一种便于测量内径以及螺纹的结构制造技术

本发明专利技术涉及螺纹检测技术领域。一种便于测量内径以及螺纹的结构，包括工作台，所述的工作台上设有可以调节位置的托举结构，托举结构上可以放置轴类的零件，工作台上一侧设有与托举结构不同调节方向的检测台，检测台上设有内径检测结构与螺纹检测结构，内径检测结构与螺纹检测结构、托举结构配合对轴类件进行内径以及内螺纹的检测。本发明专利技术提供了一种可以自动测量轴类件的中径以及内螺纹数据，检测效率高且准确性高的一种便于测量内径以及螺纹的结构；解决了现有技术中存在的螺纹检测结构单一，手动测量效率低，测量结果误差较大的技术问题。测量结果误差较大的技术问题。测量结果误差较大的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种便于测量内径以及螺纹的结构


[0001]本专利技术涉及螺纹检测
，尤其涉及一种便于测量内径以及螺纹的结构。

技术介绍

[0002]螺纹检测需要测量螺纹的中径、螺距和牙形半角等参数；常用的圆柱螺纹中径测量方法有:一是用螺纹千分尺测量，二是把3个具有相同直径的圆柱体放在螺纹牙槽中，然后根据精度要求用千分尺、比较仪或测长仪(见测长机)测出Μ值，计算后即可得出被测螺纹中径值d1，三是在工具显微镜上用影象法测量；传统的测量方法测量时间久，效率低且准确性不高。
[0003]如申请号：CN201120284719.4，申请日为2011年08月08日的中国专利：内螺纹千分尺，其组成包括：可换测头、弯头测杆、传动轴、支撑套筒、微分筒及调节旋钮、尺身和专用于数显内螺纹千分尺的数显装置；其特征是：可换测头和分别安装在固定弯头测杆和移动弯头测杆上，固定弯头测杆与尺身连接，移动弯头测杆与支撑套筒和传动轴连接，传动轴与微分筒和调节旋钮连接，支撑套筒与尺身和微分筒连接，专用于数显内螺纹千分尺的尺身上设有数显装置。此技术中的内螺纹千分尺需要手动测量，测量数据误差较大且检测效率低，因此具有改进的必要。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种可以自动测量轴类件的中径以及内螺纹数据，检测效率高且准确性高的一种便于测量内径以及螺纹的结构；解决了现有技术中存在的螺纹检测结构单一，手动测量效率低，测量结果误差较大的技术问题。
[0005]本专利技术的上述技术问题是通过下述技术方案解决的：一种便于测量内径以及螺纹的结构，包括工作台，所述的工作台上设有可以调节位置的托举结构，托举结构上可以放置轴类的零件，工作台上一侧设有与托举结构不同调节方向的检测台，检测台上设有内径检测结构与螺纹检测结构，内径检测结构与螺纹检测结构、托举结构配合对轴类件进行内径以及内螺纹的检测。工作时轴类件放置在托举结构上，托举结构可以纵向移动，检测台可以水平方向移动，先控制托举结构上升至与内径检测结构等高的位置，然后控制检测台向靠近轴类件的方向移动，然后内径检测结构将轴类件的内径数据测出，检测台退会初始位置，然后控制托举结构在再次上升，直至与螺纹检测结构等高的位置，然后控制检测台再次向靠近轴类件的方向移动，螺纹检测结构伸入轴类件内部测量螺纹数据，然后将轴类件的内径以及螺纹数据整合确认，避免了传统测量螺纹通过螺纹千分尺或单独通过激光测量时数据不准确的情况。
[0006]作为优选，所述的托举结构包括可以纵向移动的托举平台，托举平台上设有若干个向内凹陷的支撑架。托举平台上间隔设有若干个支撑架，这样可以保证支撑架同步上升或下降，避免由于支撑架上升或下降时不在同一水平线上导致轴类件倾斜，进而导致测量轴类件的内径与螺纹数据不准确的情况，向下凹陷的支撑架可以更稳定的制成轴类件，防
止轴类件在上升或下降时晃动。
[0007]作为优选，所述的内径检测结构包括检测台上靠近托举结构的一侧设有2个相对移动的检测杆。2个检测杆相对运动，检测内径时同时向两侧扩张，测量结束后向内聚拢。
[0008]作为优选，所述的每个检测杆的外侧均固定设有检测针。相比于检测杆与轴类件的内壁接触测量，检测针与轴类件的内壁接触测量内径的结果会更加精准。
