一种用于发光材料多种光谱测量的仪器制造技术

本发明专利技术公开了一种用于发光材料多种光谱测量的仪器，包括旋涂仪、LED灯、卤素灯和光谱仪，所述旋涂仪的顶部通过螺栓连接有样品台，所述旋涂仪前侧的顶部通过螺栓连接有旋涂仪显示屏，所述旋涂仪顶部的后侧通过螺栓连接有调节管，所述调节管的内腔活动连接有调节板，所述调节板前侧的顶部铆接有第一支杆，所述第一支杆的前端铆接有壳体。本发明专利技术通过旋涂仪、LED灯、卤素灯、光谱仪、样品台和旋涂仪显示屏的配合，具备能够对发光材料进行多重光谱测量的优点，使其可以对动态吸收光谱、散射光谱和动态荧光光谱进行检测，能够测量3类光谱数据，通过3类光谱数据的分析，进而对发光材料性能进行一系列的分析。进行一系列的分析。进行一系列的分析。

【技术实现步骤摘要】
一种用于发光材料多种光谱测量的仪器


[0001]本专利技术涉及材料光谱分析
，具体为一种用于发光材料多种光谱测量的仪器。

技术介绍

[0002]光谱分析技术被广泛的应用于化学化工、环境检测、医学检测等领域。尤其在有机太阳能电池领域中，紫外吸收光谱被用来表征活性层材料光电流吸收，具有强互补吸收光谱可以获得很高的光电流响应，紫外吸收技术的成本低，但却可以提供清晰的薄膜微结构和组成，通过研究活性层材料动态吸收光谱的变化可以研究光伏材料成膜的机理，进一步深入研究光伏材料的成膜机制，从而建立详细详细的分子结构与形貌结构和器件性能之间的关系。
[0003]专利申请公布号CN207163574U的技术专利公开了一种光纤光谱仪，是为了使光谱仪不随外界的温度变化进而使得数据出现漂移，本专利技术在探头设计中增加了一套恒温系统，使得探头的温度始终保持在25摄氏度。方案是在光谱仪内设有检测光谱仪内温度的温控探头，并在光谱仪内设有补偿光谱仪内温度的加热装置，还包括控制加热片加热的控制器，控制器与电源电连接，在控制器内预设一个预设值，当光谱仪通电状态下温控探头检测到光谱仪内温度低于设定值时通过控制器控制加热装置加热，当加热装置加热至光谱仪内温度达到设定值时控制器控制加热装置停止加热。本专利技术在光谱仪内设置加热装置，使得当外界温度较低时加热装置可以自动补偿光谱仪内的温度，确保设备的稳定性。
[0004]但是上述装置在实际使用时仍旧存在一些缺点，较为明显的就是只能对光谱材料性能进行单一检测和分析，无法对光谱测量材料不同状态下的光谱数据进行检测分析，从而影响数据采集效果，同时不具有入射光角度调节功能，不能根据实际检测情况对入射光的角度进行调节处理，进而降低了光谱仪器的适用性。
[0005]因此，专利技术一种用于发光材料多种光谱测量的仪器来解决上述问题很有必要。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种用于发光材料多种光谱测量的仪器，具备能够对发光材料进行多重光谱测量及入射光角度可调节的优点，解决了现有的光谱仪器在使用过程中，无法对对光谱测量材料不同状态下的光谱数据进行检测分析，同时不能对入射光角度进行调节的问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于发光材料多种光谱测量的仪器，包括旋涂仪、LED灯、卤素灯和光谱仪，所述旋涂仪的顶部通过螺栓连接有样品台，所述旋涂仪前侧的顶部通过螺栓连接有旋涂仪显示屏，所述旋涂仪顶部的后侧通过螺栓连接有调节管，所述调节管的内腔活动连接有调节板，所述调节板前侧的顶部铆接有第一支杆，所述第一支杆的前端铆接有壳体，所述壳体的内腔活动连接有调节球，所述调节球的前侧铆接有第二支杆，所述第二支杆的前端铆接有固定支架，所述固定支架的前侧活动连接有
光纤，所述固定支架的前侧通过螺栓连接有安装机构。
[0008]优选的，所述安装机构包括安装板，所述安装板的后侧通过螺栓与固定支架固定连接，所述安装板相对的一侧铆接有安装架，所述安装架的后侧与光纤相接触。
[0009]优选的，所述安装架的数量为若干个，所述安装架之间等距离排列。
[0010]优选的，所述壳体的右侧贯穿设置有紧固螺栓，所述紧固螺栓与壳体螺纹连接。
[0011]优选的，所述调节管后侧的顶部贯穿设置有定位螺栓，所述调节板的后侧开设有定位槽，所述定位螺栓的前端贯穿调节管并延伸至定位槽的内腔，所述定位螺栓与调节管螺纹连接。
[0012]优选的，所述卤素灯的波长范围为350nm
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2500nm，所述LED灯波长为375nm、450nm、555nm和660nm。
[0013]优选的，所述光纤位于样品台的顶部，所述卤素灯位于光纤的顶部。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：1、本专利技术通过旋涂仪、LED灯、卤素灯、光谱仪、样品台和旋涂仪显示屏的配合，具备能够对发光材料进行多重光谱测量的优点，使其可以对动态吸收光谱、散射光谱和动态荧光光谱进行检测，能够测量3类光谱数据，通过3类光谱数据的分析，进而对发光材料性能进行一系列的分析。
