光感检测方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本公开是关于一种光感检测方法、装置及存储介质。该方法应用于具有卷轴屏的电子设备，包括：确定所述卷轴屏的当前状态信息，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，其中，所述目标环境光强用于指示所述电子设备调节所述卷轴屏的屏幕亮度。本公开可以根据卷轴屏的不同状态信息，选定对应的检测策略来进行光感检测，保证不同状态下都能准确快速地确定目标环境光强，从而能够调节合适的屏幕亮度，降低电子设备的使用功耗，增加待机时长，提高用户体验。提高用户体验。提高用户体验。

【技术实现步骤摘要】
光感检测方法、装置及存储介质


[0001]本公开涉及计算机
，尤其涉及一种光感检测方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]电子设备正在往多形态发展，随着目前的全面屏移动设备发展创新甚微，电子设备逐渐向着其它方向发展，比如折叠，卷轴等形态，卷轴在合上时和正常的电子设备一样，在卷轴伸展和合上过程中则会随着屏幕移动而变化，卷轴屏的背光显示区域大小会发生变化，导致无法准确检测外界光强。因此，如何在卷轴屏伸展和合上过程中准确地进行光感检测成为技术人员研究的问题。

技术实现思路

[0003]为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种光感检测方法、装置及存储介质。
[0004]根据本公开实施例的第一方面，提供一种光感检测方法，应用于具有卷轴屏的电子设备，包括：
[0005]确定所述卷轴屏的当前状态信息；
[0006]控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强；
[0007]其中，所述目标环境光强用于指示所述电子设备调节所述卷轴屏的屏幕亮度。
[0008]在一些实施例中，所述控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：
[0009]在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强；
[0010]其中，所述第一状态包括：接收到用于启动所述卷轴屏的卷轴功能的推动指令之后，且接收到用于停止所述卷轴屏的卷轴功能的终止指令之前的运动状态，所述当前状态信息至少包括：所述电子设备进行光感采样的当前采样频率。
[0011]在一些实施例中，所述在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：
[0012]在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率大于预设采样阈值的情况下，根据采集到的光感强度和预测得到的漏光强度，得到所述目标环境光强。
[0013]在一些实施例中，所述在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：
[0014]在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率小于或者等于预设采样阈值的情况下，根据所述当前采样频率，调整所述卷轴屏的卷动速度；
[0015]在所述卷轴屏的卷动速度调整之后，根据采集到的光感强度和预测得到的漏光强
度，得到所述目标环境光强。
[0016]在一些实施例中，所述根据所述当前采样频率，调整所述卷轴屏的卷动速度，包括：
[0017]根据所述当前采样频率和预设的第一映射关系，确定与所述当前采样频率对应的目标卷动速度；其中，所述第一映射关系用于表征采样频率与卷动速度之间的关联关系；
[0018]将所述卷轴屏的卷动速度调整至所述目标卷动速度。
[0019]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0020]确定所述卷轴屏的刷新频率和预设通道波长；
[0021]通过数值模型对所述刷新频率和所述预设通道波长进行预测处理，得到所述卷轴屏对应的漏光强度。
[0022]在一些实施例中，所述在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：
[0023]在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率小于或者等于预设采样阈值的情况下，基于预设时间间隔对所述卷轴屏的当前显示画面进行插帧处理；
[0024]将在进行插帧处理的过程中采集的光感强度确定为所述目标环境光强。
[0025]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0026]在所述卷轴屏进入至第二状态的情况下，停止光感检测，并对采集到的光感强度进行删除处理；
[0027]其中，所述第二状态包括：接收到用于启动所述卷轴屏的卷轴功能的推动指令之前，或者用于停止所述卷轴屏的卷轴功能的终止指令之后的静止状态。
[0028]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0029]采集所述卷轴屏在重启时刻的光感强度，将所述重启时刻的光感强度确定为目标环境光强；或者
[0030]将预设的标准光强确定为所述目标环境光强；
[0031]其中，所述重启时刻包括：检测到针对所述卷轴屏的重启指令的时刻。
[0032]根据本公开实施例的第二方面，提供一种光感检测装置，应用于具有卷轴屏的电子设备，包括：
[0033]确定模块，配置为确定所述卷轴屏的当前状态信息；
[0034]控制模块，配置为控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强；其中，所述目标环境光强用于指示所述电子设备调节所述卷轴屏的屏幕亮度。
[0035]在一些实施例中，所述控制模块，配置为：
[0036]在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强；
[0037]其中，所述第一状态包括：接收到用于启动所述卷轴屏的卷轴功能的推动指令之后，且接收到用于停止所述卷轴屏的卷轴功能的终止指令之前的运动状态，所述当前状态信息至少包括：所述电子设备进行光感采样的当前采样频率。
[0038]在一些实施例中，所述控制模块，配置为：
[0039]在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率大于预设采样阈值的情况下，根据采集到的光感强度和预测得到的漏光强度，得到所述目标环境光强。
[0040]在一些实施例中，所述控制模块，配置为：
[0041]在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率小于或者等于预设采样阈值的情况下，根据所述当前采样频率，调整所述卷轴屏的卷动速度；
[0042]在所述卷轴屏的卷动速度调整之后，根据采集到的光感强度和预测得到的漏光强度，得到所述目标环境光强。
[0043]在一些实施例中，所述控制模块，配置为：
[0044]根据所述当前采样频率和预设的第一映射关系，确定与所述当前采样频率对应的目标卷动速度；其中，所述第一映射关系用于表征采样频率与卷动速度之间的关联关系；
[0045]将所述卷轴屏的卷动速度调整至所述目标卷动速度。
[0046]在一些实施例中，所述装置还包括：
[0047]第二确定模块，配置为确定所述卷轴屏的刷新频率和预设通道波长；
[0048]预测模块，配置为通过数值模型对所述刷新频率和所述预设通道波长进行预测处理，得到所述卷轴屏对应的漏光强度。
[0049]在一些实施例中，所述控制模块，配置为：
[0050]在所述卷轴屏处于所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光感检测方法，其特征在于，应用于具有卷轴屏的电子设备，所述方法包括：确定所述卷轴屏的当前状态信息；控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强；其中，所述目标环境光强用于指示所述电子设备调节所述卷轴屏的屏幕亮度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强；其中，所述第一状态包括：接收到用于启动所述卷轴屏的卷轴功能的推动指令之后，且接收到用于停止所述卷轴屏的卷轴功能的终止指令之前的运动状态，所述当前状态信息至少包括：所述电子设备进行光感采样的当前采样频率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率大于预设采样阈值的情况下，根据采集到的光感强度和预测得到的漏光强度，得到所述目标环境光强。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在确定所述卷轴屏处于第一状态的情况下，控制所述电子设备按照与所述当前状态信息对应的目标检测策略，对所述卷轴屏进行光感检测，得到目标环境光强，包括：在所述卷轴屏处于所述第一状态，且所述当前采样频率小于或者等于预设采样阈值的情况下，根据所述当前采样频率，调整所述卷轴屏的卷动速度；在所述卷轴屏的卷动速度调整之后，根据采集到的光感强度和预测得到的漏光强度，得到所述目标环境光强。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前采样频率，调整所述卷轴屏的卷动速度，包括：根据所述当前采样频率和预设的第一映射关系，确定与所述当前采样频率对应的目标卷动速度；其中，所述第一映射关系用于表征采样频率与卷动速度之间的关联关系；将所述卷轴屏的卷动速度调...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈朝喜，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：