一种测量治具制造技术

本实用新型专利技术提供一种测量治具，包括底座和上盖，上盖设置在底座上，上盖的中部开设有检测孔，检测孔贯穿上盖的厚度方向，底座设置有通孔、至少两个第一定位柱和至少两个第二定位柱，通孔与检测孔对应设置，第一定位柱和第二定位柱均凸起于底座的顶面；上盖开设有至少两个第一定位孔和至少两个避让孔，第一定位孔贯穿上盖的厚度方向，第一定位孔与第一定位柱配合连接，避让孔与第二定位柱对应设置。本实用新型专利技术用于测量引线框架的相关尺寸，具有定位准确、测量精度高的优点。确、测量精度高的优点。确、测量精度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种测量治具


[0001]本技术涉及测量治具领域，具体是涉及一种引线框架的测量治具。

技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助与键合材料(金丝、铝丝和铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]引线框架生产需经过冲压、电镀和切片三个工序，生产过程中需对引线框架的关键尺寸进行测量。因引线框架通常都是薄料冲压，且很多部位都非常细小，测量检测过程中极易发生变形问题，所以很难精准测量其数据，容易发生误判现象，造成产品尺寸超差报废，不仅使得产品成品率不高，而且还会造成人力和时间的浪费。
[0004]现有技术中存在一种夹具，包括底板和外框，外框位于底板的上方，与底板通过螺栓连接，引线框架设置在外框和底板之间，外框上开设有多个检测孔，方便显微镜检测位于检测孔内的引线框架部位的尺寸。由于底板和外框通过螺栓连接，不仅导致两者之间的连接精度不高，而且，两者的连接和拆卸均比较麻烦；另外，由于引线框架没有设置定位机构，导正引线框架能在外框和底板之间相对移动，进而导致其位置不够准确。在上述双重因素影响下，很容易会影响数据测量的准确性。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种定位准确、测量精度高的测量治具。
[0006]为了实现上述的目的，本技术提供的一种测量治具，包括底座和上盖，上盖设置在底座上，上盖的中部开设有检测孔，检测孔贯穿上盖的厚度方向，底座设置有通孔、至少两个第一定位柱和至少两个第二定位柱，通孔与检测孔对应设置，第一定位柱和第二定位柱均凸起于底座的顶面；上盖开设有至少两个第一定位孔和至少两个避让孔，第一定位孔贯穿上盖的厚度方向，第一定位孔与第一定位柱配合连接，避让孔与第二定位柱对应设置。
[0007]由上述方案可见，通过设置第一定位柱与第一定位孔配合连接，用于实现上盖和底座的精准定位，通过设置第二定位柱，用于与引线框架上的第二定位孔配合连接，实现底座与引线框架的精准定位，本技术通过双重定位，避免在测量过程中发生位置偏移，有利于提高测量精度，确保测量数据准确性。而且，底座与上盖只需第一定位柱与第一定位孔套接，无需螺栓连接，有利于简化组装工序，具有操作简单、节省时间、提高工作效率的优点。
[0008]进一步的方案是，两个第一定位柱分别设置在底座的对角上，或者，两个第一定位柱均设置在底座的同一侧上。
[0009]进一步的方案是，第二定位柱到底座中线的距离小于第一定位柱到底座中线的距
离。
[0010]进一步的方案是，两个第二定位柱分别设置在通孔的同一侧上，第二定位柱的直径小于第一定位柱的直径，第二定位柱的凸起高度小于第一定位柱的凸起高度，且第二定位柱的顶部设置有尖部。
[0011]由上述方案可见，第二定位柱与引线框架侧边的第二定位孔匹配，通过在第二定位柱上设置尖部，方便引线框架快速套设在第二定位柱上，提高工作效率。
[0012]进一步的方案是，上盖的中部设置有第一凹槽，第一凹槽凹陷于上盖的顶壁，第一凹槽内开设有多个检测孔，多个检测孔纵横排列布置，且相邻两个检测孔之间设置有隔条，所有隔条的底面均处于同一平面内。
[0013]进一步的方案是，上盖在每一横排检测孔上依次标记第一编号，和/或，上盖在每一纵排检测孔上依次标记第二编号。
[0014]进一步的方案是，底座的两侧分别设置有第二凹槽，两侧上的第二凹槽相对设置，第二凹槽同时凹陷于底座的顶面和侧面。
[0015]由上述方案可见，通过设置第二凹槽，方便工作人员从该处握持上盖并取下上盖，方便操作。
附图说明
