一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块及测试工装制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块及测试工装，主要解决现有的带线微矩形连接器测试装置测试效率低，且存在漏检、误检等问题。该散线适配模块包括散线壳体、设置在散线壳体内的N个散线适配单元和N个导通开关，每个散线适配单元包括由上至下依次连接的盖板、刺破机构及顶升机构，刺破机构包括刺破针座和刺破针，刺破针的底端通过导线与测量设备连接，在测量时，将连接器与测试设备连接，再将连接器的散线固定至散线适配模块上，按下导通开关，刺破针上升将散线的绝缘外皮刺破后，与散线的线芯接触并导通，即可开始对其进行测量。对其进行测量。对其进行测量。

【技术实现步骤摘要】
一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块及测试工装


[0001]本技术涉及连接器测试技术，具体涉及一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块及测试工装。

技术介绍

[0002]随着科技的不断发展，高集成度、功能强大、运行可靠的电子产品和装备系统中，逐渐包含越来越多且类型不同的带线微矩形连接器，而带线微矩形连接器连接的稳定性和可靠性，在保障整个电子产品和装备系统的运行中起着至关重要的作用，因此在带线微矩形连接器焊接封装完成后，必须对其进行一系列的性能测试，而带线微矩形连接器测试系统，就是针对此类测试需求而开发设计的。
[0003]目前，带线微矩形连接器测试系统的测量过程为：首先利用电阻测量仪逐一接触各导线端头，从而测得各导线的电阻；接着使用绝缘电阻测试仪逐一对各线芯之间或线芯与壳体之间的绝缘电阻进行测量；最后使用耐压测试仪逐一对各线芯之间或线芯与壳体之间的耐压漏电流进行测量，从而完成带线微矩形连接器性能的完整测试。整个测量过程测试时间较长，整体测试效率较低；另外，操作人员工作强度大，长时间工作易出现疲劳，存在漏检、误检等人为隐患，在测试完成后，还需裁剪掉被剥开的金属线芯，从而造成了资源的浪费。

