一种三维重建缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种三维重建缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取标准样品的第一投影数据和含缺陷样品的第二投影数据；根据所述第一投影数据和第二投影数据，确定第三投影数据，所述第三投影数据为包含缺陷的投影数据；通过解析方法对所述第三投影数据进行三维重建，并对重建后的图像进行非负修正，得到第一修正图像；根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像。通过本发明专利技术的方法，可提高三维重建速度和重建图像质量。维重建速度和重建图像质量。维重建速度和重建图像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种三维重建缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及三维重构
，具体而言，本专利技术涉及一种三维重建缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]中子照相是一种重要的无损检测手段，而层析成像能获取样品内部的三维结构。为了获取质量较好的中子层析成像的三维图像，需要对大量的角度进行投影，并且对每个投影角度的图像质量有着较高要求。而中子源的源强往往有限，并且中子的探测效率不是很高，若要获取高质量和大量角度的投影数据，需要较长的成像时间，从而导致成本急剧增加。同时由于中子的随机特性以及伴生γ射线的存在，在投影数据中不可避免的会产生大量噪声。因此，现有技术中亟需一种成像精度高，且重建速度较快的三维重建方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供了一种三维重建缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，旨在解决上述至少一个技术问题。
[0004]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种三维重建缺陷检测方法，该方法包括：
[0005]S1，获取标准样品的第一投影数据和含缺陷样品的第二投影数据；
[0006]S2，根据所述第一投影数据和第二投影数据，确定第三投影数据，所述第三投影数据为包含缺陷的投影数据；
[0007]S3，通过解析方法对所述第三投影数据进行三维重建，并对重建后的图像进行非负修正，得到第一修正图像；
[0008]S4，根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像。
[0009]本专利技术的有益效果是：在本申请方案中，先基于标准样品的第一投影数据和含缺陷样品的第二投影数据确定包含缺陷的第三投影数据，然后对第三投影数据进行三维重建，由于仅对包含缺陷的第三投影数据进行三维重建，则大大减少了计算量，提高了重建速度，另外，在重建后，进行非负修正，以及基于系统矩阵和所述第三投影数据对第一修正图像进行修正，使得得到的目标修正图像的噪声较少，质量较好。
[0010]在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。
[0011]进一步，上述根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像，包括：
[0012]根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到第二修正图像；
[0013]确定所述第二修正图像中的每个像素点的中值根先验因子；
[0014]根据各个所述中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正，得到所述目标修
正图像。
[0015]采用上述进一步方案的有益效果是，在本申请方案中，除了对三维重构图像基于系统矩阵和第三投影数据进行修正外，还可进一步基于第二修正图像中的每个像素点的中值根先验因子，对第二修正图像进行修正，进一步提高目标修正图像的图像质量。
[0016]进一步，上述根据各个所述中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正，得到所述目标修正图像，包括：
[0017]根据各个所述中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正，得到第三修正图像；
[0018]通过全变分方法对所述第三修正图像进行修正，得到所述目标修正图像。
[0019]采用上述进一步方案的有益效果是，除了上述基于中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正之外，还可通过全变分方法对所述第三修正图像进行修正，进一步提高目标修正图像的图像质量。
[0020]进一步，上述通过全变分方法对所述第三修正图像进行修正，得到所述目标修正图像，包括：
[0021]S11，根据所述第三修正图像和所述第一修正图像，确定图像差值；
[0022]S12，根据所述第三修正图像、所述第一修正图像和所述系统矩阵，确定投影差值；
[0023]S13，获取初始全变分迭代步长；
[0024]S14，根据所述第三修正图像，确定全变分梯度方向矩阵；
