一种用于原子力显微镜的微顶推装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于原子力显微镜的微顶推装置，该微顶推装置包括壁筒、螺杆式机械顶推装置、锁紧螺母、实验样品平台；螺杆式机械顶推装置包括位移调节扣、螺杆、限位及加载模块；壁筒为中间镂空的圆环结构，壁筒的中心有贯穿整个壁筒的穿孔；锁紧螺母固定在壁筒穿孔的内侧壁上；螺杆与锁紧螺母通过螺纹配合；螺杆的底端与位移调节扣固定连接；螺杆的顶端与限位及加载模块连接；实验样品平台设置在限位及加载模块上。本实用新型专利技术通过螺杆式机械顶推装置可以精确控制实验样品的向上位移和速度，原位实现AFM各种模式对材料在同一位置同一应变应变状态下的表征，同时可精确地获取同一区域在应力松弛过程中不同时间的表征结果。一区域在应力松弛过程中不同时间的表征结果。一区域在应力松弛过程中不同时间的表征结果。

【技术实现步骤摘要】
一种用于原子力显微镜的微顶推装置


[0001]本技术涉及一种微顶推装置，具体涉及一种用于原子力显微镜的微顶推装置，属于微观材料检测


技术介绍

[0002]传统的力学实验研究难以获取材料在变形过程中对应的微观结构演化图像，而通过分子模拟虽然可以提供重要的原子或分子尺度的信息，但这些模拟通常基于严苛的极限条件，如理想的高应变率、超低温度或极小的样品尺寸等，难以为实验所验证。原位观测材料表面在变形过程中的力、电、热、磁、光等性质变化，是研究材料这些性质变化对应所的材料结构机理的重要途径。当原位观测的尺度达到纳米级甚至原子级时，这种观测所得到的信息，可为材料的各种理论和模拟研究提供重要依据和验证。
[0003]原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。AFM可以在空气和液体环境下对材料纳米区域的物理化学性质、形貌进行原子级分辨率探测，或直接进行纳米操作。它通过检测待测样品表面和微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于原子力显微镜的微顶推装置，其特征在于：该微顶推装置包括壁筒(1)、螺杆式机械顶推装置(2)、锁紧螺母(3)、实验样品平台(4)；螺杆式机械顶推装置(2)包括位移调节扣(201)、螺杆(202)、限位及加载模块(203)；壁筒(1)为中间镂空的圆环结构，壁筒(1)的中心有贯穿整个壁筒的穿孔；锁紧螺母(3)固定在壁筒(1)穿孔的内侧壁上；螺杆(202)与锁紧螺母(3)通过螺纹配合；螺杆(202)的底端与位移调节扣(201)固定连接；螺杆(202)的顶端与限位及加载模块(203)连接；实验样品平台(4)设置在限位及加载模块(203)上。2.根据权利要求1所述的用于原子力显微镜的微顶推装置，其特征在于：壁筒(1)的顶部设有横向凹槽(101)；实验样品平台(4)放置在横向凹槽(101)内；螺杆式机械顶推装置(2)处于最小位移时，螺杆式机械顶推装置(2)的限位及加载模块(203)的上表面与横向凹槽(101)的底面齐平。3.根据权利要求2所述的用于原子力显微镜的微顶推装置，其特征在于：壁筒(1)的顶部还设有竖向凹槽(102)，竖向凹槽(102)与横向凹槽(101)互相垂直设置在壁筒(1)的顶部。4.根据权利要求1
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3中任一项所述的用于原子力显微镜的微顶推装置，其特征在于：限位及加载模块(203)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：许福，李志康，戴博韬，刘易洲，
申请(专利权)人：湘潭大学，
类型：新型
国别省市：