用于使用激活时段控制方法执行激活操作的半导体系统技术方案

公开了用于使用激活时段控制方法执行激活操作的半导体系统。该半导体系统包括：操作时段调整电路，被配置为：当在测试模式时段期间的激活命令的输入计数等于或大于预设计数时，生成用于调整操作时段的操作信息；以及命令生成电路，被配置为通过基于操作信息调整操作时段来调整在预设时段期间施加到半导体器件的激活命令的输入计数。件的激活命令的输入计数。件的激活命令的输入计数。

【技术实现步骤摘要】
用于使用激活时段控制方法执行激活操作的半导体系统
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年9月17日提交的韩国申请第10
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2021
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0124925号的优先权，其整体通过引用并入本文。


[0003]本公开的实施例大体上涉及半导体系统，且更具体地，涉及一种使用激活时段控制方法来执行激活操作的半导体系统，该激活时段控制方法根据激活命令的输入计数来控制激活时段。

技术介绍

[0004]半导体器件包括用于在其中存储数据的多个存储单元。存储单元中的每一个由单元电容器和单元晶体管组成。半导体器件通过对单元电容器进行充电或放电的操作来存储数据，并且存储在单元电容器中的电荷量需要始终保持不变。然而，存储在单元电容器中的电荷量由于来自外围电路的电压差而改变。当存储在单元电容器中的电荷量改变时，其指示存储在单元电容器中的数据改变。换言之，其指示数据丢失。为了防止这种数据丢失，半导体器件执行刷新操作。
[0005]随着处理技术的发展，半导体器件的集成度已逐渐提高。因此，存储单元之本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体系统，包括：操作时段调整电路，其：当在测试模式时段期间的激活命令的输入计数等于或大于预设计数时，生成用于调整操作时段的操作信息；以及命令生成电路，其通过基于所述操作信息调整所述操作时段来调整在预设时段期间施加到半导体器件的所述激活命令的所述输入计数。2.根据权利要求1所述的半导体系统，其中，所述预设时段被设置为所述半导体器件执行刷新操作的周期。3.根据权利要求1所述的半导体系统，其中，所述操作时段被设置为从生成所述激活命令的时间点到生成预充电命令的时间点的时间段。4.根据权利要求1所述的半导体系统，其中，所述操作时段调整电路包括：测试控制电路，其通过对时钟的脉冲进行计数来生成用于设置所述测试模式时段的时段信号；激活计数电路，其生成操作控制信号，所述操作控制信号在从所述时段信号的第一脉冲被输入的时间点到所述时段信号的第二脉冲被输入的时间点的所述激活命令的所述输入计数等于或大于所述预设计数时被生成；以及操作信息生成电路，其基于所述操作控制信号来生成用于调整所述操作时段的所述操作信息。5.根据权利要求4所述的半导体系统，其中，当所述时钟的输入脉冲的数量对应于所述预设时段中的输入脉冲的数量时，所述测试控制电路生成所述时段信号的所述第一脉冲，然后当在所述第一脉冲的生成之后的所述时钟的输入脉冲的数量对应于所述预设时段中的输入脉冲的数量时，所述测试控制电路生成所述时段信号的所述第二脉冲。6.根据权利要求4所述的半导体系统，其中，所述激活计数电路包括：计数器，其从所述时段信号的所述第一脉冲被输入的所述时间点到所述时段信号的所述第二脉冲被输入的所述时间点通过对所述激活命令被输入的次数进行计数来生成计数信号；以及比较电路，其通过将所述计数信号与比较信号相比较来生成所述操作控制信号。7.根据权利要求6所述的半导体系统，其中，所述比较信号包括关于所述激活命令的所述输入计数等于所述预设计数的信息。8.根据权利要求1所述的半导体系统，其中，所述操作时段调整电路包括：刷新控制电路，其通过对所述时钟的脉冲进行计数来生成用于设置刷新时段的刷新时段信号；激活计数电路，其生成操作控制信号，所述操作控制信号在从所述刷新时段信号的第一脉冲被输入的时间点到所述刷新时段信号的第二脉冲被输入的时间点的所述激活命令的所述输入计数等于或大于所述预设计数时被生成；以及操作信息生成电路，其基于所述操作控制信号来生成用于调整所述操作时段的所述操作信息。9.根据权利要求8所述的半导体系统，其中，当所述时钟的输入脉冲的数量对应于所述刷新时段中的输入脉冲的数量时，所述刷新控制电路生成所述刷新时段信号的所述第一脉冲，然后当在所述第一脉冲的生成之后的所述时钟的输入脉冲的数量对应于所述刷新时段
中的输入脉冲的数量时，所述刷新控制电路生成所述刷新时段信号的所述第二脉冲。10.一种半导体系统，包括：激活计数电路，其：存储在测试模式时段期间通过对激活命令被输入的次数进行计数而生成的计数信号，以及，当所述激活命令的输入计数等于或大于预设计数时，生成用于调整操作时段的操作控制信号；操作信息生成电路，其：接收所述操作控制信号，以及，生成用于调整所述操作时段的操作信息；以及测试控制电路，其在所述测试模式时段结束时生成用于复位所述计数信号的复位信号。11.根据权利要求10所述的半导体系统，其中，所述测试模式时段被设置为恒定时间段。12.根据权利要求10所述的半导体系统，其中，所述激活计数电路包括：计数器，其：从时段信号的第一脉冲被输入的时间点到所述时段信号的第二脉冲被输入的时间点通过对所述激活命令被输入的次数进行计数来生成计数信号，存储所生成的计数信号，以及，在所述复位信号被输入时复位所述计数信号；以及比较电路，其通过将所述计数信号与比较信号相比较来生成所述操作控制信号。13.根据权利要求10所述的半导体系统，其中，所述测试控制电路生成用于设置所述测试模式时段的所述时段信号的脉冲。14.一种半导体系统，包括：控制器，其基于命令来生成施加到半导体器件的激活命令；以及所述半导体器件，其调整智能刷新操作的时段，当在测试模式时段期间的所述激活命令的输入计数等于或大于预设计数时，与内部地址相邻的字线在所述智能刷新操作中被附加地激活。15.根据权利要求14所述的半导体系统，其中，所述测试模式时段被设置为恒定时间段。16.根据权利要求14所述的半导体系统，其中，所述半导体器件包括：智能刷新控制电路，其生成智能刷新信号，所述智能刷新信号具有通过在所述测试模式时段期间的所述激活命令的所述输入计数被调整的生成周期；以及存储体，其在所述智能刷新信号被输入时执行附加地激活与所述内部地址相邻的字线的所述智能刷新操作。17.根据权利要求16所述的半导体系统，其中，所述智能刷新控制电路包括：激活计数器，其：在所述测试模式时段期间通过对所述激活命令被输入的...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋清基，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：