一种随机介质散射势强度分布的测量方法及测量装置制造方法及图纸

技术编号:36956750 阅读:33 留言:0更新日期:2023-03-22 19:17
本发明专利技术公开了一种随机介质散射势强度分布的测量方法及测量装置,该测量方法包括特定入射光角度散射光强的采集、多角度入射光散射光强的采集和散射势强度分布计算等步骤;该测量装置包括激光光源、扩束与准直系统、光强探测器和全立体角旋转机构。本发明专利技术的随机介质散射势强度分布的测量方法及测量装置具有实现强、测试便捷和准确性高的特点。强、测试便捷和准确性高的特点。强、测试便捷和准确性高的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种随机介质散射势强度分布的测量方法及测量装置


[0001]本专利技术涉及光学散射成像
,具体是指一种随机介质散射势强度分布的测量方法及测量装置。

技术介绍

[0002]生物组织、人体组织以及其他透明或半透明材料一般具有折射率随空间位置分布不均匀的特点,同时这种折射率分布一般事先未知,所以光学上称为随机介质。这类介质的光学特性与结构信息完全包含在折射率分布函数当中,也就是包含在散射势函数之中。如果能使用某种手段获取散射势的信息,即完成了对介质的成像。使用电磁波为媒介可以无接触式地获得散射势的信息。该类方法使用声波、微波、X射线实现了实用化的成像技术。然而声波的分辨率受限于波长尺度,X射线对组织有潜在的损伤,而可见光附近波长的电磁波可以克服分辨率不足和安全性不高的困难。
[0003]而且,以上光学成像方法一般需要获取光与介质相互作用后产生的散射场的复振幅信息,需要借助于复杂、耗时的干涉技术作为基础。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种随机介质散射势强度分布的测量方法及测量装置,具有实现强、测试便捷和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种随机介质散射势强度分布的测量方法,其特征在于包括以下步骤:S1、特定入射光角度散射光强的采集:激光光源发出覆盖待测散射样品的光束,该光束经过散射样品散射后形成朝不同方向的各个角度散射光场,分别采集各个角度散射光强,完成特定入射光角度散射光强的采集;S2、多角度入射光散射光强的采集:变换入射光角度,重复步骤S1特定入射光角度散射光强的采集过程,完成不同入射角度入射光散射光强的采集;S3、散射势强度分布计算:结合步骤S2多角度入射光散射光强的采集所得的数据,计算光强平均值和光强涨落的相关性,确定随机介质散射势强度分布。2.根据权利要求1所述的随机介质散射势强度分布的测量方法,其特征在于:在步骤S1特定入射光角度散射光强的采集中,激光光源发出的激光经过准直并扩展成面积可覆盖待测散射样品的光束。3.根据权利要求1所述的随机介质散射势强度分布的测量方法,其特征在于:在步骤S1特定入射光角度散射光强的采集中,光强探测器在全立体角旋转机构带动下采集各个角度散射光强。4.根据权利要求1所述的随机介质散射势强度分布的测量方法,其特征在于:在步骤S2多角度入射光散射光强的采集中,激光光源和扩束与准直系统在可连续转动机构(6)的带动下完成不同入射角度入射光散射光强的采集。5.根据权利要求1所述的随机介质散射势强度分布的测量方法,其特征在于:不同入射角度探测光强的平均值即为散射介质不同实现的系综平均值的近似值。该平均值为:式中,<
·
>
i
表示在入射角度测量集合中取平均,<
·
>
e
表示取系综平均,为光强的平均值。6.根据权利要求1所述的随机介质散...

【专利技术属性】
技术研发人员:何颖君陈星源牛丽婷
申请(专利权)人:广东石油化工学院
类型:发明
国别省市:

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