一种测量治具制造技术

本实用新型专利技术提供一种测量治具，包括底座和上盖，上盖设置在底座上，上盖的中部开设有检测孔，检测孔贯穿上盖的厚度方向，底座设置有通孔、至少两个第一定位柱和至少两个第二定位柱，通孔与检测孔对应设置，第一定位柱和第二定位柱均凸起于底座的顶面；上盖开设有至少两个第一定位孔和至少两个避让孔，第一定位孔贯穿上盖的厚度方向，第一定位孔与第一定位柱配合连接，避让孔与第二定位柱对应设置。本实用新型专利技术用于测量引线框架的相关尺寸，具有定位准确、测量精度高的优点。确、测量精度高的优点。确、测量精度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种测量治具


[0001]本技术涉及测量治具领域，具体是涉及一种引线框架的测量治具。

技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助与键合材料(金丝、铝丝和铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]引线框架生产需经过冲压、电镀和切片三个工序，生产过程中需对引线框架的关键尺寸进行测量。因引线框架通常都是薄料冲压，且很多部位都非常细小，测量检测过程中极易发生变形问题，所以很难精准测量其数据，容易发生误判现象，造成产品尺寸超差报废，不仅使得产品成品率不高，而且还会造成人力和时间的浪费。
[0004]现有技术中存在一种夹具，包括底板和外框，外框位于底板的上方，与底板通过螺栓连接，引线框架设置在外框和底板之间，外框上开设有多个检测孔，方便显微镜检测位于检测孔内的引线框架部位的尺寸。由于底板和外框通过螺栓连接，不仅导致两者之间的连接精度不高，而且，两者的连接和拆卸均比较本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量治具，包括底座和上盖，所述上盖设置在所述底座上，所述上盖的中部开设有检测孔，所述检测孔贯穿所述上盖的厚度方向，其特征在于：所述底座设置有通孔、至少两个第一定位柱和至少两个第二定位柱，所述通孔与所述检测孔对应设置，所述第一定位柱和所述第二定位柱均凸起于所述底座的顶面；所述上盖开设有至少两个第一定位孔和至少两个避让孔，所述第一定位孔贯穿所述上盖的厚度方向，所述第一定位孔与所述第一定位柱配合连接，所述避让孔与所述第二定位柱对应设置。2.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于：两个所述第一定位柱分别设置在所述底座的对角上，或者，两个所述第一定位柱均设置在所述底座的同一侧上。3.根据权利要求2所述的测量治具，其特征在于：所述第二定位柱到所述底座中线的距离小于所述第一定位柱到所述底座中线的距离。4.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于：两...

【专利技术属性】
技术研发人员：于顺亮，于平，崔红星，
申请(专利权)人：珠海全润科技有限公司，
类型：新型
国别省市：