复合介质电磁材料的参数的获取方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:36810908 阅读:16 留言:0更新日期:2023-03-09 00:44
本申请实施例提供了一种复合介质电磁材料的参数的获取方法、装置及电子设备,涉及材料测试技术领域。该方法包括:获取目标材料上设置的第一微带线的传输矩阵和第二微带线的传输矩阵;基于所述第一微带线的传输矩阵、第二微带线的传输矩阵、以及仿真差模模型仿真得到的目标长度微带线的仿真散射系数,获取目标材料的介电常数和损耗角正切,其中,所述目标长度微带线的长度为所述第一微带线和所述第二微带线的长度差值。用于解决目前的材料测试方法获得的复合介质电磁材料的参数的准确性较低的问题。较低的问题。较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
复合介质电磁材料的参数的获取方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及材料测试
,尤其涉及一种复合介质电磁材料的参数的获取方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]复合材料的特性参数通常由复合材料的生产厂商提供,在仿真
,材料特性参数的准确性往往会影响材料仿真的精度和准确性,但基于目前的材料测试方法获得的复合介质电磁材料的参数的准确性较低,因此如何获取更加准确的复合介质电磁材料的参数是亟待解决的问题。

技术实现思路

[0003]为了解决基于目前的材料测试方法获得的复合介质电磁材料的参数的准确性较低的问题,本申请提供一种复合介质电磁材料的参数的获取方法、装置及电子设备。
[0004]第一方面,本申请实施例提供一种合介质电磁材料的参数的获取方法,所述方法包括:
[0005]获取目标材料上设置的第一微带线的传输矩阵和第二微带线的传输矩阵;
[0006]基于所述第一微带线的传输矩阵、第二微带线的传输矩阵、以及仿真差模模型仿真得到的目标长度微带线的仿真散射系数,获取目标材料的介电常数和损耗角正切,其中,所述目标长度微带线的长度为所述第一微带线和所述第二微带线的长度差值。
[0007]在一个实施例中,所述基于所述第一微带线的传输矩阵、第二微带线的传输矩阵、以及仿真差模模型仿真得到的目标长度微带线的散射系数,获取目标材料的介电常数和损耗角正切,包括:
[0008]根据第一微带线的传输线矩阵和第二微带线的传输矩阵,获取数据矩阵差;
[0009]基于所述数据矩阵差获取目标长度微带线的估计散射系数;
[0010]基于所述仿真差模模型,获取所述目标长度微带线的仿真散射系数;
[0011]基于所述估计散射系数和所述仿真散射系数,进行拟合,得到所述目标材料的介电常数和损耗角正切。
[0012]在一个实施例中,所述基于所述仿真差模模型,获取所述目标长度微带线的仿真散射系数,包括:
[0013]获取所述仿真差模模型的输入参数,所述输入参数包括:目标微带线的长度、宽度、厚度、估计介电常数和估计损耗角正切;
[0014]获取所述仿真差模模型基于所述输入参数,输出的仿真曲线;
[0015]基于所述仿真曲线获取所述目标长度微带线的仿真散射系数。
[0016]在一个实施例中,所述基于所述数据矩阵差获取目标长度微带线的估计散射系数,包括:
[0017]获取第一微带线在第一频点的第一实测损耗值,以及在第二频点的第二实测损耗
值;
[0018]获取第二微带线在第一频点的第三实测损耗值,以及在第二频点的第四实测损耗值;
[0019]所述基于所述仿真曲线获取所述目标长度微带线的仿真散射系数,包括:
[0020]基于所述仿真曲线,获取在第一频点的第一模拟损耗值,以及在第二频点的第二模拟损耗值;
[0021]所述基于所述估计散射系数和所述仿真散射系数,进行拟合,得到所述目标材料的介电常数和损耗角正切,包括:
[0022]基于所述第一模拟损耗值、第二模拟损耗值、第一实测损耗值、第二实测损耗值、第三实测损耗值以及第四实测损耗值以及预设函数进行拟合得到介电常数函数曲线和损耗角正切函数曲线;
[0023]基于所述介电常数函数曲线获取所述目标材料的介电常数;
[0024]基于所述损耗角正切函数曲线获取所述目标材料的损耗角正切。
[0025]在一个实施例中,所述获取目标材料上设置的第一微带线的传输矩阵和第二微带线的传输矩阵,包括:
[0026]通过以所述目标材料为基底的测试夹具获取设置的第一微带线的传输矩阵和第二微带线的传输矩阵;
[0027]其中,所述测试夹具中的所述目标材料为T型,所述第一微带线部署于所述T型的长底上,所述第二微带线部署于所述T型的短底上,所述第一微带线和所述第二微带线平行设置,所述目标材料的背面覆铜,所述测试夹具的正面设置4个SMA转接头。
[0028]在一个实施例中,所述根据第一微带线的传输线矩阵和第二微带线的传输矩阵,获取数据矩阵差,包括:
[0029]基于双线矩阵差异法,根据第一微带线的传输线矩阵和第二微带线的传输矩阵,获取数据矩阵差。
[0030]在一个实施例中,建立所述目标材料与所述目标材料的介电常数曲线和损耗角正切曲线的对应关系;
