自测试电路和检查信号通过信号路径的完整性的方法技术

示例提供了自测试电路。自测试电路包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体。所述输入电路被配置成产生包括了至少正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述待测试电路的压电晶体以产生输出信号。所述测试电路被配置成分析所述输出信号。所述测试电路被配置成分析所述输出信号。所述测试电路被配置成分析所述输出信号。

【技术实现步骤摘要】
自测试电路和检查信号通过信号路径的完整性的方法


[0001]示例涉及自测试电路及其方法，尤其涉及自测试电路和检查信号通过包含压电晶体的信号路径的完整性的方法。

技术介绍

[0002]振动晶体常用于检测轴承运行时的状况。这些压电晶体可以固定于轴承、轴承壳体(/轴承座)(bearing housing)或相关联的机器上。这些轴承通常位于紧凑的(tight)、难以到达的位置，具有运动的部件和有限的(进入/操作)通道(access)(如果有的话)，尤其是在机器或设备处于运行时。这些因素使得执行人工检查或修理变得困难且繁琐。为了执行这些检查，需要将机器(例如轨道车)从服役(service)中移除以便进行检查(进入/操作)(access)。如果在现场发生故障，可能直到下次检查之前(一直都)被忽视。
[0003]内置的自测试可以被用于测试电路组成部件的正常运行(/工作)。对于包含压电晶体的电路，为了确保晶体被合适地固定就位，可以使用单独的传感器或具有信号发生器的第二(secondary)压电晶体来施加外部信号。用于确定晶体是否合适地固定就位的另一种可选择的方法是刺激(/激励)(excite)其所附接于的壳体。这些解决方案需要使用额外的组成部件、额外的设置设备和额外的时间。已经提出了一些自测试，允许在不需要第二晶体的情况下测试压电晶体，但是这些方法仅测试晶体本身的合适安装；它们不提供除了压电晶体之外的与电路的其它级的正常运行(/工作)有关的任何信息。
[0004]因此，需要一种自测试电路和用于测试信号通过包含压电晶体的信号路径的完整性的方法。

