测试装置及测试系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种测试装置及测试系统，包括：测试天线、测试仪表、承载台、放大器和射频线缆；其中，承载台用于承载被测器件，放大器与承载台之间的距离小于放大器与测试仪表之间的距离，测试仪表与测试天线和被测器件连接，放大器通过射频线缆与测试仪表和被测器件连接；测试仪表用于输出测试信号，和/或接收被测器件发送的信号；测试天线用于将测试信号发送至被测器件，和/或将接收到的被测器件发送的信号发送至测试仪表；放大器用于将测试信号进行放大，并将放大后的测试信号发送至被测器件。本实用新型专利技术提高了测试装置的测试效率。本实用新型专利技术提高了测试装置的测试效率。本实用新型专利技术提高了测试装置的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
测试装置及测试系统


[0001]本技术涉及无线性能测试
，尤其是涉及一种测试装置及测试系统。

技术介绍

[0002]放大器，或射频放大器，是一种用来增加信号功率的电子器件，是无线通信系统中非常重要的组件，常用作信号发生器下游的增强器，以提高信号电平。理想的放大器是一个线性器件，但实际上，放大器仅在有限范围内表现为线性放大。放大器的动态范围是指放大器不失真的放大小信号电平与大信号电平的比值，该比值通常通过dB来表示两信号的电平差。当给定足够强的输入信号时，线性系统将达到偏离输入和输出之间线性关系的临界点，此时，系统可以被认为进入压缩或开始饱和。当超出临界点后，输入和输出之间不再具有有效的线性关系，放大器不再被认为是线性的。放大器的输出功率不能无限增加，当放大器的输入功率加大到某一值后，再加大输入功率并不会改变输出功率的大小，该输出功率称为功率放大器的饱和输出功率，是放大器能输出功率的上限。目前，在对被测器件(Device under test，DUT)的无线性能进行测试时，射频线缆的损耗会对测试效率产生影响。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种测试装置及测试系统，以提高了测试装置的测试效率。
[0004]为了实现上述目的，本技术实施例采用的技术方案如下：
[0005]第一方面，本技术实施例提供了一种测试装置，包括：测试天线、测试仪表、承载台、放大器和射频线缆；其中，承载台用于承载被测器件，放大器与承载台之间的距离小于放大器与测试仪表之间的距离，测试仪表与测试天线和被测器件连接，放大器通过射频线缆与测试仪表和被测器件连接；测试仪表用于输出测试信号，和/或接收被测器件发送的信号；测试天线用于将测试信号发送至被测器件，和/或将接收到的被测器件发送的信号发送至测试仪表；放大器用于将测试信号进行放大，并将放大后的测试信号发送至被测器件。
[0006]在一种实施方式中，射频线缆包括：仪表端射频线缆和被测器件端射频线缆；仪表端射频线缆用于连接放大器的输入端口与测试仪表的输出端口；被测器件端射频线缆用于连接放大器的输出端口与被测器件；仪表端射频线缆和被测器件端射频线缆的长度小于仪表端射频线缆的长度。
[0007]在一种实施方式中，测试装置还包括：耦合器；其中，耦合器的输入端口与放大器的输出端口相连接，耦合器的主输出端口与被测器件相连接，耦合器的耦合回路端口与测试仪表相连接。
[0008]在一种实施方式中，测试装置还包括：射频开关；其中，射频开关分别与耦合器的主输出端口和至少一个被测器件相连接。
[0009]在一种实施方式中，承载台为可转动的转台。
[0010]在一种实施方式中，放大器设置于承载台上。
[0011]在一种实施方式中，测试仪表包括：信号发生仪或矢量网络分析仪。
[0012]第二方面，本技术实施例提供了一种测试系统，包括：第一方面提供的任一项的测试装置，以及至少一个被测器件。
[0013]本技术实施例带来了以下有益效果：
[0014]本技术实施例提供的上述测试装置及测试系统，包括：测试天线、测试仪表、承载台、放大器和射频线缆；其中，承载台用于承载被测器件，放大器与承载台之间的距离小于放大器与测试仪表之间的距离，测试仪表与测试天线和被测器件连接，放大器通过射频线缆与测试仪表和被测器件连接；测试仪表用于输出测试信号，和/或接收被测器件发送的信号；测试天线用于将测试信号发送至被测器件，和/或将接收到的被测器件发送的信号发送至测试仪表；放大器用于将测试信号进行放大，并将放大后的测试信号发送至被测器件。上述测试装置中，放大器分别连接测试仪表和被测器件，将测试仪表发出的测试信号放大后发送至被测器件，放大器设置于承载台周围，从而能够减少连接放大器与被测器件的线缆长度，进而减少测试信号的损耗，提高测试效率。
[0015]本技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0016]为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术实施例提供的一种测试装置的结构示意图；
[0019]图2为本技术实施例提供的另一种测试装置的结构示意图；
[0020]图3为本技术实施例提供的一种测试装置的示意图；
[0021]图4为本技术实施例提供的另一种测试装置的示意图；
[0022]图5为现有的一种测试装置的测试示意图；
[0023]图6为本技术实施例提供的一种测试装置的测试示意图。
[0024]图标：
[0025]100
‑
测试仪表；200
‑
放大器；300
‑
承载台；400
‑
测试天线；500
‑
耦合器；900
‑
DUT；201
‑
仪表端射频线缆；202
‑
被测器件端射频线缆。
具体实施方式
[0026]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]本公开实施例的提出基于以下发现：
[0028]目前，在对被测器件(Device under test，DUT)的无线性能进行测试时，放大器通常通过线缆分别连接测试仪表和DUT，为了避免测试仪表干扰测试，测试仪表往往远离测试静区，或者置于电波暗室的外部，放大器通常置于测试仪表附近。在这种情况下，对于较大的测试系统而言，连接DUT与测试仪表的射频线缆可能会很长，较长的线缆意味着较大的损耗，经过放大器放大的信号，在通过射频线缆的损耗之后，实际到达DUT的信号可能会很弱，从而影响测试效率。
[0029]基于此，本技术实施例提供的一种测试装置及测试系统，可以提高测试装置的测试效率。
[0030]为便于对本实施例进行理解，首先对本技术实施例所公开的一种测试装置进行详细介绍，参见图1所示的一种测试装置的结构示意图，示意出该装置主要包括以下结构：测试仪表100、放大器200、承载台300、测试天线40本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：测试天线、测试仪表、承载台、放大器和射频线缆；其中，所述承载台用于承载被测器件，所述放大器与所述承载台之间的距离小于所述放大器与所述测试仪表之间的距离，所述测试仪表与所述测试天线连接，所述放大器通过所述射频线缆与所述测试仪表和所述被测器件连接；所述测试仪表用于输出测试信号，和/或接收所述被测器件发送的信号；所述测试天线用于将所述测试信号发送至所述被测器件，和/或将接收到的所述被测器件发送的信号发送至所述测试仪表；所述放大器用于将所述测试信号进行放大，并将放大后的所述测试信号发送至所述被测器件。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述射频线缆包括：仪表端射频线缆和被测器件端射频线缆；所述仪表端射频线缆用于连接所述放大器的输入端口与所述测试仪表的输出端口；所述被测器件端射频线缆用于连接所述放大器的输出端口与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：漆一宏，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：新型
国别省市：