球面扫描测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种球面扫描测试系统，探针安装于扫描机构上，转台用于承载待测天线，并带动待测天线进行水平面转动，探针包括：第一探针和第二探针，第一探针的数量至少为两个，且第一探针的测试频段不高于67GHz，第二探针的测试频段与第一探针的测试频段不同；扫描机构，用于带动探针在竖直方向做圆弧形运动，实现探针在圆弧形轨迹的不同位置对待测天线进行无线通信，以配合转台的转动对待测天线进行球面扫描测试。本发明专利技术的系统在测试频段跨度非常大的场景中应用时，能够兼顾测试的复杂度和测试的效率。测试的效率。测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
球面扫描测试系统


[0001]本专利技术涉及通信的
，尤其是涉及一种球面扫描测试系统。

技术介绍

[0002]天线的测试是用特性已知的探针在天线近场区或远场区某一表面上采样，得到场的幅度和相位分布，若为近场区采样，需要再通过严格的数学变换得到待测天线的远场特性，而若为远场区采样，那么便能直接得到待测天线的远场特性。根据采样表面的不同，分为平面扫描、柱面扫描和球面扫描。球面扫描中，探针围绕待测天线的虚拟球面移动并采样，球面扫描的测试坐标系如图1所示。
[0003]目前的一种球面扫描测试系统为多探针形式，其中的一种具体结构为：多个探针等间距的固定安装于扫描机构上，多个探针的位置对应于球面扫描坐标系中不同的θ角度，待测天线置于转台上，转台的转动中心位于坐标系的原点。当转台带动待测天线进行水平面转动时，便能实现对待测天线的球面扫描测试。该种球面扫描测试系统使用了多个探针，测试效率高。而在一些实际的测试场景中，需要的测试频段跨度非常大，也就是说需要在不同的测试频段对待测天线进行测试，一个探针的工作频段是有限的，那么就需要在测试中更换不同测试频段的探针，而上述系统由于探针数量多，更换探针的工作量大，并且对于一些大型的测试系统，扫描机构很高，更换探针操作极其不便。此外，同一个扫描机构为了兼容不同频率的探针，射频链路会变得庞大而复杂，也提高了成本。
[0004]目前还有一种球面扫描测试系统为单探针形式，其中的一种具体结构为：单个探针安装于扫描机构上，扫描机构可以带动探针在竖直方向做圆弧形运动以到达球面扫描坐标系中不同的θ角度，待测天线置于转台上，当转台带动待测天线进行水平面转动时，便能实现对待测天线的球面扫描测试。该种球面扫描测试系统中，由于探针只有一个，便于不同测试频段的探针的更换，进而实现测试频段跨度大的测试需求，但是，由于只有一个探针进行采样，测试效率极低。
[0005]综上，现有的球面扫描测试系统在测试频段跨度非常大的场景中应用时，无法兼顾测试的复杂度和测试的效率。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种球面扫描测试系统，以缓解现有的球面扫描测试系统在测试频段跨度非常大的场景中应用时，无法兼顾测试的复杂度和测试的效率的技术问题。
[0007]第一方面，本专利技术实施例提供了一种球面扫描测试系统，包括：探针、扫描机构和转台；
[0008]所述探针安装于所述扫描机构上，所述转台用于承载待测天线，并带动所述待测天线进行水平面转动，其中，所述探针包括：第一探针和第二探针，所述第一探针的数量至少为两个，且所述第一探针的测试频段不高于67GHz，所述第二探针的测试频段与所述第一
探针的测试频段不同；
[0009]所述扫描机构，用于带动所述探针在竖直方向做圆弧形运动，实现所述探针在圆弧形轨迹的不同位置对所述待测天线进行无线通信，以配合所述转台的转动对所述待测天线进行球面扫描测试。
[0010]进一步的，当所述第一探针的数量为多个时，多个所述第一探针等间距安装于所述扫描机构上。
[0011]进一步的，所述第一探针用于在所述扫描机构的带动下，完成以所述待测天线为球心，对所述待测天线进行θ角度范围为0
°
～X
°
的扫描测试，其中，θ表示所述第一探针与所述球心之间的连线和在所述球心位置与所述转台垂直的线之间的夹角，X为大于0的任意值；
[0012]所述第二探针的数量为1个，且所述第二探针可拆卸地安装于所述扫描机构上，所述第二探针用于在所述扫描机构的带动下，完成以所述待测天线为球心，对所述待测天线进行θ角度范围为0
°
～Y
°
的扫描测试，其中，Y为大于0的任意值。
[0013]进一步的，所述扫描机构包括：第一扫描机构和第二扫描机构；
[0014]所述第一探针安装于所述第一扫描机构上，所述第二探针安装于所述第二扫描机构上；