[0015]2、本专利技术通过调节管、调节板、第一支杆、壳体、调节球、第二支杆和固定支架的配合，使入射光通过不同的角度照射到测试材料上，实现多角度散射光谱的测量，也可以减少反射光的强度，进而测的更强的材料荧光光谱数据。
附图说明
[0016]图1为本专利技术结构正视示意图；图2为本专利技术实施例提供吸收光谱测试结果示意图；图3为本专利技术实施例提供的动态荧光和散射光谱测试结果示意图；图4为本专利技术局部结构右视剖视示意图；图5为本专利技术局部结构正视示意图。
[0017]图中：1 LED灯、2固定支架、3样品台、4光谱仪、5光纤、6旋涂仪、7旋涂仪显示屏、8卤素灯、9调节管、10调节板、11第一支杆、12壳体、13调节球、14第二支杆、15安装机构、16安装板、17安装架、18紧固螺栓、19定位螺栓、20定位槽。
具体实施方式
[0018]请参阅图1
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图5，一种用于发光材料多种光谱测量的仪器，包括旋涂仪6、LED灯1、卤素灯8和光谱仪4，LED灯1是一块电致发光的半导体材料芯片，LED又叫发光二极管，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光，LED的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附在一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，使整个晶片被环氧树脂封装起来，LED可以直接发出红、黄、蓝、绿、青、橙、紫、白色的光，光谱仪4又称分光仪，以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置，它由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成，以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上或扫描某一波段进行强度测
定，分为单色仪和多色仪两种，光谱仪4是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成，利用光谱仪4可测量物体表面反射的光线，阳光中的七色光是肉眼能分的部分，但若通过光谱仪4将阳光分解，按波长排列，可见光只占光谱中很小的范围，其余都是肉眼无法分辨的光谱，如红外线、微波、紫外线、X射线等等，通过光谱仪4对光信息的抓取、以照相底片显影，或电脑化自动显示数值仪器显示和分析，从而测知物品中含有何种元素，这种技术被广泛地应用于空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中，将复色光分离成光谱的光学仪器，光谱仪4有多种类型，按探测方法分，有直接用眼观察的分光镜，用感光片记录的摄谱仪，以及用光电或热电元件探测光谱的分光光度计等，散射光谱，最为广泛应用分析测试的是拉曼光谱，是一种电磁波与物质发生相互作用后部分光子偏离原来的入射方向而分散传播的现象，材料的散射光谱取决于材料结构及入射波的波长大小因素，可以分析材料的分子量、聚合物构象、晶核尺寸、聚集态结构等，荧光光谱是指物质吸收了较短波长的光能，电子被激发跃迁至较高单线态能级，返回到基态时发射较长波长的特征光谱，荧光检测具有很高的灵敏性和很强的选择性，可以分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于发光材料多种光谱测量的仪器，包括旋涂仪（6）、LED灯（1）、卤素灯（8）和光谱仪（4），其特征在于：所述旋涂仪（6）的顶部通过螺栓连接有样品台（3），所述旋涂仪（6）前侧的顶部通过螺栓连接有旋涂仪显示屏（7），所述旋涂仪（6）顶部的后侧通过螺栓连接有调节管（9），所述调节管（9）的内腔活动连接有调节板（10），所述调节板（10）前侧的顶部铆接有第一支杆（11），所述第一支杆（11）的前端铆接有壳体（12），所述壳体（12）的内腔活动连接有调节球（13），所述调节球（13）的前侧铆接有第二支杆（14），所述第二支杆（14）的前端铆接有固定支架（2），所述固定支架（2）的前侧活动连接有光纤（5），所述固定支架（2）的前侧通过螺栓连接有安装机构（15）。2.根据权利要求1所述的一种用于发光材料多种光谱测量的仪器，其特征在于：所述安装机构（15）包括安装板（16），所述安装板（16）的后侧通过螺栓与固定支架（2）固定连接，所述安装板（16）相对的一侧铆接有安装架（17），所述安装架（17）的后侧与光纤（5）相接触。3.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：卜腊菊，余继发，鲁广昊，
申请(专利权)人：陕西谱光微视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：