[0031]将所述对应关系、所述介电常数曲线和损耗角正切曲线存储于数据库中。
[0032]第二方面,本申请实施例提供一种复合介质电磁材料的参数的获取装置,包括:
[0033]测试模块,用于获取目标材料上设置的第一微带线的传输矩阵和第二微带线的传输矩阵;
[0034]处理模块,用于基于所述第一微带线的传输矩阵、第二微带线的传输矩阵、以及仿真差模模型仿真得到的目标长度微带线的仿真散射系数,获取目标材料的介电常数和损耗角正切,其中,所述目标长度微带线的长度为所述第一微带线和所述第二微带线的长度差值。
[0035]在一个实施例中,所述处理模块,具体用于根据第一微带线的传输线矩阵和第二微带线的传输矩阵,获取数据矩阵差;
[0036]基于所述数据矩阵差获取目标长度微带线的估计散射系数;
[0037]基于所述仿真差模模型,获取所述目标长度微带线的仿真散射系数;
[0038]基于所述估计散射系数和所述仿真散射系数,进行拟合,得到所述目标材料的介
电常数和损耗角正切。
[0039]在一个实施例中,所述处理模块,具体用于获取所述仿真差模模型的输入参数,所述输入参数包括:目标微带线的长度、宽度、厚度、估计介电常数和估计损耗角正切;
[0040]获取所述仿真差模模型基于所述输入参数,输出的仿真曲线;
[0041]基于所述仿真曲线获取所述目标长度微带线的仿真散射系数。
[0042]在一个实施例中,所述处理模块,具体用于获取第一微带线在第一频点的第一实测损耗值,以及在第二频点的第二实测损耗值;
[0043]获取第二微带线在第一频点的第三实测损耗值,以及在第二频点的第四实测损耗值;
[0044]所述基于所述仿真曲线获取所述目标长度微带线的仿真散射系数,包括:
[0045]基于所述仿真曲线,获取在第一频点的第一模拟损耗值,以及在第二频点的第二模拟损耗值;
[0046]所述基于所述估计散射系数和所述仿真散射系数,进行拟合,得到所述目标材料的介电常数和损耗角正切,包括:
[0047]基于所述第一模拟损耗值、第二模拟损耗值、第一实测损耗值、第二实测损耗值、第三实测损耗值以及第四实测损耗值以及预设函数进行拟合得到介电常数函数曲线和损耗角正切函数曲线;
[0048]基于所述介电常数函数曲线获取所述目标材料的介电常数;
[0049]基于所述损耗角正切函数曲线获取所述目标材料的损耗角正切。
[0050]在一个实施例中,所述测试模块,具体用于通过以所述目标材料为基底的测试夹具获取设本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复合介质电磁材料的参数的获取方法,其特征在于,包括:获取目标材料上设置的第一微带线的传输矩阵和第二微带线的传输矩阵;基于所述第一微带线的传输矩阵、第二微带线的传输矩阵、以及仿真差模模型仿真得到的目标长度微带线的仿真散射系数,获取目标材料的介电常数和损耗角正切,其中,所述目标长度微带线的长度为所述第一微带线和所述第二微带线的长度差值。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一微带线的传输矩阵、第二微带线的传输矩阵、以及仿真差模模型仿真得到的目标长度微带线的散射系数,获取目标材料的介电常数和损耗角正切,包括:根据第一微带线的传输线矩阵和第二微带线的传输矩阵,获取数据矩阵差;基于所述数据矩阵差获取目标长度微带线的估计散射系数;基于所述仿真差模模型,获取所述目标长度微带线的仿真散射系数;基于所述估计散射系数和所述仿真散射系数,进行拟合,得到所述目标材料的介电常数和损耗角正切。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述仿真差模模型,获取所述目标长度微带线的仿真散射系数,包括:获取所述仿真差模模型的输入参数,所述输入参数包括:目标微带线的长度、宽度、厚度、估计介电常数和估计损耗角正切;获取所述仿真差模模型基于所述输入参数,输出的仿真曲线;基于所述仿真曲线获取所述目标长度微带线的仿真散射系数。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述数据矩阵差获取目标长度微带线的估计散射系数,包括:获取第一微带线在第一频点的第一实测损耗值,以及在第二频点的第二实测损耗值;获取第二微带线在第一频点的第三实测损耗值,以及在第二频点的第四实测损耗值;所述基于所述仿真曲线获取所述目标长度微带线的仿真散射系数,包括:基于所述仿真曲线,获取在第一频点的第一模拟损耗值,以及在第二频点的第二模拟损耗值;所述基于所述估计散射系数和所述仿真散射系数,进行拟合,得到所述目标材料的介电常数和损耗角正切,包括:基于所述第一模拟损耗值、第二模拟损耗值、第一实测损耗值、第二实测损耗值、第三实测损耗值以及第四实测损耗值以及预设函数进行拟合...

【专利技术属性】
技术研发人员:王瑞荡
申请(专利权)人:闻泰通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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