本发明专利技术公开了一种开关管内阻测量方法及装置，该开关管内阻测量方法包括：设置M组具有预设频率和占空比的开关管工作状态控制信号，M组所述工作状态控制信号分别控制所述待测开关管按照每组设定的频率和占空比进行导通或关断，M为大于1的整数；在待测开关管的输入端施加基准电流，获取N个所述待测开关管在各工作状态下导通时所述待测开关管的导通电压，N为大于零的整数；根据所述基准电流和N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻；本发明专利技术能够准确的对开关管内阻进行测量得到待测开关管在不同工作状态下的动态内阻，从而检验所选开关管的内阻是否满足电路设计要求。路设计要求。路设计要求。
【技术实现步骤摘要】
一种开关管内阻测量方法及装置
[0001]本专利技术涉及开关管内阻测量
，特别涉及一种开关管内阻测量方法及装置。
技术介绍
[0002]随着科技的快速发展，各种各样的电子产品快速的在人们的生活中普及，开关管作为电子产品电路设计中的重要元器件，其性能的好坏直接影响电子产品的质量；开关管导通工作过程中，相当于一个导体，开关管的工作损耗直接影响电子产品的功率损耗，而开关管的内阻决定了开关管的工作损耗，因此，如何对开关管的内阻进行测量，以检验所选开关管的内阻是否满足电路设计要求成为亟待解决的问题。
技术实现思路
[0003]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种开关管内阻测量方法及装置，以解决如何对开关管内阻进行测量，来检验所选开关管的内阻是否满足电路设计要求的问题。
[0004]第一方面，本专利技术提供一种开关管内阻测量方法，包括：
[0005]设置M组具有预设频率和占空比的开关管工作状态控制信号，M组所述工作状态控制信号分别控制所述待测开关管按照每组设定的频率和占空比进行导通或关断，M为大于1的整数；
[0006]在待测开关管的输入端施加基准电流，获取N个所述待测开关管在各工作状态下导通时所述待测开关管的导通电压，N为大于零的整数；
[0007]根据所述基准电流和N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻。
[0008]可选的，获取N个所述待测开关管导通时所述待测开关管的导通电压，包括：
[0009]在第n次采集导通电压后，间隔m个导通周期进行第n+1次导通电压的采集，所述导通周期为预设频率的倒数，其中，n为大于零小于N的整数，m为大于或等于零的整数。
[0010]可选的，根据所述基准电流和N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻，包括：
[0011]计算所述N个导通电压分别与所述基准电流的比值，得到对应导通电压的比值结果；
[0012]对所有的比值结果求平均，确定平均值为所述待测开关管的动态内阻，得到所述待测开关管在对应工作状态下的动态内阻。
[0013]可选的，所述在待测开关管的输入端施加基准电流，包括：
[0014]通过恒流源输出预设的恒定电流，将所述预设的恒定电流作为所述基准电流，施加至所述待测开关管的输入端。
[0015]可选的，所述开关管内阻测量方法还包括：
[0016]根据所述待测开关管的静态内阻设置测量的上限值和下限值；
[0017]上限标定：通过测量上限电阻的阻值得到补偿参数，所述上限电阻为具有固定阻值的电阻；
[0018]下限标定：通过测量下限电阻的阻值得到下限补偿参数，所述下限电阻为具有固定阻值的电阻；
[0019]根据所述基准电流和所述N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻包括：
[0020]根据所述基准电流、所述N个导通电压、所述上限补偿参数和所述上限补偿参数，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻。
[0021]可选的，所述通过测量上限电阻的阻值得到上限补偿参数，包括：
[0022]在使用预设的电流通入所述上限电阻时，获取所述上限电阻两端的测试电压；
[0023]根据所述预设的电流和所述测试电压，计算得到所述上限电阻的测试阻值；
[0024]将计算得到的上限电阻的测试阻值与上限电阻的真实阻值的差值作为所述上限补偿参数。
[0025]可选的，根据所述基准电流、所述N个导通电压、所述上限补偿参数和所述下限补偿参数，计算得到所述待测开关管的动态内阻，包括：
[0026]根据所述上限补偿参数和所述下限补偿参数对所述N个导通电压进行修正，得到修正后的N个导通电压；
[0027]根据所述修正后的N个导通电压和所述基准电流，计算得到修正后的N个所述待测开关管的动态内阻；
[0028]对修正后的N个所述待测开关管的动态内阻求平均，得到所述待测开关管的动态内阻。
[0029]可选的，根据所述基准电流、所述N个导通电压、所述上限补偿参数和所述下限补偿参数，计算得到所述待测开关管的动态内阻，包括：
[0030]根据所述基准电流和所述N个导通电压计算得到N个所述待测开关管的动态内阻；
