本实用新型专利技术提供了一种砝码检定、校准装置，包括工作台，工作台上包括平行并列设置的砝码组和传送装置，砝码组和传送装置的两侧分别设置有具有不同测量量程及测量精度的第一称量天平和第二称量天平；砝码组包括砝码支架和设置于砝码支架上的待测量砝码和/或校准砝码；传送装置包括驱动装置、六轴机器人和加载头，驱动装置适于驱动六轴机器人沿砝码组摆放的方向往复运动，六轴机器人适于驱动加载头将待测量砝码和/或校准砝码在砝码支架与第一称量天平和/或第二称量天平之间传送。本实用新型专利技术通过砝码组、传送装置、第一称量天平和第二称量天平围合形成供加载头往复移动及转向的传送区，缩短了加载头的传送距离，提高了砝码加载装置的空间利用率。加载装置的空间利用率。加载装置的空间利用率。
【技术实现步骤摘要】
一种砝码检定、校准装置
[0001]本技术属于测量
，尤其涉及一种砝码检定、校准装置。
技术介绍
[0002]砝码是具有给定质量和规定形状的实物量具。为了保证砝码具有精确的质量，需要对砝码进行反复的校准，传统的人工校准容易出现偏载误差等等情况，费时费力，同时加载范围较小。而传统砝码自动加载装置的中一般将砝码组与校准仪/称量天平并排设置，在通过传送臂实现待测量砝码的传送，若是增大砝码组的数量，必然造成传送臂的传送距离随之增大，降低传送效率。此外，单个校准仪/称量天平的称量范围与称量精度有限，难以满足所有规格的砝码的称量需求。
技术实现思路
[0003]针对上述现有技术的缺陷，本技术的目的在于提供一种砝码检定、校准装置，以满足用户的需求。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了一种砝码检定、校准装置，包括
[0005]工作台，工作台的上方形成有加载空间，工作台的下方形成有基座空间；
[0006]砝码组，其设置于工作台，砝码组包括砝码支架和设置于砝码支架上的待测量砝码和/或校准砝码；
[0007]第一称量天平和第二称量天平，其适于测量待测量砝码，第一称量天平和第二称量天平分别设置于砝码组的左右两侧，第一称量天平与第二称量天平具有不同的测量量程及测量精度；
[0008]传送装置，其平行于砝码组设置，传送装置包括驱动装置、六轴机器人和加载头，驱动装置包括适于驱动六轴机器人沿砝码组摆放的方向往复运动的平移电缸，加载头转动连接于六轴机器人，加载头包括加载臂和分别设于加载臂两端的第一接送梳齿和第二接送梳齿，六轴机器人适于驱动第一接送梳齿和/或第二接送梳齿将待测量砝码和/或校准砝码在砝码支架与第一称量天平和/或第二称量天平之间传送。
[0009]作为优选的：平移电缸与砝码组之间的距离为加载臂长度的1.2～1.5倍，第一称量天平与第二称量天平之间的距离为六轴机器人的工作范围的 1.5～2.0倍。
[0010]作为优选的：六轴机器人包括依次末端转轴连接的基座、一轴、二轴、三轴、四轴、五轴和六轴，基座设置在平移电缸上，六轴连接有转动座，加载头与转动座转动配合。
[0011]作为优选的：平移电缸包括滑轨和滑轨水平滑动配合的滑块，基座固定安装于滑块；基座与一轴之间、一轴与二轴之间、二轴与三轴之间、三轴与四轴之间、四轴与五轴之间和五轴与六轴之间均通过电机驱动进行动作。
[0012]作为优选的：第一称量天平包括第一天平罩和滑动配合第一天平罩的第一导轨，第一天平罩内设置有第一称量台，第一天平罩可沿第一导轨滑动使得第一称量台至少一侧暴露于加载空间，加载头可传送待测量砝码和/ 或校准砝码置于第一称量台；第二称量天
平包括第二天平罩和滑动配合第二天平罩的第二导轨，第二天平罩内设置有第二称量台，第二天平罩可沿第二导轨滑动使得第二称量台至少一侧暴露于加载空间，加载头可传送待测量砝码和/或校准砝码置于第二称量台。
[0013]作为优选的：第一天平罩和第二天平罩分别连通有压强平衡器，压强平衡器包括电动阀和配套设置的监测控制单元，监测控制单元其适于通过控制电动阀的启闭实现测量时第一天平罩、第二天平罩的内、外压强保持相同状态。
[0014]作为优选的：第一称量天平包括适于支撑其的第一天平支架，第一天平支架上方支撑有第一天平配重平台，第一称量天平设于第一天平配重平台的上方；第二称量天平包括适于支撑其的第二天平支架，第二天平支架上方支撑有第二天平配重平台，第二称量天平设于第二天平配重平台的上方。
[0015]作为优选的：砝码组、第一称量天平、第二称量天平和传送装置安装于加载空间；第一天平支架、第一天平配重平台、第二天平支架和第二天平配重平台隐藏于基座空间。
[0016]作为优选的：砝码支架包括第一砝码支架和第二砝码支架，第二砝码支架垂直设置于第一砝码支架的一侧；第一砝码支架包括多组第一承载支架，第一承载支架包括从上往下依次呈阶梯状排列的毫克级承载支架、十毫克级承载支架、百毫克级承载支架、克级承载支架、十克级承载支架、百克级承载支架，第二砝码支架包括若干组千克级承载支架。
[0017]作为优选的：每一第一承载支架包括四列承载梳齿，和/或，每一千克级承载支架包括一列承载梳齿；
[0018]其中，承载梳齿的长度l1在200mm与250mm之间，和/或，承载梳齿的高度l2在20mm与40mm之间。
[0019]作为优选的：承载梳齿包括若干组并排设置的砝码放置位，相邻的两砝码放置位之间设有隔板，砝码放置位包括若干个间隔设置的工作板，承载梳齿在相邻的工作板之间设有凹槽；
