一种显示器光学参数自动测试平台制造技术

本发明专利技术公开了一种显示器光学参数自动测试平台，包括：机架，所述机架包括驱动机构；测试探头，设置在所述机架上，所述驱动机构用于带动所述测试探头自动移动；定位相机，用于获取待测显示器的尺寸和位置信息；主机，所述测试探头和所述定位相机相连，所述主机用于控制所述测试探头在所述定位相机确定的待测显示器尺寸范围内移动，以及接收并处理所述测试探头的测试数据。本发明专利技术显示器光学参数自动测试平台，通过定位相机与机架组合，可以实现测试探头的自动定位，再配合图片发生器可以维持测试图片连续切换，保证测试的连续性，从而实现测试自动化。测试自动化。测试自动化。

【技术实现步骤摘要】
一种显示器光学参数自动测试平台


[0001]本专利技术涉及光学测试
，更加具体来说，本专利技术涉及一种显示器光学参数自动测试平台。

技术介绍

[0002]目前市场上的显示器光学参数测试大多是人工完成的，例如使用常见的光学测试设备CA310，CA410,CS2000等设备完成数据测试。这些设备均是手持式的，即需要测试人员参与，才能完成测试，但是由于人员操作存在很大的不确定性，对测试力度，测试位置的把控不可能保持一致，以及不同测试人员之间存在差异，所以在光学参数测试过程中，不可避免的会引入人为误差，这种人为误差有时会影响到最终的测试结果，从而影响评判。
[0003]市场上也存在一些自动化测试平台，例如使用一台测试设备，置于机器观看距离的位置，对显示器进行测试，这类设备可以提高测试的精度，但是一般存在测试限制，有的限制了显示器的大小，有的数据功能不全。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术创新地提供了一种显示器光学参数自动测试平台，能够解决现有技术中存在的显示器光学参数测试误差大，以及适用范围小等技术问题。
[0005]为实现上述的技术目的，本专利技术公开了一种显示器光学参数自动测试平台，包括：
[0006]机架，所述机架包括驱动机构；
[0007]测试探头，设置在所述机架上，所述驱动机构用于带动所述测试探头自动移动；
[0008]定位相机，用于获取待测显示器的尺寸信息；
[0009]主机，所述测试探头和所述定位相机相连，所述主机用于控制所述测试探头在所述定位相机确定的待测显示器尺寸范围内移动，以及接收并处理所述测试探头的测试数据。
[0010]进一步地，所述机架包括竖轨和横轨，所述横轨与所述竖轨相互垂直设置，
[0011]所述驱动机构包括设置在所述竖轨上的第一驱动机构，所述第一驱动机构与所述横轨连接，用于驱动所述横轨沿着所述竖轨滑动，
[0012]所述横轨上设置有滑块，所述驱动机构还包括设置在所述滑块上的第二驱动机构，所述第二驱动机构用于驱动所述滑块沿着所述横轨滑动，
[0013]所述测试探头设置在所述滑块上。
[0014]进一步地，所述竖轨相互平行地设置有两个，所述横轨设置在两个所述竖轨之间，两个所述竖轨上均设置有所述第一驱动机构。
[0015]进一步地，所述第一驱动机构包括设置在所述竖轨上的从动轮和驱动轮，所述从动轮和所述驱动轮上连接有传动条，所述驱动轮与驱动电机连接，所述横轨与所述传动条连接；和/或，
[0016]所述第二驱动机构包括设置在所述滑块上的驱动齿轮和驱动电机，以及设置在所
述横轨上的齿条，所述驱动齿轮与所述齿条啮合。
[0017]进一步地，所述驱动机构还包括设置在所述滑块上的第三驱动机构，所述测试探头与所述第三驱动机构连接，所述第三驱动机构可驱动所述测试探头在垂直于所述竖轨和横轨的方向上移动。
[0018]进一步地，所述第三驱动机构包括平行设置的多个连接杆，所述多个连接杆的两端均分别与所述滑块和所述测试探头铰接，
[0019]所述滑块上设置有驱动电机，所述驱动电机用于驱动任意一个所述连接杆转动。
[0020]进一步地，所述显示器光学参数自动测试平台还包括图片发生器，所述图片发生器用于与所述显示器连接，并向所述显示器传输测试图片。
[0021]进一步地，所述测试探头上设置有压力传感器，所述压力传感器设置在所述测试探头的遮光罩上。
[0022]进一步地，所述主机包括：
[0023]按键模块，用于输入操控信息；
[0024]显示模块，用于显示显示器的色域范围；
[0025]数据提取模块，用于获取所述测试探头的测试数据；
[0026]数据分析模块，用于对所述测试数据进行处理。
[0027]本专利技术的有益效果为：
[0028]本专利技术显示器光学参数自动测试平台，通过定位相机与机架组合，可以实现测试探头的自动定位，再配合图片发生器可以维持测试图片连续切换，保证测试的连续性，从而实现测试自动化。
