一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法技术方案

本发明专利技术公开了一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法，包括以下步骤:步骤一：通过彩色亮度计逐点测量出色立体的色域边界；步骤二：根据显示系统立体色域边界描绘的算法计算出实际显示系统的立体色域体积；本发明专利技术利用彩色亮度计和不同的测试图集，测量实际显示系统色立体边界的各个点的色坐标和亮度，然后按照一定算法将色立体的边界描绘出来，并计算出其立体色域体积，实现了不同投影机立体色域的测量，使之可以进行比较，能够快速准确测量立体色域；在三基色显示系统立体色域测量的基础上提供了多基色显示系统色域测量的方法，应用性强，使用范围广。使用范围广。使用范围广。

【技术实现步骤摘要】
一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法


[0001]本专利技术涉及激光
，具体涉及一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法。

技术介绍

[0002]色域是显示系统最重要的参数之一，表征着显示系统渲染颜色的能力。早期的色域基于CIE
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xy色品图的平面色域面积，由于其简单直观的特性，目前依然在大多数行业应用。
[0003]但颜色是三维物理量，包括色调，饱和度和亮度，因此缺失了亮度信息的平面色品图中所得到的色域是不准确的，我们需要在立体色域中进行精确测量显示系统的色域体积。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法，利用彩色亮度计和不同的测试图集，测量实际显示系统色立体边界的各个点的色坐标和亮度，然后按照一定算法将色立体的边界描绘出来，并计算出其立体色域体积。
[0005]一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法，包括以下步骤:
[0006]步骤一：通过彩色亮度计逐点测量出色立体的色域边界；
[0007]步骤二：根据显示系统立体色域边界描绘的算法计算出实际显示系统的立体色域体积。
[0008]作为本专利技术进一步的方案：步骤一中，色域边界的获取过程为：
[0009]S1：准备测试图集；
[0010]S2：开启投影机，投影机前方固定一块标准白板作为屏幕，在小角度内距离屏幕3米处放置彩色亮度计，对焦，依次测量投影机投射不同测试图时的色坐标和亮度，并记录；
[0011]S3：根据S2得到的色坐标和亮度数据，在CIELAB空间中描绘色域边界。
[0012]作为本专利技术进一步的方案：S1中，测试图集是由电脑绘制而成。
[0013]作为本专利技术进一步的方案：S2中，对于不同测试图时的色坐标和亮度是通过彩色亮度计读取所测得的色坐标和亮度值，并记录。
[0014]作为本专利技术进一步的方案：S3中，在CIELAB空间中对于色域边界的描述是根据所测量的一系列色坐标和亮度值，按照顺序，在计算机中用matlab程序描绘。
[0015]作为本专利技术进一步的方案：将每个色调角和亮度下的色域覆盖范围叠加，获得整个覆盖色域，计算立体色域体积，具体的：描绘得到色域边界后，通过matlab程序在CIELAB空间中，用分割近似的方法，按照亮度分成一百层，计算每一层的面积，再乘以高度，最后求和，得到立体色域体积。
[0016]本专利技术的有益效果：本专利技术实现了不同投影机立体色域的测量，使之可以进行比较，能够快速准确测量立体色域；
[0017]在三基色显示系统立体色域测量的基础上提供了多基色显示系统色域测量的方法，应用性强，使用范围广。
附图说明
[0018]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0019]图1是本专利技术立体色域图绘制流程图。
[0020]图2是本专利技术立体色域测量顺序的示意图。
[0021]图3是本专利技术色域体积的示意图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]请参阅图1所示，本专利技术为一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法，包括：
[0024]步骤一：通过彩色亮度计逐点测量出色立体的色域边界；
[0025]步骤二：根据显示系统立体色域边界描绘的算法计算出实际显示系统的立体色域体积。
[0026]在一个具体实施例中：
[0027]以三基色算法为例：
[0028]S1：准备测试图集：在电脑上制作测试图，包括黑点(0，0，0)1张，单色红光(32，0，0)到(255，0，0)共8张，单色绿光(0，32，0)到(0，255，0)共8张，单色蓝光(0，0，32)到(0，0，255)共8张，双色混合的如(32，32，0)，(32，0，32)等共24张，以及三色混合的如(255，255，255)共8张，合计57张测试图；
[0029]S2：开启投影机，投影机前方固定一块标准白板作为屏幕，在小角度内合适距离放置彩色亮度计；
[0030]对焦之后，依次测量投影机投射不同测试图时的色坐标和亮度并记录；
[0031]S3：根据测试得到的色坐标和亮度数据，在CIELAB空间中描绘色域边界，并计算立体色域体积。
[0032]以六基色投影机为例
[0033]V1：开启投影机，对于六基色投影机，将其开启的各基色强度依次调整为如下表所示的比例；
[0034]例如单一基色445nm，即为将445nm的蓝光开启至白平衡时的最大值，双基色组合445，465nm即为将445nm和465nm的蓝光同时开启至白平衡时的最大值，依此类推；
[0035][0036][0037]V2：完成上表中数据的测量后，在CIE xyY空间中绘制立体色域图如图1所示，根据立体色域测量顺序表如图2所示，并转化到CIELAB空间中计算其色域体积如图3所示；
[0038]其中，能够将每条线段分为分3
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8段，并依次测量每一个点的坐标，进而得到更精确的立体色域图和数值。
[0039]以上对本专利技术的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围。凡依本专利技术申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术的专利涵盖范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法，其特征在于，包括以下步骤:步骤一：通过彩色亮度计逐点测量出色立体的色域边界；步骤二：根据显示系统立体色域边界描绘的算法计算出实际显示系统的立体色域体积。2.根据权利要求1所述的一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法,其特征在于，步骤一中，色域边界的获取过程为：S1：准备测试图集；S2：开启投影机，投影机前方固定一块标准白板作为屏幕，在小角度内距离屏幕3米处放置彩色亮度计，对焦，依次测量投影机投射不同测试图时的色坐标和亮度，并记录；S3：根据S2得到的色坐标和亮度数据，在C IELAB空间中描绘色域边界。3.根据权利要求2所述的一种多基色显示系统立体色域的快速测量方法,其特征在于，S1中，测试图集是由电脑绘制而成。4.根据权利要求2所...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱立全，张金，杨雨桦，邓林宵，
申请(专利权)人：合肥全色光显科技有限公司，
类型：发明
国别省市：