[0020]其中，砝码放置位的宽度l3在38mm与42mm之间；
[0021]和/或，凹槽的宽度l4在1mm与3mm之间；
[0022]和/或，工作板的宽度l5在0.5mm与1.5mm之间。
[0023]作为优选的：每一承载梳齿包括四组砝码放置位，从左至右依次为第一砝码放置位、第二砝码放置位、第三砝码放置位、第四砝码放置位，每一承载梳齿可以同时放置四组砝码，提高测试的工作效率。作为优选的：加载空间包括可视柜体，可视柜体由亚克力材料制成；可视柜体的顶端连接有适于指示砝码检定、校准装置的工作状态的三色指示灯。
[0024]本技术的有益效果是：
[0025](1)通过将砝码组平行对齐设置传送装置，并将第一称量天平和第二称量天平分别设置于砝码组及传送装置的两侧，从而围合形成供加载头往复移动及转向的传送区，缩短了加载头的传送距离，提高了砝码加载装置的空间利用率。
[0026](2)通过在加载臂两侧分别形成第一接送梳齿和第二接送梳齿，使得加载臂能够同时放置两个待测量砝码，从而实现双砝码传送，能够减少将待测量砝码自所述砝码支架传送至所述称量天平的时间，提高砝码检测的效率。
[0027](2)通过设置六轴机器人转动配合加载头，使得加载过程更加灵活性，传送待测量砝码时定位更加精准，同时六轴机器人具有良好的结构强度，从而可以加载重量更大的待
测量砝码。
[0028](3)通过第一天平罩和第二天平罩的设置能够消除外界空气流动对称量的影响，提高天平称量精度；此外，通过设置压强平衡器能够实现测量时天平罩的内、外压强保持相同状态，完全杜绝外界环境对称量的干扰，提高精度。
[0029](4)通过设置承载梳齿，便于机器人平稳托取放置在砝码支架的待测量砝码和标准砝码；同时，每一承载梳齿包括四组砝码放置位，可以同时放置四组砝码，提高测试的工作效率。
[0030](5)通过间隔设置若干个工作板形成砝码放置位，当砝码放置于砝码放置位时，可以保障砝码下端的通风干燥的效果，有利于延长砝码的使用寿命。
附图说明
[0031]图1为本技术提供的一种砝码检定、校准装置(无可视柜体)的结构示意图。
[0032]图2为本技术提供的一种砝码检定、校准装置的内部示意图。
[0033]图3为本实用本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种砝码检定、校准装置，其特征在于，包括，工作台，所述工作台的上方形成有加载空间，所述工作台的下方形成有基座空间；砝码组，其设置于所述工作台，所述砝码组包括砝码支架和设置于所述砝码支架上的待测量砝码和/或校准砝码；第一称量天平和第二称量天平，其适于测量所述待测量砝码，所述第一称量天平和所述第二称量天平分别设置于所述砝码组的左右两侧，所述第一称量天平与所述第二称量天平具有不同的测量量程及测量精度；传送装置，其平行于所述砝码组设置，所述传送装置包括驱动装置、六轴机器人和加载头，所述驱动装置包括适于驱动所述六轴机器人沿所述砝码组摆放的方向往复运动的平移电缸，所述加载头转动连接于所述六轴机器人，所述加载头包括加载臂和分别设于所述加载臂两端的第一接送梳齿和第二接送梳齿，所述六轴机器人适于驱动所述第一接送梳齿和/或第二接送梳齿将所述待测量砝码和/或校准砝码在所述砝码支架与所述第一称量天平和/或所述第二称量天平之间传送。2.根据权利要求1所述的一种砝码检定、校准装置，其特征在于，所述平移电缸与所述砝码组之间的距离为所述加载臂长度的1.2～1.5倍，所述第一称量天平与所述第二称量天平之间的距离为所述六轴机器人的工作范围的1.5～2.0倍。3.根据权利要求1所述的一种砝码检定、校准装置，其特征在于，所述六轴机器人包括依次末端转轴连接的基座、一轴、二轴、三轴、四轴、五轴和六轴，所述基座设置在所述平移电缸上，所述六轴连接有转动座，所述加载头与所述转动座转动配合。4.根据权利要求3所述的一种砝码检定、校准装置，其特征在于，所述平移电缸包括滑轨和所述滑轨水平滑动配合的滑块，所述基座固定安装于所述滑块；所述基座与一轴之间、所述一轴与二轴之间、所述二轴与三轴之间、所述三轴与四轴之间、所述四轴与五轴之间和所述五轴与六轴之间均通过电机驱动进行动作。5.根据权利要求4所述的一种砝码检定、校准装置，其特征在于，所述第一称量天平包括第一天平罩和滑动配合所述第一天平罩的第一导轨，所述第一天平罩内设置有第一称量台，所述第一天平罩可沿所述第一导轨滑动使得所述第一称量台至少一侧暴露于所述加载空间，所述加载头可传送所述待测量砝码和/或所述校准砝码置于所述第一称量台；所述第二称量天平包括第二天平罩和滑动配合所述第二天平罩的第二导轨，所述第二天平罩内设置有第二称量台，所述第二天平罩可沿所述第二导轨滑动使得所述第二称量台至少一侧暴露于所述加载空间，所述加载头可传送所述待测量砝码和/或所述校准砝码置于所述第二称量台。6.根据权利要求5所述的一种砝码检定、校准装置，其特征在于，所述第一天平罩和...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈元杰，陈浩，孔新雄，周博，
申请(专利权)人：浙江省计量科学研究院，
类型：新型
国别省市：
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