一种电子元件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于电子元件测试技术领域，尤其为一种电子元件测试装置，包括机体，所述电子元件测试装置还包括电子元件固定工位和探针测试工装均安装在所述机体的顶面；所述电子元件固定工位包括下定位模组、上定位模座和悬浮安装板；所述探针测试工装包括一号活动平台、二号活动平台、L型安装架、安装柱、测试探针和调节立板，所述一号活动平台安装在所述机体的顶部且具有沿Z轴方向的移动自由度；本实用新型专利技术的电子元件测试装置，利用设置的调节立板和安装柱，通过设置的水平腰孔和斜腰孔，当调节立板沿竖直方向移动时，能够使安装柱带动测试探针沿水平方向移动，以调节两个测试探针的间隔，适用于不同规格的电子元件测试需求，适用范围广泛。用范围广泛。用范围广泛。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测试装置


[0001]本技术属于电子元件测试
，具体涉及一种电子元件测试装置。

技术介绍

[0002]电子元件是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点，电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上，电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等)，或是各种不同复杂度的群组，例如：集成电路(运算放大器、排阻、逻辑门等)。
[0003]断路器作为一种常见的电子元件，对其进行耐压性能的测试对于断路器的可靠工作至关重要，传统的方式是利用测试探针接触断路器的接线引脚，通电后实现断路器的耐压性能测试。
[0004]随着电子科技的发展以及对于快速化测试的迫切需求，电子元件的耐压性能测试设备逐渐代替了传统的手工测试方式，但是经研究发现，传统的电子元件耐压性能测试设备虽然较传统的手工测试方式具有更高的测试效率，但是测试探针的位置无法可靠适应规格不同的断路器使用，适用范围不足，难以适应对于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试装置，包括机体(1)，其特征在于：所述电子元件测试装置还包括电子元件固定工位(2)和探针测试工装(3)均安装在所述机体(1)的顶面；所述电子元件固定工位(2)包括下定位模组(4)、上定位模座(5)和悬浮安装板(6)，所述下定位模组(4)固定在所述机体(1)的顶面，所述悬浮安装板(6)位于所述下定位模组(4)的正上方且具有沿竖直方向的移动自由度，所述上定位模座(5)弹性安装在所述悬浮安装板(6)的下部用于配合所述下定位模组(4)夹住待测试的电子元件；所述探针测试工装(3)包括一号活动平台(10)、二号活动平台(11)、L型安装架(12)、安装柱(13)、测试探针(14)和调节立板(20)，所述一号活动平台(10)安装在所述机体(1)的顶部且具有沿Z轴方向的移动自由度，所述二号活动平台(11)安装在所述一号活动平台(10)的顶部且具有沿X轴方向的移动自由度，所述L型安装架(12)安装在所述二号活动平台(11)的顶部且具有沿Y轴方向的移动自由度，两个所述测试探针(14)相对称分布并分别安装在对应的安装柱(13)上，在所述L型安装架(12)的竖直部上开设有供所述安装柱(13)贯穿的水平腰孔(15)，所述调节立板(20)位于所述L型安装架(12)的竖直部一侧且具有沿Z轴方向的移动自由度，在所述调节立板(20)上开设有两个相对称分布的斜腰孔(16)用于供对应的安装柱(13)贯穿，且在所述安装柱(13)的端部固定有限位盘(17)。2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试装置，其特征在于：所述探针测试工装(3)还包括二号垂直气缸(19)，在所述L型安装架(12)的顶端固定有支撑板(18)，所述二号垂直气缸(19)安装在所述支撑板(18)顶面，且所述二号垂直气缸(19)的活塞杆贯穿所述支撑板(18)后与所述调节立板(20)固定连接。3.根据权利要求1所述的一种电子元件测试装置，其特征在于：所述探针测试工装(3)还包括二号螺纹杆(27)和二号调节电机(28)，在所述二号活动平台(11)的顶面固定有两个相...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄佳枫，周耿涛，
申请(专利权)人：中盛世有限公司，
类型：新型
国别省市：