一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器，本发明专利技术中，首先获取初始档位值，然后将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，并获取所述被测芯片的模拟量输出值，在所述模拟量输出值未位于预设模拟量区间内的情况下，确定预设模拟量区间的中心值与所述模拟量输出值的输出差值，在相邻档位值之间的差值为固定差值的情况下，确定所述输出差值对应的档位差值，并根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值。即本发明专利技术中，能够直接根据初始档位值、预设模拟量区间的中心值与初始档位值对应的模拟量输出值的输出差值，确定最终的实际档位值，相比于遍历的方式，能够减少调整次数，提高调整效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器


[0001]本专利技术涉及晶圆测试领域，更具体的说，涉及一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器。

技术介绍

[0002]用于输出模拟量的芯片在工艺生产过程中，会存在生产误差，使得该芯片输出的模拟量并不在设定的模拟量区间内，此时需要对芯片的模拟量的实际档位值进行调整，使得芯片输出的模拟量位于设定的模拟量区间内。
[0003]在进行芯片的实际档位值的调整时，一般是按照档位值的顺序进行依次遍历，并确定每一遍历的档位值对应的输出模拟量是否在设定的模拟量区间内，档位值调整时间较长，调整效率较低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术提供一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器，以解决在进行芯片的实际档位值的调整时，档位值调整时间较长，调整效率较低的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种芯片模拟量的档位值确定方法，应用于控制器，所述档位值确定方法包括：
[0007]获取初始档位值；所述初始档位值为在晶圆测试过程中使用次数满足预设次数规则的档位值；
[0008]将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，并获取所述被测芯片的模拟量输出值；
[0009]在所述模拟量输出值未位于预设模拟量区间内的情况下，确定预设模拟量区间的中心值与所述模拟量输出值的输出差值；
[0010]在相邻档位值之间的差值为固定差值的情况下，确定所述输出差值对应的档位差值，并根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值。
[0011]可选地，确定所述输出差值对应的档位差值，包括：
[0012]计算所述输出差值与所述固定差值的比值，并对所述比值进行预设处理操作，得到档位差值。
[0013]可选地，根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值，包括：
[0014]确定所述模拟量输出值与所述预设模拟量区间的大小关系；
[0015]在所述模拟量输出值小于所述预设模拟量区间的最小值的情况下，将所述初始档位值和所述档位差值之和，作为所述被测芯片的实际档位值；
[0016]在所述模拟量输出值大于所述预设模拟量区间的最大值的情况下，将所述初始档位值和所述档位差值之差，作为所述被测芯片的实际档位值。
[0017]可选地，在相邻档位值之间的差值不为固定差值的情况下，还包括：
[0018]获取不同档位值之间的差值；
[0019]在所述模拟量输出值小于所述预设模拟量区间的最小值的情况下，确定所述模拟量输出值与差值之和落入所述预设模拟量区间内的档位值，并将该档位值作为所述被测芯片的实际档位值。
[0020]可选地，在所述模拟量输出值大于所述预设模拟量区间的最大值的情况下，还包括：
[0021]确定所述模拟量输出值与差值之差落入所述预设模拟量区间内的档位值，并将该档位值作为所述被测芯片的实际档位值。
[0022]可选地，在所述模拟量输出值位于预设模拟量区间内的情况下，还包括：
[0023]将所述初始档位值确定所述被测芯片的实际档位值。
[0024]可选地，将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，包括：
[0025]将所述初始档位值写入所述被测芯片的存储器中，以使所述被测芯片读取所述存储器中的所述初始档位值，并将档位值调整为所述初始档位值。
[0026]可选地，在根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值之后，还包括：
[0027]将被测芯片的档位值设置为所述实际档位值，并获取所述被测芯片的新的模拟量输出值；
[0028]在所述新的模拟量输出值位于预设模拟量区间内的情况下，输出被测芯片调整完成信息。
