一种电路健康分级评估方法、电子产品健康分级评估方法技术

本发明专利技术公开了一种电路健康分级评估方法、电子产品健康分级评估方法，包括：获取电路各工作状态下n个监测点对应的样本数据；计算各工作状态下每个监测点的虚拟中心样本值，构建标准状态矩阵；计算正常状态下第j个监测点对应的最大超差σ

【技术实现步骤摘要】
一种电路健康分级评估方法、电子产品健康分级评估方法


[0001]本专利技术涉及故障诊断与健康评估
，特别涉及一种电路健康分级评估方法、电子产品健康分级评估方法。

技术介绍

[0002]随着电子产品在航空航天、船舶等领域的广泛应用，电子产品的健康状态分级评估方法对提高电子产品的使用效率、减少停机时间、降低安全风险等具有重要意义，技术人员可根据电子产品的健康状态制定相应的维修策略。
[0003]在工程实际中，通常采用单个监测点数据的偏离程度来表示电子产品的健康状态，忽略了发生数据偏离的监测点数量信息，从而导致对电路及电子产品的健康分级评估结果不够准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于，针对现有技术对电路及电子产品的健康分级评估结果不够准确的不足，提供一种电路健康分级评估方法、电子产品健康分级评估方法，综合考虑监测点数据的超阈值数量和偏离程度，对电路及电子产品进行健康分级评估，能够获得更符合实际的更准确的健康分级评估结果。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案是：一种电路健康分级评估方法，其特点是包括以下步骤：针对待检测电路的A个工作状态，获取各工作状态下n个监测点对应的样本数据，其中，A个工作状态包括正常状态和至少一个故障状态；基于样本数据，计算各工作状态下每个监测点的虚拟中心样本值，基于虚拟中心样本值构建标准状态矩阵；计算正常状态下第j个监测点对应的最大超差σ
j
；基于标准状态矩阵中，各故障状态与正常状态在第j个监测点对应的第一偏差，构建偏差矩阵；基于最大超差σ
j
和偏差矩阵，获得针对待检测电路的多个健康分级阈值；获取待检测电路的未知状态下n个监测点对应的监测值，计算未知状态下的监测值与正常状态下的虚拟中心样本间在第j个监测点对应的第二偏差；基于最大超差σ
j
和第二偏差，计算电路健康评价值；基于电路健康评价值与所述多个健康分级阈值间的大小关系，获得电路健康分级评估结果。
[0006]作为一种优选方式，所述基于最大超差σ
j
和偏差矩阵，获得针对待检测电路的多个健康分级阈值包括：基于最大超差σ
j
对偏差矩阵进行处理，获得关联矩阵；基于关联矩阵，计算第k个工作状态与正常状态间的相异程度值；基于偏差矩阵，计算第k个工作状态与正常状态间的平均相对偏差；
基于和，获得多个健康分级阈值；所述基于最大超差σ
j
和第二偏差，计算电路健康评价值包括：基于最大超差σ
j
对第二偏差进行处理，获得第j个监测点对应的关联值；基于各监测点的第二偏差和关联值，计算电路健康评价值。
[0007]作为一种优选方式，第k个工作状态下第j个监测点的虚拟中心样本值z
(k)j
计算方式包括：；其中，m代表样本数据的组数，z
(k)ij
代表第k个工作状态下第i组样本在第j个监测点处的样本数据值。
[0008]作为一种优选方式，标准状态矩阵为A行
×
n列矩阵，且标准状态矩阵中第k行第j列的元素为z
(k)j
。
[0009]作为一种优选方式，最大超差σ
j
计算方式包括：；其中，z
(l)ij
代表正常状态下第i组样本在第j个监测点处的样本数据值，z
(l)j
代表正常状态下第j个监测点的虚拟中心样本值。
[0010]作为一种优选方式，偏差矩阵为A行
×
n列矩阵，且偏差矩阵中第k行第j列的元素为第一偏差q
(k)j
，q
(k)j
计算方式包括：。
[0011]作为一种优选方式，所述关联矩阵为A行
×
n列矩阵；所述基于最大超差σ
j
对偏差矩阵进行处理，获得关联矩阵包括：关联矩阵中第k行第j列的元素M
(k)j
确定过程包括：比较偏差矩阵中第k行第j列的元素q
(k)j
与σ的大小关系，若q
(k)j
＞σ，则M
(k)j
=1；否则M
(k)j
=0；其中σ是σ
j
的倍值；所述基于关联矩阵，计算第k个工作状态与正常状态间的相异程度值包括：计算；其中，M
(l)j
代表关联矩阵中正常状态下对应的行数据；所述基于偏差矩阵，计算第k个工作状态与正常状态间的平均相对偏差包括：计算；所述基于和，获得多个健康分级阈值包括：
计算第k个工作状态对应的评价函数；基于各工作状态对应的评价函数，确定多个健康分级阈值。