[0031]根据所述上限补偿参数和所述下限补偿参数对N个所述待测开关管的动态内阻进行修正，得到修正后的N个动态内阻；
[0032]对所述修正后的N个动态内阻求平均，得到所述待测开关管的动态内阻。
[0033]可选的，所述开关管内阻测量方法还包括：
[0034]在所述待测开关管的输入端施加静态基准电流，控制所述待测开关管导通；
[0035]获取所述待测开关管导通时的静态导通电压，根据所述静态基准电流和所述静态导通电压，计算得到所述待测开关管的静态内阻。
[0036]第二方面，提供一种开关管内阻测量装置，包括：
[0037]开关管控制模块，用于设置M组具有预设频率和占空比的开关管工作状态控制信号，M组所述工作状态控制信号分别控制所述待测开关管按照每组设定的频率和占空比进行导通或关断，M为大于1的整数；
[0038]基准电流施加模块，用于在待测开关管的输入端施加基准电流，获取N个所述待测开关管在各工作状态下导通时所述待测开关管的导通电压，N为大于零的整数；
[0039]动态内阻计算模块，用于根据所述基准电流和N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻。
[0040]上述方案具有以下有益效果：
[0041]本专利技术的开关管内阻测量方法，设定开关管在不同工作状态下控制信号的频率和占空比，通过在待测开关管的输入端施加基准电流，控制待测开关管在不同工作状态下进行导通或关断，获取N个待测开关管导通时的导通压，根据基准电流和N个导通电压计算待测开关管的内阻；多次测量待测开关管的导通电压，能够准确的得到待测开关管在不同工作状态下的动态内阻，从而检验所选开关管的内阻是否满足电路设计要求。
附图说明
[0042]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0043]图1是本专利技术一实施例中提供的一种开关管内阻测量方法流程图；
[0044]图2是本专利技术一实施例中提供的一种开关管内阻测量装置结构示意图。
具体实施方式
[0045]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本专利技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。
[0046]应当理解，当在本专利技术本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种开关管内阻测量方法，其特征在于，包括：设置M组具有预设频率和占空比的开关管工作状态控制信号，M组所述工作状态控制信号分别控制所述待测开关管按照每组设定的频率和占空比进行导通或关断，M为大于1的整数；在待测开关管的输入端施加基准电流，获取N个所述待测开关管在各工作状态下导通时所述待测开关管的导通电压，N为大于零的整数；根据所述基准电流和N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻。2.根据权利要求1所述的开关管内阻测量方法，其特征在于，获取N个所述待测开关管在各工作状态下导通时所述待测开关管的导通电压，包括：在第n次采集导通电压后，间隔m个导通周期进行第n+1次导通电压的采集，所述导通周期为预设频率的倒数，其中，n为大于零小于N的整数，m为大于或等于零的整数。3.根据权利要求1所述的开关管内阻测量方法，其特征在于，根据所述基准电流和N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻，包括：计算所述N个导通电压分别与所述基准电流的比值，得到对应导通电压的比值结果；对所有的比值结果求平均，确定平均值为所述待测开关管的动态内阻，得到所述待测开关管在对应工作状态下的动态内阻。4.根据权利要求1所述的开关管内阻测量方法，其特征在于，所述在待测开关管的输入端施加基准电流，包括：通过恒流源输出预设的恒定电流，将所述预设的恒定电流作为所述基准电流，施加至所述待测开关管的输入端。5.根据权利要求1所述的开关管内阻测量方法，其特征在于，所述开关管内阻测量方法还包括：根据所述待测开关管的静态内阻设置测量的上限值和下限值；上限标定：通过测量上限电阻的阻值得到上限补偿参数，所述上限电阻为具有固定阻值的电阻；下限标定：通过测量下限电阻的阻值得到下限补偿参数，所述下限电阻为具有固定阻值的电阻；根据所述基准电流和所述N个导通电压，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻包括：根据所述基准电流、所述N个导通电压、所述上限补偿参数和所述下限补偿参数，计算得到所述待测开关管在各工作状态下的动态内阻。6.根据权利要求5所述的开关管内阻测量方法，其特征在于，所述通过测量上限电阻的阻值得到上限补偿...
【专利技术属性】
技术研发人员：聂金华，侯永军，杨小华，
申请(专利权)人：深圳市创芯微微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。