[0029]一种芯片模拟量的档位值确定装置，应用于控制器，所述档位值确定装置包括：
[0030]档位值获取模块，用于获取初始档位值；所述初始档位值为在晶圆测试过程中使用次数满足预设次数规则的档位值；
[0031]数据获取模块，用于将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，并获取所述被测芯片的模拟量输出值；
[0032]差值确定模块，用于在所述模拟量输出值未位于预设模拟量区间内的情况下，确定预设模拟量区间的中心值与所述模拟量输出值的输出差值；
[0033]档位值确定模块，用于在相邻档位值之间的差值为固定差值的情况下，确定所述输出差值对应的档位差值，并根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值。
[0034]一种控制器，包括：存储器和处理器；
[0035]其中，所述存储器用于存储程序；
[0036]处理器调用程序并用于执行上述的芯片模拟量的档位值确定方法。
[0037]相较于现有技术，本专利技术具有以下有益效果：
[0038]本专利技术提供了一种芯片模拟量的档位值确定方法、装置及控制器，本专利技术中，首先获取初始档位值，然后将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，并获取所述被测芯片的模拟量输出值，在所述模拟量输出值未位于预设模拟量区间内的情况下，确定预设模拟量区间的中心值与所述模拟量输出值的输出差值，在相邻档位值之间的差值为固定差值的情况下，确定所述输出差值对应的档位差值，并根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值。即本专利技术中，能够直接根据初始档位值、预设模拟量区间的中
心值与初始档位值对应的模拟量输出值的输出差值，确定最终的实际档位值，相比于遍历的方式，能够减少调整次数，提高调整效率。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0040]图1为本专利技术实施例提供的一种芯片模拟量的档位值确定方法的方法流程图；
[0041]图2为本专利技术实施例提供的一种档位值的场景示意图；
[0042]图3为本专利技术实施例提供的另一种芯片模拟量的档位值确定方法的方法流程图；
[0043]图4为本专利技术实施例提供的另一种档位值的场景示意图；
[0044]图5为本专利技术实施例提供的又一种芯片模拟量的档位值确定方法的方法流程图；
[0045]图6为本专利技术实施例提供的一种芯片模拟量的档位值确定装置的结构示意图。
具体实施方式
[0046]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0047]用于输出模拟量的芯片在工艺生产过程中，会存在生产误差，使得该芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片模拟量的档位值确定方法，其特征在于，应用于控制器，所述档位值确定方法包括：获取初始档位值；所述初始档位值为在晶圆测试过程中使用次数满足预设次数规则的档位值；将被测芯片的档位值设置为所述初始档位值，并获取所述被测芯片的模拟量输出值；在所述模拟量输出值未位于预设模拟量区间内的情况下，确定预设模拟量区间的中心值与所述模拟量输出值的输出差值；在相邻档位值之间的差值为固定差值的情况下，确定所述输出差值对应的档位差值，并根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值。2.根据权利要求1所述的档位值确定方法，其特征在于，确定所述输出差值对应的档位差值，包括：计算所述输出差值与所述固定差值的比值，并对所述比值进行预设处理操作，得到档位差值。3.根据权利要求1所述的档位值确定方法，其特征在于，根据所述初始档位值和所述档位差值，确定所述被测芯片的实际档位值，包括：确定所述模拟量输出值与所述预设模拟量区间的大小关系；在所述模拟量输出值小于所述预设模拟量区间的最小值的情况下，将所述初始档位值和所述档位差值之和，作为所述被测芯片的实际档位值；在所述模拟量输出值大于所述预设模拟量区间的最大值的情况下，将所述初始档位值和所述档位差值之差，作为所述被测芯片的实际档位值。4.根据权利要求1所述的档位值确定方法，其特征在于，在相邻档位值之间的差值不为固定差值的情况下，还包括：获取不同档位值之间的差值；在所述模拟量输出值小于所述预设模拟量区间的最小值的情况下，确定所述模拟量输出值与差值之和落入所述预设模拟量区间内的档位值，并将该档位值作为所述被测芯片的实际档位值。5.根据权利要求4所述的档位值确定方法，其特征在于，在所述模拟量输出值大于所述预设模拟量区间的最大值的情况下，还包括：确定所述模拟量输出值与差值之...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凯亮，陈凝，胡博，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：