一种用于检测晶体面型的工装夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及晶体面型检测技术领域，一种用于检测晶体面型的工装夹具，包括固定座、固定块和滑动块，所述固定块固定连接在固定座的一侧，所述滑动块滑动连接在固定座上相对固定块的另一侧，所述固定块和滑动块相对的一面都设置有固定夹爪，所述固定夹爪的形状包括圆弧形，且垂直于固定座表面布置，圆形的光学晶体能够被两只所述固定夹爪夹持在中间进行固定，在所述固定夹爪下方的固定座上设置有光束光源，所述光束光源朝向固定夹爪布置，所述光束光源通电之后能够发出光束射向被固定夹爪夹持的光学晶体，并平行于光学晶体的表面穿过，有助于提高光学晶体面型检测的准确性。有助于提高光学晶体面型检测的准确性。有助于提高光学晶体面型检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测晶体面型的工装夹具


[0001]本技术涉及晶体检测
，具体为一种用于检测晶体面型的工装夹具。

技术介绍

[0002]在光电
中经常要应用到各种光学晶体，各种材质的光学晶体因其独特的光学性能在晶体定向、矿物鉴定、晶体结构以及其他晶体光学现象(如非线性效应、光散射)的工作与研究中有重要应用，光学晶体制成的各种起偏棱镜、补偿器等(见线偏振光、偏振光的干涉)，则广泛应用于各种光学仪器和实验中。
[0003]目前的光学晶体一般都需要定向、切割、组方、研磨、抛光和涂覆保护膜六步进行制造，而在抛光之后，涂覆保护膜之前，需要对光学晶体的面型进行检测，即使用光束平行于光学晶体的表面进行照射，然后观察光束在光学晶体表面的贯穿路线，以此来确认光学晶体表面是否有瑕疵，面型检测是否充分标准将直接影响到光学晶体成品的精度和质量。
[0004]在面型检测的过程中，工人通常是使用镊子夹持光学晶体进行观察，整体流程的标准性较低，晶体表面与光束之间是否平行无法确认，严重影响光学晶体面型检测的精准程度。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种用于检测晶体面型的工装夹具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于检测晶体面型的工装夹具，包括固定座、固定块和滑动块，所述固定块固定连接在固定座的一侧，所述滑动块滑动连接在固定座上相对固定块的另一侧，所述固定块和滑动块相对的一面都设置有固定夹爪，所述固定夹爪的形状包括圆弧形，且垂直于固定座表面布置，圆形的光学晶体能够被两只所述固定夹爪夹持在中间进行固定，在所述固定夹爪下方的固定座上设置有光束光源，所述光束光源朝向固定夹爪布置，所述光束光源通电之后能够发出光束射向被固定夹爪夹持的光学晶体，并平行于光学晶体的表面穿过，有助于提高光学晶体面型检测的准确性。
[0007]如上所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，所述固定夹爪远离对侧固定夹爪的一侧固定连接有连接滑块，所述固定块和滑动块在连接滑块的相对位置设置有竖直布置的连接滑槽，所述连接滑槽的截面形状与连接滑块的形状相配合。所述连接滑块与连接滑槽的配合设置，方便了将固定夹爪从固定块或滑动块取下进行更换。
[0008]如上所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，所述固定夹爪朝向另一固定夹爪的一侧设置有夹持槽，所述夹持槽的形状也包括圆弧形，使所述夹持槽的设置能够容纳圆形光学晶体的边缘卡入。
[0009]如上所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，所述固定夹爪的形状包括1/4
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1/3圆弧，确保所述固定夹爪与光学晶体的边缘之间有足够的接触面积。
[0010]如上所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，所述固定座与滑动块滑动连接的
一侧设置有滑动槽，所述滑动槽沿垂直于固定块方向设置，所述滑动块的下侧在滑动槽的相对位置设置有滑动滑块，所述滑动滑块也沿垂直于固定块方向设置，所述滑动滑块能够在滑动槽中来回滑动，从而使所述滑动块能够在固定座上相对固定块进行滑动。
[0011]进一步的，所述滑动槽的截面形状包括圆形，所述滑动滑块的截面形状与滑动槽的截面形状相配合。
[0012]进一步的，在所述固定座远离固定块的一侧活动连接有封堵板，所述封堵板能够对滑动槽的开口处进行封堵。
[0013]进一步的，在所述滑动槽中封堵板与滑动滑块之间设置有复位弹簧，所述复位弹簧能够顶着滑动滑块在滑动槽中进行滑动。
[0014]作为优选的，所述滑动槽的数量至少包括两根，且相邻滑动槽之间互相平行。复数条的所述滑动槽能够增加滑动块相对固定座滑动时的稳定性。