[0009]作为优选，所述的螺纹检测结构包括固定在检测杆上方的激光探头。激光探头的作用是检测轴类件的内螺纹数据，激光探头通过棱镜折射等方法测量螺纹的中径、螺距等数据，激光探头为现有的激光检测设备，本文不再冗余说明。
[0010]作为优选，所述的工作台上水平方向设有2条滑轨，工作台上设有可以带动检测台沿滑轨滑动的驱动件。滑轨为检测台的移动起到导向的作用，驱动件带动检测台沿滑轨往复移动。
[0011]作为优选，所述的工作台内设有驱动电机，驱动电机驱动托举结构纵向往复移动。驱动电机的作用是驱动托举结构纵向往复运动。
[0012]因此，本专利技术的一种便于测量内径以及螺纹的结构具备下述优点：可以自动检测轴类件的中径以及内螺纹，检测效率高，测量数据准确误差小。
附图说明
[0013]图1是本专利技术的一种便于测量内径以及螺纹的结构的立体图。
[0014]图2是图1的俯视结构示意图。
[0015]图3是图1的左视剖视结构示意图。
[0016]图4是图2中A处放大图。
[0017]图5是图3中B处放大图。
[0018]图中，工作台1，滑轨2，检测台3，驱动件4，检测杆5，检测针6，激光探头7，托举平台8，驱动电机9，支撑架10，轴类件11。
具体实施方式
[0019]下面通过实施例，并结合附图，对专利技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0020]实施例：
[0021]如图1和2和3和4和5所示，一种便于测量内径以及螺纹的结构，包括工作台1，工作台1上一侧水平方向固定安装有2条滑轨2，滑轨2上滑动安装有检测台3，工作台1上设有可以带动检测台3沿滑轨2滑动的驱动件4，检测台3上安装有内径检测结构，内径检测结构包括2根相对移动的检测杆5，每根检测杆5的外侧均固定安装有检测针6，内径检测结构上方安装有螺纹检测结构，螺纹检测结构包括固定安装在检测台3上的激光探头7，工作台1另一侧安装有纵向移动的托举平台8，工作台1内部安装有驱动托举平台8纵向往复移动的驱动电机9，托举平台8上间隔安装有2个向内凹陷的支撑架10，支撑架10上可以放置轴类件11。
[0022]使用时支撑架10上放置轴类件11，初始状态时2根检测杆5向内靠近，然后驱动电机9驱动托举平台8纵向升高，直至轴类件11达到可以与内径检测结构配合测量的高度，驱动件4带动检测台3向靠近轴类件11的一侧滑动，直至检测杆5伸入轴类件11内，然后2根检测杆5向两侧移动扩张，检测针6与轴类件11的内壁接触，2根检测针6可以精准的测量轴类
件11的内径，在检测针6检测过程中托举平台8可以纵向调节，检测针6多次检测内径后取最大值确定轴类件11的内径，2根检测杆5向内靠拢，内径检测结构测量完内径后驱动件4带动检测台3回到初始位置，驱动电机9驱动托举平台8再次上升，直至与螺纹检测结构等高，然后驱动件4带动检测台3再次向靠近轴类件11的一侧滑动，随着检测台3的移动激光探头7深入到轴类件11内，然后通过激光棱镜反射测量轴类件11内螺纹的螺距、中径、牙型角等参数，根据测出的轴类件11内径与螺纹数据结合，得出轴类件11螺纹与内径的准确数据，避免了传统激光测量螺纹时数据不准确的情况。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于测量内径以及螺纹的结构，包括工作台，其特征在于：所述的工作台上设有可以调节位置的托举结构，托举结构上可以放置轴类的零件，工作台上一侧设有与托举结构不同调节方向的检测台，检测台上设有内径检测结构与螺纹检测结构，内径检测结构与螺纹检测结构、托举结构配合对轴类件进行内径以及内螺纹的检测。2.根据权利要求1所述的一种便于测量内径以及螺纹的结构，其特征在于：所述的托举结构包括可以纵向移动的托举平台，托举平台上设有若干个向内凹陷的支撑架。3.根据权利要求1或2所述的一种便于测量内径以及螺纹的结构，其特征在于：所述的内径检测结构包括检测台上靠近托举结...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴翔，
申请(专利权)人：宁波大正工业机器人技术有限公司，
类型：新型
国别省市：