[0015]所述第一扫描机构，用于带动所述第一探针在竖直方向做圆弧形运动，实现所述第一探针对所述待测天线进行圆弧形轨迹的扫描测试，以配合所述转台的转动对所述待测天线在所述第一探针对应的测试频段进行球面扫描测试；
[0016]所述第二扫描机构，用于带动所述第二探针在竖直方向做圆弧形运动，实现所述第二探针对所述待测天线进行圆弧形轨迹的扫描测试，以配合所述转台的转动对所述待测天线在所述第二探针对应的测试频段进行球面扫描测试。
[0017]进一步的，所述第一扫描机构和所述第二扫描机构均为圆弧形导轨，两者固定连接或者为一体结构。
[0018]进一步的，所述第一扫描机构和第二扫描机构共同构成一个轴对称的圆弧形导轨。
[0019]进一步的，所述第二探针通过探头指向调节机构可拆卸地安装于所述扫描机构上；
[0020]所述探头指向调节机构，用于调整所述第二探针的指向，以使所述第二探针的指向方向对准所述待测天线的相位中心。
[0021]进一步的，还包括：测试仪表；
[0022]每个所述第一探针和所述第二探针分别与所述测试仪表连接。
[0023]进一步的，所述测试仪表通过射频开关与至少两个所述第一探针连接，所述射频开关用于切换各所述第一探针，以实现各所述第一探针逐个扫描的采样方式。
[0024]进一步的，各所述第一探针分别连接所述测试仪表的端口，以实现各所述第一探针同时并行扫描的采样方式。
[0025]进一步的，还包括：电波暗室；
[0026]所述探针、所述扫描机构和所述转台设置于所述电波暗室内，所述电波暗室，用于提供测试所需的电磁环境。
[0027]进一步的，所述第一探针的测试频段不高于40GHz。
[0028]进一步的，所述第二探针的测试频段不低于40GHz。
[0029]在本专利技术实施例中，提供了一种球面扫描测试系统，包括：探针、扫描机构和转台；探针安装于扫描机构上，转台用于承载待测天线，并带动待测天线进行水平面转动，其中，探针包括：第一探针和第二探针，第一探针的数量至少为两个，且第一探针的测试频段不高于67GHz，第二探针的测试频段与第一探针的测试频段不同；扫描机构，用于带动探针在竖直方向做圆弧形运动，实现探针在圆弧形轨迹的不同位置对待测天线进行无线通信，以配合转台的转动对待测天线进行球面扫描测试。通过上述描述可知，本专利技术的球面扫描测试系统在测试频段跨度非常大的场景中应用时，至少两个第一探针能够对待测天线在不高于67GHz的测试频段进行高效率的测试，当需要在其它测试频段对待测天线进行测试时，则可以使用第二探针，当扫描机构带动第二探针运动到较低的空间位置时，即可方便地对其进行更换，简单方便，能够兼顾测试的复杂度和测试的效率，缓解了现有的球面扫描测试系统在测试频段跨度非常大的场景中应用时，无法兼顾测试的复杂度和测试的效率的技术问题。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种球面扫描测试系统，其特征在于，包括：探针、扫描机构和转台；所述探针安装于所述扫描机构上，所述转台用于承载待测天线，并带动所述待测天线进行水平面转动，其中，所述探针包括：第一探针和第二探针，所述第一探针的数量至少为两个，且所述第一探针的测试频段不高于67GHz，所述第二探针的测试频段与所述第一探针的测试频段不同；所述扫描机构，用于带动所述探针在竖直方向做圆弧形运动，实现所述探针在圆弧形轨迹的不同位置对所述待测天线进行无线通信，以配合所述转台的转动对所述待测天线进行球面扫描测试。2.根据权利要求1所述的球面扫描测试系统，其特征在于，当所述第一探针的数量为多个时，多个所述第一探针等间距安装于所述扫描机构上。3.根据权利要求1所述的球面扫描测试系统，其特征在于，所述第一探针用于在所述扫描机构的带动下，完成以所述待测天线为球心，对所述待测天线进行θ角度范围为0
°
～X
°
的扫描测试，其中，θ表示所述第一探针与所述球心之间的连线和在所述球心位置与所述转台垂直的线之间的夹角，X为大于0的任意值；所述第二探针的数量为1个，且所述第二探针可拆卸地安装于所述扫描机构上，所述第二探针用于在所述扫描机构的带动下，完成以所述待测天线为球心，对所述待测天线进行θ角度范围为0
°
～Y
°
的扫描测试，其中，Y为大于0的任意值。4.根据权利要求1所述的球面扫描测试系统，其特征在于，所述扫描机构包括：第一扫描机构和第二扫描机构；所述第一探针安装于所述第一扫描机构上，所述第二探针安装于所述第二扫描机构上；所述第一扫描机构，用于带动所述第一探针在竖直方向做圆弧形运动，实现所述第一探针对所述待测天线进行圆弧形轨迹的扫描测试，以配合所述转台的转动对所述待测天线...

【专利技术属性】
技术研发人员：于伟，漆一宏，吴济宇，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：