[0012]作为一种优选方式，所述基于各工作状态对应的评价函数，确定多个健康分级阈值包括：
[0013]确定第一阈值，为H
k
中不为零的最小值；确定第二阈值，。
[0014]作为一种优选方式，未知状态下的监测值与正常状态下的虚拟中心样本间在第j个监测点对应的第二偏差y
´
j
计算方式包括：；其中，y
j
为未知状态下第j个监测点的监测值；所述基于最大超差σ
j
和第二偏差，计算电路健康评价值包括：基于最大超差σ
j
对第二偏差进行处理,获得第j个监测点对应的关联值y
´´
j
，其中，关联值y
´´
j
确定过程包括：比较第二偏差y
´
j
与σ的大小关系，若y
´
j
＞σ，则y
´
j
=1；否则y
´´
j
=0；基于各监测点的第二偏差和关联值，计算电路健康评价值。
[0015]基于同一个专利技术构思，本专利技术还提供了一种电子产品健康分级评估方法，所述电子产品包括至少一个电路；其特点是根据所述的电路健康分级评估方法，获得所述电路的健康分级评估结果；根据电子产品中电路的健康分级评估结果，获得电子产品的健康分级评估结果。
[0016]与现有技术相比，本专利技术通过综合考虑监测点数据的超阈值数量和偏离程度，实现对电路及电子产品进行健康分级评估，能够获得更符合实际的更准确的健康分级评估结果。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例中所涉及到的电子产品中电源模块电路图。
具体实施方式
[0018]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0019]本专利技术实施例的第一方面提供了一种电路健康分级评估方法，包括以下步骤：针对待检测电路的A个工作状态，获取各工作状态下n个监测点对应的样本数据，<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路健康分级评估方法，其特征在于，包括以下步骤：针对待检测电路的A个工作状态，获取各工作状态下n个监测点对应的样本数据，其中，A个工作状态包括正常状态和至少一个故障状态；基于样本数据，计算各工作状态下每个监测点的虚拟中心样本值，基于虚拟中心样本值构建标准状态矩阵；计算正常状态下第j个监测点对应的最大超差σ
j
；基于标准状态矩阵中，各故障状态与正常状态在第j个监测点对应的第一偏差，构建偏差矩阵；基于最大超差σ
j
和偏差矩阵，获得针对待检测电路的多个健康分级阈值；获取待检测电路的未知状态下n个监测点对应的监测值，计算未知状态下的监测值与正常状态下的虚拟中心样本间在第j个监测点对应的第二偏差；基于最大超差σ
j
和第二偏差，计算电路健康评价值；基于电路健康评价值与所述多个健康分级阈值间的大小关系，获得电路健康分级评估结果。2.根据权利要求1所述的电路健康分级评估方法，其特征在于，所述基于最大超差σ
j
和偏差矩阵，获得针对待检测电路的多个健康分级阈值包括：基于最大超差σ
j
对偏差矩阵进行处理，获得关联矩阵；基于关联矩阵，计算第k个工作状态与正常状态间的相异程度值；基于偏差矩阵，计算第k个工作状态与正常状态间的平均相对偏差；基于和，获得多个健康分级阈值；所述基于最大超差σ
j
和第二偏差，计算电路健康评价值包括：基于最大超差σ
j
对第二偏差进行处理，获得第j个监测点对应的关联值；基于各监测点的第二偏差和关联值，计算电路健康评价值。3.根据权利要求2所述的电路健康分级评估方法，其特征在于，第k个工作状态下第j个监测点的虚拟中心样本值z
(k)j
计算方式包括：；其中，m代表样本数据的组数，z
(k)ij
代表第k个工作状态下第i组样本在第j个监测点处的样本数据值。4.根据权利要求3所述的电路健康分级评估方法，其特征在于，标准状态矩阵为A行
×
n列矩阵，且标准状态矩阵中第k行第j列的元素为z
(k)j
。5.根据权利要求4所述的电路健康分级评估方法，其特征在于，最大超差σ
j
计算方式包括：；其中，z
(l)ij
代表正常状态下第i组样本在第j个监测点处的样本数据值，z
(l)j
代表正常状态下第j个监测点的虚拟中心样本值。6.根据权利要求5所述的电路健康分级评估方法，其特征在于，偏差矩阵为A行
×
n列矩
阵，且偏差矩阵中第k行第j...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓威，黄先宇，罗康，杨葳，
申请(专利权)人：湖南遥光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：