技术实现思路

[0005]示例涉及自测试电路及其方法，尤其涉及自测试电路和检查信号通过包含压电晶体的信号路径的完整性的方法。本公开的示例可以用于自测试状况监测传感器电路，例如监测轴承用的传感器电路。
[0006]示例提供了自测试电路。自测试电路包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体。所述输入电路被配置成产生包括了至少正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述待测试电路的压电晶体以产生输出信号。所述测试电路被配置成分析所述输出信号。
[0007]在一些示例中，所述待测试电路还可以包括低通、带通和高通滤波器电路中的至少一者。所述输入电路可以被配置成将所述预定义的电信号传输通过所述待测试电路的压电晶体以及(通过)低通、带通和高通滤波器电路中的至少一者以产生输出信号。
[0008]在一些示例中，所述测试电路可以被配置成对所述输出信号执行信号振幅或频率评估。
[0009]在一些示例中，所述测试电路可以包括信号处理器，所述信号处理器被配置成将所述输出信号从时域转换到频域并在所述频域中分析所述输出信号。
[0010]在一些示例中，所述输入电路可以被配置成产生频率大于0Hz且小于所述压电晶体的谐振频率的所述至少一个正弦信号。
[0011]在一些示例中，所述输入电路可以包括数字信号处理器，所述数字信号处理器被配置成产生预定义的数字信号并将所述数字信号转换到模拟域以产生所述预定义的电信号。
[0012]在一些示例中，所述自测试电路可以包括开关，所述开关被配置成在正常操作(/运行)与测试模式之间进行选择。当处于测试模式时，所述开关可以将所述输入电路连接到所述待测试电路。所述开关可以至少保持在测试模式直到产生所述输出信号为止。
[0013]示例提供了一种自测试电路的方法(/对电路进行自测试的方法)。所述方法包括：产生预定义的电信号；将包括了至少正弦信号的预定义的电信号传输通过至少待测试电路的压电晶体以产生输出信号；以及分析所述输出信号。
[0014]在一些示例中，所述方法还可以包括将所述预定义的电信号传输通过所述待测试电路的压电晶体以及(通过)低通、带通和高通滤波器电路中的至少一者以产生输出信号。
[0015]在一些示例中，分析所述输出信号可以包括对所述输出信号执行信号振幅或频率评估。
附图说明
[0016]以下将仅通过示例并参照附图来描述装置和/或方法的一些示例，在附图中：
[0017]图1示出了自测试电路的框图；
[0018]图2示出了用于自测试电路的方法的流程图；
[0019]图3示出了自测试电路的(一个)实施方式；以及
[0020]图4示出了由五个不同的测试平台(test rigs)得到的数据的图。
具体实施方式
[0021]现将参照示出了一些示例的附图更全面地说明各示例。在附图中，为了清楚起见，线、层和/或区域的厚度(/粗细)可能被夸大。
[0022]相应地，虽然另外的示例能够具有各种修改和可选择的形式，但是其中的一些特定示例被在附图中示出并且将被随后详细说明。然而，该详细说明并非将另外的示例限制于所描述的特定形式。另外的示例可以覆盖落在本公开范围内的所有修改、等同物和替代物。在整个附图说明中，相同的数字表示相同或相似的元件，它们可以以相同的方式实施，或者，在提供了相同或相似的功能的同时，彼此相比以修改的形式实施。
[0023]应当理解，当元件被称为“连接”或“联接(/耦合)”于另一元件时，元件可以直接连接或联接(/耦合)，或者经由一个或多个中间元件连接或联接(/耦合)。如果两个元件A和B使用“或”组合，这应理解成公开了所有可能的组合，即，仅A、仅B以及A和B。相同组合的可替代措辞是“A和B中的至少一者“。这同样适用于多于2个元件组合的情况。
[0024]这里出于描述特定示例的目的而使用的术语不意在限制另外的示例。无论何时使用诸如为“一”、“一个”和“该”的单数形式并且仅使用单个元件既未明确或也未隐含地定义为是强制性的，则另外的示例还可以使用多个元件来实现相同的功能。同样地，当功能随后被描述为使用多个元件实现时，另外的示例可以使用单个元件或处理实体来实现相同的功
能。应当进一步理解，术语“包括”和/或“包含”在使用时指定了所述的特征、整数、步骤、操作、过程、动作、元件和/或组成部件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、过程、动作、元件、组成部件和/或其任何组的存在或添加。
[0025]除非另外定义，否则本文中所有术语(包括技术术语和科学术语)以其示例所属领域的普通含义使用。
[0026]图1示出了自测试电路100的框图。自测试电路100包括：输入电路110；待测试电路120，其至少包括压电晶体121；和输出电路130。压电晶体121例如可以作为振动传感装置(/振动感测装置)附接于轴承、壳体(/座)(housing)、或相关联的机器。
[0027]输入电路110被配置成产生可以具有单个预定频率和振幅的电源信号。电源信号应当包含AC特性。尽管还可以使用包含有限数量的多个频率的组合(叠加)的电源信号(诸如复合波)，但仍优选的是具有预定频率和振幅的正弦波。虽然在一些实施方式中电源信号可以具有单个固定频率，但是在其它实施方式中电源信号的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自测试电路，包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体；其中，所述输入电路被配置成产生包括了至少一个正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述待测试电路的压电晶体以产生输出信号，并且所述测试电路被配置成分析所述输出信号。2.根据权利要求1所述的自测试电路，其特征在于，所述待测试电路还包括低通、带通和高通滤波器电路中的至少一者，所述输入电路被配置成将所述预定义的电信号传输通过所述待测试电路的压电晶体以及低通、带通和高通滤波器电路中的至少一者以产生输出信号。3.根据权利要求1所述的自测试电路，其特征在于，所述测试电路被配置成对所述输出信号执行信号振幅或频率评估。4.根据权利要求1所述的自测试电路，其特征在于，所述测试电路包括信号处理器，所述信号处理器被配置成将所述输出信号从时域转换到频域并在所述频域中分析所述输出信号。5.根据权利要求1所述的自测试电路，其特征在于，所述输入电路被配置成产生频率大于0Hz且小于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱利安，
申请(专利权)人：斯凯孚公司，
类型：发明
国别省市：