一种平面波生成器及平面波生成器测试系统技术方案

本发明专利技术涉及天线测量技术领域，本发明专利技术公开了一种平面波生成器及平面波生成器测试系统。该种平面波生成器包括屏蔽暗室、天线阵列组件和待测天线组件；该天线阵列组件和该待测天线组件位于该屏蔽暗室内；该天线阵列组件包括第一支撑板和位于该第一支撑板上的天线阵列、L个增高件；该L大于等于1且小于等于N；该L为整数；该天线阵列用于发射平面波；该天线阵列包括N个阵元；该N为大于等于2的整数；该N个阵元中任一个阵元通过对应的一个增高件与该第一支撑板连接。本发明专利技术提供的该平面波生成器能够有效降低天线阵列的RCS，从而有效降低反射的电磁波对静区的干扰影响，提升静区的平面波合成质量，具有测试精度更高的优点。具有测试精度更高的优点。具有测试精度更高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种平面波生成器及平面波生成器测试系统


[0001]本专利技术涉及天线测量
，特别涉及一种平面波生成器及平面波生成器测试系统。

技术介绍

[0002]随着无线电技术设备的应用越来越广泛，对其相关研究也越来越重要，在无线电技术设备中，通常基于电磁波来进行信号传输，而能够产生辐射的装置为天线，可见，天线是无线电信号传输的重要部分。
[0003]随之，对天线的主要性能参数指标进行确定也是非常重要的，通常，可以基于以下三种方式对天线进行测量。第一种为远场法，通过一个远处的发射器向接收天线发送一个基本上平面极化的波,接收天线接收信号的幅度和相位由人或者仪器记录下来,通过改变准平面波的入射角度,从而得到接收天线的远场方向图，但该种测试方法具有场地空间尺寸很大，占地成本和造价高，传播损耗大，测试时间长、测试成本高的缺点；第二种为紧缩场测量法，利用微波透镜或抛物面反射器将探头产生的球面波前在待测天线处转变为平面波前，因此降低了对测试距离的要求,测量可以在微波暗室中进行,避免了远场法的一些缺点，但是为了产生精度比较好的平面波,以及减少抛物面天线的边本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面波生成器，其特征在于，包括屏蔽暗室(1)、天线阵列组件(2)和待测天线组件(3)；所述天线阵列组件(2)和所述待测天线组件(3)位于所述屏蔽暗室(1)内；所述天线阵列组件(2)包括第一支撑板(22)和位于所述第一支撑板(22)上的天线阵列(21)、L个增高件(23)；所述L大于等于1且小于等于N；所述L为整数；所述天线阵列(21)用于发射平面波；所述天线阵列(21)包括N个阵元(211)；所述N为大于等于2的整数；所述N个阵元(211)中任一个阵元(211)通过对应的一个增高件(23)与所述第一支撑板(22)连接。2.根据权利要求1所述的平面波生成器，其特征在于，所述L小于等于N/2；预设方向的相邻的阵元(211)距离所述第一支撑板(22)的距离之差大于等于预设阈值，所述预设方向包括纵向或者横向。3.根据权利要求1所述的平面波生成器，其特征在于，所述天线阵列组件(2)还包括天线罩(24)集；所述天线罩(24)集包括M个天线罩(24)；所述M为大于等于1且小于等于N的整数；所述M个天线罩(24)中的每个天线罩(24)内置有一个所述阵元(211)。4.根据权利要求3所述的平面波生成器，其特征在于，所述每个天线罩(24)为凹槽结构；所述每个天线罩(24)包括连接的支撑柱(241)和锥形结构(242)；所述支撑柱(241)与所述第一支撑板(22)连接。5.根据权利要求1所述的平面波生成器，其特征在于，所述N个阵元(211)中的任K个阵元(211)的周围设有吸波件(25)；所述K为大于1小于等于N的整数。6.根据权利要求1所述的平面波生成器，其特征在于，所述待测天线组件(3)包括转轴结构(31)、第二支撑板(32)和待...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹宝华，
申请(专利权)人：南京捷希科技有限公司，
类型：发明
国别省市：