附图说明
[0029]图1示出本专利技术实施例显示器光学参数自动测试平台的结构示意图(正视)；
[0030]图2示出本专利技术实施例显示器光学参数自动测试平台的结构示意图(侧视)；
[0031]图3示出本专利技术实施例测试探头的结构示意图；
[0032]图4示出本专利技术实施例主机的结构框图。
[0033]图中，
[0034]1、机架；11、竖轨；12、横轨；13、滑块；2、测试探头；21、遮光罩；22、压力传感器；3、定位相机；4、主机；5、图片发生器；6、显示器。
具体实施方式
[0035]下面结合说明书附图对本专利技术提供的显示器光学参数自动测试平台进行详细的解释和说明。
[0036]本专利技术显示器光学参数自动测试平台，通过定位相机与机架组合，可以实现测试探头的自动定位，再配合图片发生器可以维持测试图片连续切换，保证测试的连续性，从而实现测试自动化。另外，通过在测试探头上设置压力传感器，便于控制遮光罩与测试面板之间的压力，防止压屏测试带来的数据误差，特别是黑场情况下的压屏测试导致的漏光导致数据过高偏离，提升测试精度。以下结合具体实施例对本专利技术进行详细介绍：
[0037]在一个实施例中，如图1、图2所示，本专利技术提供一种显示器光学参数自动测试平
台，包括：
[0038]机架1，机架1包括驱动机构；
[0039]测试探头2，可移动地设置在机架1上，驱动机构用于带动测试探头2自动移动位置；
[0040]定位相机3，用于获取待测显示器6的尺寸和位置信息；
[0041]主机4，测试探头2和定位相机3相连，主机4用于通知驱动机构，使驱动结构带动测试探头2在定位相机3确定的待测显示器6尺寸范围内移动，以及接收并处理测试探头2的测试数据。
[0042]在本实施例中，通过定位相机3和机架1结合，可以实现待检测显示器6尺寸和位置识别，并自动确定检测范围，配合机架1上的驱动机构可以实现测试探头2的自动定位和移动，主机4获取检测数据并对数据进行处理，使测试平台具备自动检测和数据处理的能力。
[0043]可选地，机架1包括竖轨11和横轨12，横轨12与竖轨11相互垂直设置，竖轨11竖直设置，横轨12水平设置，使测试探头2能够实现水平和竖直方向上的移动。驱动机构包括设置在竖轨11上的第一驱动机构，第一驱动机构与横轨12连接，用于驱动横轨12沿着竖轨11滑动。横轨12上设置有滑块13，驱动机构还包括设置在滑块13上的第二驱动机构，第二驱动机构用于驱动滑块13沿着横轨12滑动，测试探头2设置在滑块13上。第一驱动机构和第二驱动机构配合，可以带动测试探头2在二维平面内实现自动移动，完成对显示器6的测试。
[0044]进一步地，竖轨11相互平行地设置有两个，横轨12设置在两个竖轨11之间，机架1整体构成H型，提高横轨12的稳定性。可选本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示器光学参数自动测试平台，其特征在于，包括：机架，所述机架包括驱动机构；测试探头，设置在所述机架上，所述驱动机构用于带动所述测试探头自动移动；定位相机，用于获取待测显示器的尺寸和位置信息；主机，所述测试探头和所述定位相机相连，所述主机用于控制所述测试探头在所述定位相机确定的待测显示器尺寸范围内移动，以及接收并处理所述测试探头的测试数据。2.根据权利要求1所述的显示器光学参数自动测试平台，其特征在于，所述机架包括竖轨和横轨，所述横轨与所述竖轨相互垂直设置，所述驱动机构包括设置在所述竖轨上的第一驱动机构，所述第一驱动机构与所述横轨连接，用于驱动所述横轨沿着所述竖轨滑动，所述横轨上设置有滑块，所述驱动机构还包括设置在所述滑块上的第二驱动机构，所述第二驱动机构用于驱动所述滑块沿着所述横轨滑动，所述测试探头设置在所述滑块上。3.根据权利要求2所述的显示器光学参数自动测试平台，其特征在于，所述竖轨相互平行地设置有两个，所述横轨设置在两个所述竖轨之间，两个所述竖轨上均设置有所述第一驱动机构。4.根据权利要求3所述的显示器光学参数自动测试平台，其特征在于，所述第一驱动机构包括设置在所述竖轨上的从动轮和驱动轮，所述从动轮和所述驱动轮上连接有传动条，所述驱动轮与驱动电机连接，所述横轨与所述传动条连接；和/或，所述第二驱动机构包括设置在所述滑块上的驱动齿轮和驱动电机，以及...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟鸿杰，谢沛川，杨帆，温存，
申请(专利权)人：深圳康佳电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：