111)的孔位置对应。2.根据权利要求1所述的电子元件放置盘及通电测试装置，其特征在于，所述测试盘(2)两侧设置有电源线(24)，所述测试工位(21)上的针脚孔(211)外部设置有通电底座(212)，所述通电底座(212)底部连接有通电线(213)，所述通电线(213)一侧连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄万雄，
申请(专利权)人：湖北高成光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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