技术实现思路

[0004]为了解决现有的带线微矩形连接器测试装置测试效率低，且存在漏检、误检等问题，本技术提供一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块及测试工装。
[0005]为实现上述目的，本技术提供的技术解决方案如下：
[0006]一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块，其特殊之处在于，包括散线壳体、设置在散线壳体内的N个散线适配单元和与N个散线适配单元一一对应的N个导通开关，其中，N≥2；每个所述散线适配单元包括由上至下依次连接的盖板、刺破机构及顶升机构；
[0007]所述盖板为空心块状结构，其底部设有多个第一通孔；盖板一侧面设有多个第二通孔，第二通孔用于带线微矩形连接器散线的穿入及固定；
[0008]所述刺破机构包括刺破针座和刺破针；所述刺破针座上设有与刺破针数量相等的第三通孔，所述刺破针固定于第三通孔内；所述刺破针为金属导电材质，其底部通过导线与测试设备连接；所述刺破针与第一通孔同轴设置，且刺破针的直径小于第一通孔的孔径；
[0009]所述顶升机构内设置有电缸，电缸与刺破针座的底部连接；所述导通开关与对应电缸之间电连接，用于控制电缸的升降，进而控制刺破针座及刺破针的升降。
[0010]进一步地，所述盖板为可拆卸式结构。
[0011]进一步地，所述第二通孔的孔径与带线微矩形连接器散线的线径相适配，进而适用于各种类型的连接器。
[0012]此外，本技术还提供一种用于带线微矩形连接器的测试工装，其特征在于：
[0013]包括工装底座和在工装底座的台面上依次排列的多个测试模块；每个测试模块包括连接器适配模块和上述的散线适配模块；所述连接器适配模块位于散线适配模块靠近第二通孔的一侧，且与测试设备之间电连接，用于连接带线微矩形连接器；所述工装底座上设有测试开关，测试开关与测试设备之间电连接。
[0014]进一步地，所述连接器适配模块包括安装底座和多个连接器适配单元，每个连接器适配单元的顶部设有1个或多个安装插头或插座，用于连接1个或多个带线微矩形连接器；所述连接器适配单元固定于安装底座上，安装底座固定于工装底座的台面上，且与测试设备之间电连接。
[0015]进一步地，所述连接器适配单元的底部设有铜柱，铜柱的一端与连接器适配单元顶部的安装插头或插座电连接；
[0016]所述安装底座上对应位置设有弹针；当连接器适配单元固定于安装底座上时，所述铜柱的另一端与弹针接触连接，弹针底部通过导线与测试设备连接。
[0017]进一步地，所述工装底座的后侧面设有安装插座，刺破针底部的导线、弹针底部的导线分别与安装插座连通，并通过安装插座分别与测试设备连接。
[0018]进一步地，所述工装底座的后侧面设有安装接口，刺破针底部的导线、弹针底部的导线分别穿过安装接口与测试设备连接。
[0019]进一步地，相邻的两个测试模块之间设有工位挡板。
[0020]进一步地，所述连接器适配单元底部的两端分别设有安装挂钩，所述安装底座上对应位置处设有卡扣条，所述安装挂钩与卡扣条相互卡接。
[0021]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0022]1、本技术的散线适配模块包括散线壳体、设置在散线壳体内的N个散线适配单元和N个导通开关，每个散线适配单元包括由上至下依次连接的盖板、刺破机构及顶升机构，刺破机构包括刺破针座和刺破针，刺破针的底端通过导线与测量设备连接，在对带线微矩形连接器的性能进行测量时，可将连接器与测试设备连接，再将连接器的散线固定至散线适配模块上，无需手动剥去连接器散线的绝缘皮，按下导通开关，刺破针上升将散线的绝缘外皮刺破后，与散线的线芯接触并导通，即可开始进行测量，该模块节省了之前繁琐的测试工序，提高了测试效率，同时，可保证每根散线均能连接到位，从而提高了测试的完整性，不会存在漏检、误检等问题。
[0023]2、本技术测试工装包括工装底座和在工装底座的台面上依次排列的多个测试模块，每个测试模块包括连接器适配模块和散线适配模块，连接器适配模块用于连接带线微矩形连接器，散线适配模块用于将带线微矩形连接器的散线分散并固定，该测试工装可对接多种不同的测试设备，使用范围较广。同时，连接器适配模块可对接多种不同型号的连接器，通用性较强。
附图说明
[0024]图1为本技术一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块实施例的结构示意图；
[0025]图2为本技术一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块实施例中散线适配单元的结构示意图；
[0026]图3为本技术一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块实施例中盖板的结构示意图一；
[0027]图4为本技术一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块实施例中盖板的结构示意图二；
[0028]图5为本技术一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块实施例中刺破机构的结构示意图；
[0029]图6为本技术一种用于带线微矩形连接器的测试工装实施例的结构示意图；
[0030]图7为本技术一种用于带线微矩形连接器的测试工装实施例中安装底座的结构示意图；
[0031]图8为本技术一种用于带线微矩形连接器的测试工装实施例中连接器适配单元的结构示意图一；
[0032]图9为本技术一种用于带线微矩形连接器的测试工装实施例中连接器适配单元的结构示意图二。
[0033]附图标记如下：
[0034]1‑
散线壳体，2
‑
散线适配单元，21
‑
盖板，211
‑
第一通孔，212
‑
第二通孔，22
‑
刺破机构，221
‑
刺破针座，222
‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块，其特征在于：包括散线壳体(1)、设置在散线壳体(1)内的N个散线适配单元(2)和与N个散线适配单元(2)一一对应的N个导通开关(3)，其中，N≥2；每个所述散线适配单元(2)包括由上至下依次连接的盖板(21)、刺破机构(22)及顶升机构(23)；所述盖板(21)为空心块状结构，其底部设有多个第一通孔(211)；盖板(21)一侧面设有多个第二通孔(212)，第二通孔(212)用于带线微矩形连接器散线的穿入及固定；所述刺破机构(22)包括刺破针座(221)和刺破针(222)；所述刺破针座(221)上设有与刺破针(222)数量相等的第三通孔(223)，所述刺破针(222)固定于第三通孔(223)内；所述刺破针(222)为金属导电材质，其底部通过导线与测试设备连接；所述刺破针(222)与第一通孔(211)同轴设置，且刺破针(222)的直径小于第一通孔(211)的孔径；所述顶升机构(23)内设置有电缸，电缸与刺破针座(221)的底部连接；所述导通开关(3)与对应电缸之间电连接，用于控制电缸的升降，进而控制刺破针座(221)及刺破针(222)的升降。2.根据权利要求1所述的一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块，其特征在于：所述盖板(21)为可拆卸式结构。3.根据权利要求1或2所述的一种用于带线微矩形连接器的散线适配模块，其特征在于：所述第二通孔(212)的孔径与带线微矩形连接器散线的线径相适配。4.一种用于带线微矩形连接器的测试工装，其特征在于：包括工装底座(4)和在工装底座(4)的台面上依次排列的多个测试模块(5)；每个测试模块(5)包括连接器适配模块(6)和权利要求1至3任一所述的散线适配模块；所述连接器适配模块(6)位于散线适配模块靠近第二通孔(212)的一侧，且与测试设备之间电连接，用于连接带线微矩形连接器；所述工装底座...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯军，朱辉，谢从振，
申请(专利权)人：陕西永辉测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：