一种手机智能卡模块可靠性测试系统技术方案

本实用新型专利技术提出一种手机智能卡模块可靠性测试系统，板和针盖板，所述针底座上设有机械卡槽，所述针压板上设有若干正对所述机械卡槽的测试针；所述机械卡槽内卡置有待测模块，所述待测模块与所述测试针相接触，配合所述测试针串联设置的所述耐高温线一端通过所述开关与电源连接，另一端分别与所述继电器和电压计时器连接。在本申请中,在沿用大部分生产设备和工艺的前提下，并获得高可靠性的产品，配合简单的夹具装置，利用继电器、电压计时器和烘箱进行检测，步骤简单且快捷，以极低的生产成本进行手机智能卡模块的可靠性寿命测试。成本进行手机智能卡模块的可靠性寿命测试。成本进行手机智能卡模块的可靠性寿命测试。

【技术实现步骤摘要】
一种手机智能卡模块可靠性测试系统


[0001]本技术涉及智能封装测试领域，尤其涉及一种手机智能卡模块可靠性测试系统。

技术介绍

[0002]随着集成电路封装技术的不断进步，集成电路的集成度日益提高，功能越来越丰富。对于不断出现的新应用需求，要求集成电路封装企业能设计出新型的封装形式来配合新的需求。
[0003]温湿偏置半导体器件(Temperature Humidity Bias)进行的一种可靠性实验,被测件在高温、高湿度环境下工作,旨在加速金属腐蚀，特别是金属在模具表面的腐蚀，在几百小时内模拟器件几年内的正常使用情道况。
[0004]可靠性试验：是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。
[0005]目的：为了测定、验证或提高产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验，它是产品可靠性工作的一个重要环节。
[0006]在研制阶段使产品达到预定的可靠性指标。
[0007]在产品研制定型时进行可靠本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，包括夹具装置(100)、开关、继电器(300)、电压计时器(400)、耐高温线(500)和烘箱(600)，所述夹具装置(100)置于所述烘箱(600)内；所述夹具装置(100)包括依次设置的针底座(110)、针压板(120)和针盖板(130)，所述针底座(110)上设有机械卡槽(140)，所述针压板(120)上设有若干正对所述机械卡槽(140)的测试针(150)；所述机械卡槽(140)内卡置有待测模块，所述待测模块与所述测试针(150)相接触，配合所述测试针(150)串联设置的所述耐高温线(500)一端通过所述开关与电源连接，另一端分别与所述继电器(300)和电压计时器(400)连接。2.根据权利要求1所述的手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，所述针底座(110)上设有多个凸起的导向杆(710)，所述针盖板(130)上处设有上导向孔(720)，所述针压板(120)上设有下导向孔(730)，所述导向杆(710)的端部贯穿所述下导向孔(730)后卡置在所述上导向孔(720)内。3.根据权利要求2所述的手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，所述导向杆(710)的数量为至少4个，所述导向杆(710)对称且间隔排设在所述针底座(110)的两侧。4.根据权利要求1所述的手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，所述机械卡槽(140)为双轨道卡槽结构。5.根据权利要求4所述的手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，所述测试针(150)于所述针压板(120)上凸起的长度可调节。6.根据权利要求1所述的手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，所述开关为并联的手动启动开关(210)和自动断电开关(220)。7.根据权利要求1所述的手机智能卡模块可靠性测试系统，其特征在于，所述针压板(120)上设有正对所述针盖板(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王莲松，环翾，李欣华，
申请(专利权)人：上海仪电智能电子有限公司，
类型：新型
国别省市：