一种二氧化镎样品中碳含量的分析方法技术

技术编号:36816576 阅读:77 留言:0更新日期:2023-03-12 00:27
提供一种用于二氧化镎样品中碳含量的分析方法,能够有效降低材料消耗和分析成本,实现二氧化镎中碳含量的准确快速分析,包括以下步骤:S1:条件准备;S1.1:坩埚预处理:在马弗炉中灼烧;S1.2:仪器准备:氧气压力为0.2Mpa

【技术实现步骤摘要】
一种二氧化镎样品中碳含量的分析方法


[0001]本专利技术涉及分析
,具体涉及一种二氧化镎样品中碳含量的分析方法。

技术介绍

[0002]根据《后处理二氧化镎粉末技术条件》的要求,必须测量二氧化镎中碳含量,目前行业内无二氧化镎中碳含量的分析方法,本专利技术采用红外碳硫仪测定二样化镎中碳含量。鉴于二氧化镎样品造价高,辐射性大,本专利技术在满足《后处理二氧化镎粉末技术条件》的基础上,确定仪器最佳测量条件,降低材料消耗和分析成本,实现二氧化镎中碳含量的准确快速分析,为产品质量提供保障。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于:提供一种用于二氧化镎样品中碳含量的分析方法,能够有效降低材料消耗和分析成本,实现二氧化镎中碳含量的准确快速分析。
[0004]本专利技术的技术方案如下:一种二氧化镎样品中碳含量的分析方法,包括以下步骤:
[0005]S1:条件准备
[0006]S1.1:坩埚预处理:在马弗炉中灼烧;
[0007]S1.2:仪器准备:氧气压力为0.2Mpa

0.4Mp本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二氧化镎样品中碳含量的分析方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:条件准备S1.1:坩埚预处理:在马弗炉中灼烧;S1.2:仪器准备:氧气压力为0.2Mpa

0.4Mpa,氮气压力为0.4Mpa

0.6Mpa,仪器预热;S2:空载仪器仪器进行空载分析试验,确定仪器正常;S3:空白值校正在经S1处理的坩埚中加入0.3g

0.4g铁助熔剂和1.5g

1.8g钨助熔剂,平铺于坩埚内,坩埚置于红外碳硫仪坩埚架上,开始测量;S4:仪器校正称取质量为m
B
的碳、硫标准物质于预处理好的坩埚中,加入0.3g

0.4g铁助熔剂和1.5g

1.8g钨助熔剂,平铺于坩埚内,坩埚置于红外碳硫仪坩埚架上,开始测量;S5:测量称取质量为m的样品,加入0.3g

0.4g铁助熔剂和1.5g

1.8g钨助熔剂,平铺于坩埚内,坩埚置于红外碳硫仪坩埚架上,开始测量。S6:结果计算二氧化镎中的碳含量按式(1)计算试中:w—试样中碳的质量分数w
B
—标准钢样中碳的质量分数;m
B
—标准物质称样量,单位为克g;A—试样的吸光度;A

【专利技术属性】
技术研发人员:宋玉龙牟凌张军红胡亚莉刘晓霞李珂夏占国晁余涛尚斌张雪冬迟晓丹张明举
申请(专利权)人:中核四零四有限公司
类型:发明
国别省市:

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