由物位测量仪和瞄准器组成的系统和瞄准器技术方案

描述和示出由测量容器中介质的物位的物位测量仪和至少一个瞄准器组成的系统，其中物位测量仪具有产生测量信号的控制和评估单元和工艺连接元件，其中工艺连接元件在介质侧具有透射元件，其中透射元件至少部分地对于测量信号是可通过的。说明由物位测量仪和瞄准器组成的系统，使得可以特别灵活地使用物位测量仪的任务通过以下方式来解决，即至少一个瞄准器与工艺连接元件连接，其中至少一个瞄准器在介质侧具有用于将测量信号耦合输入到容器中的瞄准器透镜，其中瞄准器透镜被构造并且在运行中在测量信号的传播方向上布置在透射元件后面，使得瞄准器透镜改变测量信号的张角。使得瞄准器透镜改变测量信号的张角。使得瞄准器透镜改变测量信号的张角。

【技术实现步骤摘要】
由物位测量仪和瞄准器组成的系统和瞄准器


[0001]本专利技术以一种由用于测量容器中介质的物位的物位测量仪和至少一个瞄准器组成的系统为出发点，其中物位测量仪具有用于产生测量信号的控制和评估单元以及工艺连接元件，其中工艺连接元件在介质侧具有透射元件，其中透射元件至少部分地对于测量信号是可通过的。
[0002]此外，本专利技术涉及一种用于连接到物位测量仪上来制造根据本专利技术的系统的瞄准器。

技术介绍

[0003]如果说工艺连接元件在介质侧具有透射元件，则这指的是透射元件在运行中或在安装状态下布置在介质侧。
[0004]根据一种设计方案，测量信号是雷达信号，并且物位测量仪是自由辐射雷达物位测量仪。测量信号可以在运行中连续地或也以脉冲的方式被发射。
[0005]在实践中，可以在不同的状况下使用自由辐射物位测量仪。
[0006]根据测量状况，由物位测量仪发出的测量信号的不同特性是有利的。所发出的信号的张角尤其是相关的，所述张角限定为了确定物位所考虑的介质的区域。具有大张角的宽测量信号具有以下优点：检测介质的大的面积来确定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种由用于测量容器（10）中介质的物位的物位测量仪（2）和至少一个瞄准器（3）组成的系统（1），其中所述物位测量仪（2）具有用于产生测量信号的控制和评估单元（4）和工艺连接元件（5），其中所述工艺连接元件（5）在介质侧具有透射元件（6），其中所述透射元件（6）至少部分地对于所述测量信号是可通过的，其特征在于，所述至少一个瞄准器（3）与所述工艺连接元件（5）连接，其中所述至少一个瞄准器（3）在介质侧具有用于将所述测量信号耦合输入到所述容器（10）中的瞄准器透镜（9），其中所述瞄准器透镜（9）被构造并且在运行中在所述测量信号的传播方向上布置在所述透射元件（6）后面，使得所述瞄准器透镜改变所述测量信号的张角。2.根据权利要求1所述的系统（1），其特征在于，所述透射元件（6）被构造为透镜（7）或窗口。3.根据权利要求1或2中任一项所述的系统（1），其特征在于，在所述工艺连接元件（5）和所述瞄准器（3）之间的连接被构造为可拆卸连接，其中所述连接被构造为力配合的和/或形状配合的连接，其中所述连接优选地通过螺纹或通过卡槽连接或通过法兰连接来实现。4.根据权利要求1或2中任一项所述的系统（1），其特征在于，在所述工艺连接元件（5）和所述瞄准器（3）之间的连接被构造为不可拆卸连接，其中所述不可拆卸连接优选地被构造为材料决定的连接。5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统（1），其特征在于，存在固定装置，其中能够通过所述固定装置使所述瞄准器与所述容器（10）连接。6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其特征在于，所述瞄准器（3）被构造为适配器，其中所述适配器尤其是被构造为使得能够通过螺纹使所述适配器不仅与所述工艺连接元件连接而且与所述容器连接件连接。7.根据权利要求1至6中任一项所述的系统（1），其特征在于，所述至少一个瞄准器（3）具有内部空间，并且所述内部空间至少部分地被构造为空心的，其中尤其是在所述透射元件（6）和所述瞄准器透镜（9）之间的区域被构造为空腔。8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统（1），其特征在于，所述至少一个瞄准器（3）具有内部空间，并且在所述至少一个瞄准器（3）的内部空间中存在用于引导和/或...

【专利技术属性】
技术研发人员：C，
申请(专利权)人：克洛纳测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：