[0015]如上所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，在使用所述工装夹具，夹持不同尺寸的光学晶体进行面型检测时，为确保光束光源能够从光学晶体的正下方对光学晶体进行照射，所述固定座朝上一侧设置有光源滑槽，所述光源滑槽沿滑动块的滑动方向设置，所述光束光源滑动连接在光源滑槽中。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该工装夹具能够将需要被检测的光学晶体竖直固定在光束光源的上方，确保光束光源射出的光束能够与光学晶体表面平行，确保晶体面型检测的准确度，而且所述工装夹具的固定夹爪为可更换设计，可通过更换不同尺寸的固定夹爪可以夹持固定不同尺寸的光学晶体，使所述工装夹具能够用来夹持检测不同尺寸大小的光学晶体。
附图说明
[0017]图1为本技术所述一种用于检测晶体面型的工装夹具的结构示意图；
[0018]图2为本技术所述固定夹爪的结构示意图；
[0019]图3为本技术所述滑动块与固定座的组合安装示意图；
[0020]图4为本技术所述固定座与固定块的俯视图。
[0021]图中：1、固定座；11、光束光源；12、滑动槽；13、封堵板；14、复位弹簧；15、光源滑槽；2、固定块；3、滑动块；31、滑动滑块；4、固定夹爪；41、连接滑块；42、连接滑槽；43、夹持槽。
具体实施方式
[0022]请参阅图1
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图4，一种用于检测晶体面型的工装夹具，包括固定座1、固定块2和滑动块3，所述固定块2固定连接在固定座1的一侧，所述滑动块3滑动连接在固定座1上相对固定块2的另一侧，所述固定块2和滑动块3相对的一面都设置有固定夹爪4，所述固定夹爪4的形状包括圆弧形，且垂直于固定座1表面布置，圆形的光学晶体能够被两只所述固定夹爪4夹持在中间进行固定，在所述固定夹爪4下方的固定座1上设置有光束光源11，所述光束光源11朝向固定夹爪4布置，所述光束光源11通电之后能够发出光束射向被固定夹爪4夹持的光学晶体，并平行于光学晶体的表面穿过，检测人员可通过观察光束在光学晶体表面的贯穿路线，来确认光学晶体表面的面型是否平整，又因为在检测光学晶体面型的期间，被固定
夹爪4夹持固定的光学晶体是垂直于光束光源11射出的光束的，因此可以确保光束光源11射出的光束是平行于光学晶体表面照射的，有助于提高光学晶体面型检测的准确性。
[0023]参见图3和图4，所述固定座1与滑动块3滑动连接的一侧设置有滑动槽12，所述滑动槽12沿垂直于固定块2方向设置，所述滑动块3的下侧在滑动槽12的相对位置设置有滑动滑块31，所述滑动滑块31也沿垂直于固定块2方向设置，所述滑动滑块31能够在滑动槽12中来回滑动，从而使所述滑动块3能够在固定座1上相对固定块2进行滑动，从而改变滑动块3与固定块2之间的距离，使滑动块3和固定块2上连接的固定夹爪4能够夹住或松开被夹持固定的光学晶体。
[0024]进一步的，本实施例所述滑动槽12的截面形状为圆形，所述滑动滑块31的截面形状与滑动槽12的截面形状相配合。
[0025]进一步的，在所述固定座1远离固定块2的一侧活动连接有封堵板13，所述封堵板13能够对滑动槽12的开口处进行封堵。
[0026]在所述滑动槽12中封堵板13与滑动滑块31之间设置有复位弹本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测晶体面型的工装夹具，其特征在于，包括固定座(1)、固定块(2)和滑动块(3)，所述固定块(2)固定连接在固定座(1)的一侧，所述滑动块(3)滑动连接在固定座(1)上相对固定块(2)的另一侧，所述固定块(2)和滑动块(3)相对的一面都设置有固定夹爪(4)，所述固定夹爪(4)的形状包括圆弧形，且垂直于固定座(1)表面布置，在所述固定夹爪(4)下方的固定座(1)上设置有光束光源(11)，所述光束光源(11)朝向固定夹爪(4)布置，所述光束光源(11)能够发出光束射向被固定夹爪(4)夹持的光学晶体，并平行于光学晶体的表面穿过。2.根据权利要求1所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，其特征在于，所述固定夹爪(4)远离对侧固定夹爪(4)的一侧固定连接有连接滑块(41)，所述固定块(2)和滑动块(3)在连接滑块(41)的相对位置设置有竖直布置的连接滑槽(42)，所述连接滑槽(42)的截面形状与连接滑块(41)的形状相配合。3.根据权利要求1所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，其特征在于，所述固定夹爪(4)朝向另一固定夹爪(4)的一侧设置有夹持槽(43)，所述夹持槽(43)的形状包括圆弧形。4.根据权利要求1所述的一种用于检测晶体面型的工装夹具，其特征在于，所述固定夹爪(4)的形状包括1/4
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【专利技术属性】
技术研发人员：吕宪顺，陈芙迪，宋慧，邱程程，魏磊，刘冰，王旭平，
申请(专利权)人：山东山科智晶光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：