【技术实现步骤摘要】
一种存储空间的动态调整方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及数据存储领域，尤其涉及一种存储空间的动态调整方法、装置、设备及存储介质。
[0002]
技术介绍
时间相关单光子计数(Time
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correlated Single PhotonCounting,TCSPC)技术是一套用于精确计量两个物理事件发生时间差的技术，被广泛应用于对时间差计量精度有极高要求的领域，如激光雷达测距。在实际应用中，保持所有实验参数相同的前提下进行反复测量，用TCSPC测量的两个物理现象的发生时间差会因误差及随机性等原因，在时域上分布于一个或数个特征值附近。当重复测量次数达到一定数量时，可以获得所测时间差在时域上的分布直方图，该分布直方图囊括所测物理现象的诸多重要数据，是数据后处理的重要依据。
[0003]当TCSPC被以电路的形式实现时，时差直方图被存储于存储器相应的存储单元中，存储器的物理大小决定了它存储信息的能力，同时决定了所存的时差直方图的数据大小。大量的时差直方图数据可以提高TCSPC电路的时差记录...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储空间的动态调整方法，其特征在于，包括：接收待存储信号；所述待存储信号具有采样时刻信息；根据所述待存储信号的采样时刻信息，从采样单元序列中确定所述待存储信号对应的目标采样单元；所述采样单元序列是根据预设采样周期和预设采样精度确定的；确定所述目标采样单元对应的目标分组，将所述待存储信号存储至所述目标分组对应的基础存储空间；所述目标分组对应的基础存储空间是根据分组序列中分组的数量将第一存储空间分配给分组序列中的各分组时所述目标分组得到的存储空间，所述第一存储空间是从预设存储空间中激活的部分存储空间；检测所述分组序列中各分组对应的基础存储空间的信号存储量，根据各所述分组对应的基础存储空间的信号存储量，从所述分组序列中确定待调整分组；所述待调整分组对应的基础存储空间的信号存储量大于预设存储量阈值；从所述预设存储空间中激活部分存储空间，将激活得到的第二存储空间分配给所述待调整分组，得到所述待调整分组对应的目标存储空间；所述待调整分组对应的目标存储空间大于所述待调整分组对应的基础存储空间。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设采样周期包括第一预设采样周期和第二预设采样周期，所述预设采样精度包括第一预设采样精度和第二预设采样精度，所述第一预设采样周期大于所述第二预设采样周期，所述第一预设采样精度高于所述第二预设采样精度，所述第二预设采样周期与静态存储的采样周期相等，所述第二预设采样精度与所述静态存储的采样精度相等；所述方法还包括确定所述采样单元序列的步骤：获取所述预设存储空间、所述第一预设采样周期和所述第一预设采样精度，根据所述第一预设采样周期和所述第一预设采样精度的比值确定第一采样单元序列；将所述第一采样单元序列作为所述采样单元序列。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设采样周期包括第一预设采样周期和第二预设采样周期，所述预设采样精度包括第一预设采样精度和第二预设采样精度，所述第一预设采样周期大于所述第二预设采样周期，所述第一预设采样精度高于所述第二预设采样精度，所述第二预设采样周期与静态存储的采样周期相等，所述第二预设采样精度与所述静态存储的采样精度相等；所述方法还包括确定所述采样单元序列的步骤：获取所述预设存储空间、所述第二预设采样周期和所述第二预设采样精度，根据所述第二预设采样周期和所述第二预设采样精度的比值确定第二采样单元序列；将所述第二采样单元序列作为所述采样单元序列。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设采样周期包括第一预设采样周期和第二预设采样周期，所述预设采样精度包括第一预设采样精度和第二预设采样精度，所述第一预设采样周期大于所述第二预设采样周期，所述第一预设采样精度高于所述第二预设采样精度，所述第二预设采样周期与静态存储的采样周期相等，所述第二预设采样精度与所述静态存储的采样精度相等；所述方法还包括确定所述采样单元序列的步骤：获取所述预设存...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵彦，王天洋，
申请(专利权)人：苏州识光芯科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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