【技术实现步骤摘要】
一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法
[0001]本专利技术涉及晶体管测温领域,更具体的说,它涉及一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法。
技术介绍
[0002]大功率整流器,是一种用于处理大电流的整流器,能够实现将交流转化为直流,对负载进行供电。
[0003]在大功率整流器工作时,由于电流过高,其内部运行温度也较高,而温度过高导致器件损坏是大功率整流器最需要注意的问题之一,所以需要对大功率整流器内部进行温度检测。
[0004]目前进行温度检测的方式很多,例如红外测温、晶体管测温、热电偶测温等方式,其中晶体管测温方式是一种常用的非接触式测温方式,但是由于晶体管测温时,其电压与温度转化并不是完美的线性关系,并且测温电路中的电阻也会随温度进行微小的变化,使得晶体管测温过程中存在误差。
技术实现思路
[0005]为了克服现有技术晶体管测温过程中存在误差的缺点,本专利技术提供一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法。
[0006]为了解决上述技术问题,采用如下技术方案,一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法,包括如下步骤:
[0007]S1:通过晶体管测温电路获取脉冲宽度t;
[0008]S2:将脉冲宽度t输入单片机中,单片机根据脉冲宽度t生成电压数值U1,并根据电压数值U1从寄存器中获取补偿系数δ;
[0009]S3:经过线性变换T=kU1+ε+δ生成温度数值T,其中k为温度转化系数,由晶体管决定,ε为零点值,δ为补偿系数;
[0010]S4:温度数值T通过终 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:通过晶体管测温电路获取脉冲宽度t;S2:将脉冲宽度t输入单片机中,单片机根据脉冲宽度t生成电压数值U1,并根据电压数值U1从寄存器中获取补偿系数δ;S3:经过线性变换T=kU1+ε+δ生成温度数值T,其中k为温度转化系数,由晶体管决定,ε为零点值,δ为补偿系数;S4:温度数值T通过终端显示进行显示,实现测温功能。2.根据权利要求1所述的一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法,其特征在于,所述晶体管测温电路由晶体管、电源、电阻、运算放大器、LM331芯片和计时器组成,晶体管的集电极和基极连接;所述步骤S1,通过晶体管测温电路获取脉冲宽度具体包括如下步骤:晶体管的正向压经过运算放大器放大后送入LM331芯片中,通过计时器获取LM331芯片引脚3电平变化一个周期的时间,即为脉冲宽度t;所述步骤S2中,单片机将脉冲宽度t通过F=1/t转换成频率F,并根据LM331芯片的电压/频率转换规则,输出频率与输入电压成正比,将频率F转换成电压数值U1。3.根据权利要求1所述的一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法,其特征在于,晶体管测温系统的调校步骤如下:A1:将晶体管测温系统放置在0℃的液体介质中,获取此时的电压数值U0;A2:将晶体管测温系统放置在100℃的液体介质中,获取此时的电压数值U
100
;A3:将点(U0,0)和点(U
100
,100)进行线性拟合,计算k和ε,此时δ=0。4.根据权利要求1所述的一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法,其特征在于,所述补偿系数δ的生成包括如下步骤:B1:将晶体管测温系统放置在分别放置在10℃、20℃、30℃、40℃、50℃、60℃、70℃、80℃和90℃的液体介质中,测得电压数值分别为U
10
、U
20
、U
30
、U
40
、U
50
、U
60
、U
70
、U
80
和U
90
:B2:将U
10
、U
20
、U
30
、U
40
、U
50
、U
60
、U
70
、U
80
和U
90
分别通过线性变换T=kU1+ε+δ生成温度数值T
10
、T
20
、T
30
、T
40
、T
50
、T
60
、T
70<...
【专利技术属性】
技术研发人员:陶俊,何德,罗明阳,苏涛龙,
申请(专利权)人:九江赛晶科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。