[0025]S15，根据所述全变分梯度方向矩阵和所述初始全变分迭代步长，对所述第三修正图像进行第一次修正，得到第四修正图像；
[0026]S16，将所述第四修正图像作为新的第三修正图像，更新所述初始全变分迭代步长，并根据所述更新后的全变分迭代步长，重复所述步骤S14至步骤S16设定次数，得到所述目标修正图像，每执行一次步骤S14至步骤S16，更新一次全变分迭代步长。
[0027]采用上述进一步方案的有益效果是，在通过全变分方法进行修正的过程中，可进行设定次数的修正，以使得修正后的目标修正图像的质量更好。
[0028]进一步，上述步骤S16中，更新所述初始全变分迭代步长，包括：
[0029]根据所述第四修正图像和所述第三修正图像，确定新的图像差值；
[0030]根据所述第四修正图像、所述第三修正图像和所述系统矩阵，确定新的投影差值；
[0031]在所述新的图像差值满足第一设定条件，且所述新的投影差值满足第二设定条件时，更新所述初始全变分迭代步长。
[0032]采用上述进一步方案的有益效果是，每一次全变分修正的过程中，全变分迭代步长在不断基于每次修正后的图像进行更新，基于更新后的全变分迭代步长不断的衡量修正后的图像是否是满足图像质量要求的图像。
[0033]进一步，该方法还包括：
[0034]根据所述目标修正图像和所述标准样品对应的标准图像进行比较，在比较结果满足第三设定条件时，将所述目标修正图像作为最终重构图像，若所述比较结果不满足第三设定条件，则重复所述步骤S3至步骤S4，直到所述比较结果满足所述第三设定条件。
[0035]采用上述进一步方案的有益效果是，在修正后，还需要基于目标修正图像和所述标准样品对应的标准图像进行比较，以确保最终重构图像是满足第三设定条件的图像。
[0036]进一步，上述S4中，根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像，包括：
[0037]根据所述系统矩阵和所述第三投影数据，确定第四投影数据；
[0038]根据所述第四投影数据和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像。
[0039]采用上述进一步方案的有益效果是，在基于系统矩阵和所述第三投影数据对所述第一修正图像进行修正的过程中，首先基于系统矩阵和所述第三投影数据，确定第四投影数据，然后基于第四投影数据进行修正，使得修正的目标修正图像质量更好。
[0040]第二方面，本专利技术为了解决上述技术问题还提供了一种三维重建缺陷检测装置，该装置包括：
[0041]数据获取模块，用于获取标准样品的第一投影数据和含缺陷样品的第二投影数据；
[0042]投影数据确定模块，用于根据所述第一投影数据和第二投影数据，确定第三投影数据，所述第三投影数据为包含缺陷的投影数据；
[0043]第一修正模块，用于通过解析方法对所述第三投影数据进行三维重建，并对重建后的图像进行非负修正，得到第一修正图像；
[0044]第二本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三维重建缺陷检测方法，其特征在于，包括：S1，获取标准样品的第一投影数据和含缺陷样品的第二投影数据；S2，根据所述第一投影数据和第二投影数据，确定第三投影数据，所述第三投影数据为包含缺陷的投影数据；S3，通过解析方法对所述第三投影数据进行三维重建，并对重建后的图像进行非负修正，得到第一修正图像；S4，根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到目标修正图像，包括：根据系统矩阵和所述第三投影数据，对所述第一修正图像进行修正，得到第二修正图像；确定所述第二修正图像中的每个像素点的中值根先验因子；根据各个所述中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正，得到所述目标修正图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各个所述中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正，得到所述目标修正图像，包括：根据各个所述中值根先验因子，对所述第二修正图像进行修正，得到第三修正图像；通过全变分方法对所述第三修正图像进行修正，得到所述目标修正图像。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过全变分方法对所述第三修正图像进行修正，得到所述目标修正图像，包括：S11，根据所述第三修正图像和所述第一修正图像，确定图像差值；S12，根据所述第三修正图像、所述第一修正图像和所述系统矩阵，确定投影差值；S13，获取初始全变分迭代步长；S14，根据所述第三修正图像，确定全变分梯度方向矩阵；S15，根据所述全变分梯度方向矩阵和所述初始全变分迭代步长，对所述第三修正图像进行第一次修正，得到第四修正图像；S16，将所述第四修正图像作为新的第三修正图像，更新所述初始全变分迭代步长，并根据所述更新后的全变分迭代步长，重复所述步骤S14至步骤S16设定次数，得到所述目标修正图像，每执行一次步骤S14至步骤S16，更新一次全变分迭代步长。5.根据权利要求4所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：青岛元动芯能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：