[0016]图1是本技术实施例的结构图。
[0017]图2是本技术实施例的分解图。
[0018]图3是图2中A处的放大图。
[0019]图4是本技术实施例的俯视图。
[0020]图5是图4中B处的放大图。
[0021]图6是应用本技术实施例进行测量的引线框架的基岛处的示意图。
[0022]以下结合附图及实施例对本技术作进一步说明。
具体实施方式
[0023]参见图1至图3，本实施例提供的一种用于精准定位并固定引线框架3的测量治具，以提高测量准确度，附图中的引线框架3为简化画法，省去了大部分的基岛31。
[0024]该测量治具包括底座1和上盖2，上盖2设置在底座1上，待测量的引线框架3设置在底座1与上盖2之间，利用上盖2的自身重力压紧引线框架3。上盖2的中部开设有多个检测孔21，多个检测孔21纵横排列布置，且每一检测孔21均贯穿上盖2的厚度方向，使得引线框架3的基岛31暴露在该检测孔21内，方便通过显微镜等测量仪器对基岛31的尺寸进行测量，本实施例可用于测量基岛31的高度尺寸。
[0025]底座1设置有至少两个第一定位柱11和至少两个第二定位柱12，本实施例以两个第一定位柱11和两个第二定位柱12为例进行说明。两个第一定位柱11均设置在底座1宽度方向的同一侧上，或者，两个第一定位柱11分别设置在底座1的对角上，本实施例优选为后者。两个第二定位柱12均设置在底座1宽度方向的同一侧上，且第二定位柱12位于第一定位柱11向内一侧，使得第二定位柱12到底座1中线的距离小于第一定位柱11到底座1中线的距离。第一定位柱11和第二定位柱12均凸起于底座1的顶面，第一定位柱11用于定位上盖2，第
二定位柱12用于与引线框架3一侧上的第二定位孔32间隙配合，实现引线框架3的精准定位。底座1的中部开设有多个通孔13，通孔13与检测孔21一一对应设置，通孔13贯穿底座1的厚度方向，用于透光，为基岛31的尺寸测量提供更好的环境条件。
[0026]上盖2开设有至少两个第一定位孔22和至少两个避让孔23，第一定位孔22的数量与第一定位柱11的数量相等，避让孔23的数量与第二定位柱12的数量相等，即本实施例设置有两个第一定位孔22和两个避让孔23。第一定位孔22贯穿上盖2的厚度方向，第一定位孔22与第一定位柱11间隙配合，实现上盖2的精准定位。避让孔23与第二定位柱12对应设置，避让孔23可凹陷于上盖2的底面，或者，避让孔23直接贯穿上盖2的厚度方向，第二定位柱12穿过引线框架3后插装在避让孔23内，避免在组装过程中或在检测过程中，引线框架3发生位置偏移。若在测量治具的组装过程中，引线框架3位置发生偏移，在盖合上盖2时，上盖2的隔条24会直接压合在基岛31上，导致基岛31的高度发生变形，导致不合格率上升。
[0027]在本实施例中，第二定位柱12的直径小于第一定位柱11的直径，第二定位柱12的凸起高度小于第一定位柱11的凸起高度，且第二定位柱12的顶部设置有尖部，方便引线框架3快速套设在第二定位柱12上。
[0028]上盖2的中部还设置有第一凹槽25，第一凹槽25凹陷于上盖2的顶壁，多个检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量治具，包括底座和上盖，所述上盖设置在所述底座上，所述上盖的中部开设有检测孔，所述检测孔贯穿所述上盖的厚度方向，其特征在于：所述底座设置有通孔、至少两个第一定位柱和至少两个第二定位柱，所述通孔与所述检测孔对应设置，所述第一定位柱和所述第二定位柱均凸起于所述底座的顶面；所述上盖开设有至少两个第一定位孔和至少两个避让孔，所述第一定位孔贯穿所述上盖的厚度方向，所述第一定位孔与所述第一定位柱配合连接，所述避让孔与所述第二定位柱对应设置。2.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于：两个所述第一定位柱分别设置在所述底座的对角上，或者，两个所述第一定位柱均设置在所述底座的同一侧上。3.根据权利要求2所述的测量治具，其特征在于：所述第二定位柱到所述底座中线的距离小于所述第一定位柱到所述底座中线的距离。4.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于：两...

【专利技术属性】
技术研发人员：于顺亮，于平，崔红星，
申请(专利权)人：珠海全润科技有限公司，
类型：新型
国别省市：