高压电缆半导电屏蔽料的焦烧现象识别方法和装置制造方法及图纸

本申请涉及一种高压电缆半导电屏蔽料的焦烧现象识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：确定螺杆挤出设备的初始加工温度；螺杆挤出设备用于对待测半导电屏蔽料进行挤出加工；在螺杆挤出设备挤出待测半导电屏蔽料的过程中，确定螺杆挤出设备对应的螺杆转矩达到平衡后，螺杆转矩的波动幅度；在螺杆转矩的波动幅度小于预设波动阈值的情况下，确定螺杆挤出设备在挤出待测半导电屏蔽料的过程中，螺杆挤出设备的最高加工温度；在最高加工温度和初始加工温度之间的温度差值满足预设差值条件的情况下，判定待测半导电屏蔽料在挤出加工过程中未发生焦烧现象。采用本方法能够提高针对半导电屏蔽料的焦烧现象的识别准确率。的识别准确率。的识别准确率。

【技术实现步骤摘要】
高压电缆半导电屏蔽料的焦烧现象识别方法和装置


[0001]本申请涉及电力
，特别是涉及一种高压电缆半导电屏蔽料的焦烧现象识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]在橡胶加工的前期阶段(炼胶、存放等工序)，混炼胶中已加入硫化剂，硫化工艺之前会自发的产生早期硫化的现象，这种超前的硫化行为被称为焦烧。产生焦烧后的胶料内部会出现许多交联键，导致胶料的流动性急剧下降，使得后续的加工过程难以进行，甚至危害橡胶制品的性能以及降低表面的光洁度，导致产品的使用性能下降。
[0003]高压、超高压电缆对屏蔽料的表面光洁度有极高的要求，因而对屏蔽料的原料、配方及生产工艺等均有更严苛的要求。屏蔽料挤出后所得产品表面光洁度是高压电缆屏蔽料的关键指标，直接决定其应用电压等级。高压电缆屏蔽层表面存在的杂质和微小的缺陷会导致严重局部放电，引发电树生长，进而带来安全隐患。目前，相关技术中对于高压电缆半导电屏蔽料连续挤出过程中出现焦烧现象判定方法仍然是一个难题，因此，相关技术中，存在着在半导电屏蔽料连续挤出过程中，焦烧现象识别准确本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高压电缆半导电屏蔽料的焦烧现象识别方法，其特征在于，所述方法包括：确定螺杆挤出设备的初始加工温度；所述螺杆挤出设备用于对待测半导电屏蔽料进行挤出加工；在所述螺杆挤出设备挤出所述待测半导电屏蔽料的过程中，确定所述螺杆挤出设备对应的螺杆转矩达到平衡后，所述螺杆转矩的波动幅度；在所述螺杆转矩的波动幅度小于预设波动阈值的情况下，确定所述螺杆挤出设备在挤出所述待测半导电屏蔽料的过程中，所述螺杆挤出设备的最高加工温度；在所述最高加工温度和所述初始加工温度之间的温度差值满足预设差值条件的情况下，判定所述待测半导电屏蔽料在挤出加工过程中未发生焦烧现象。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始加工温度包括所述螺杆挤出设备的各区段对应的初始加工温度；所述确定螺杆挤出设备的初始加工温度，包括：通过差示扫描量热法和热重量分析法对所述待测半导电屏蔽料进行熔点测试，确定所述待测半导电屏蔽料的熔点；根据所述待测半导电屏蔽料的熔点，确定各所述区段对应的初始加工温度；各所述区段对应的初始加工温度均高于所述熔点。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，各所述区段包括第一区段、第二区段、第三区段和第四区段；所述根据所述待测半导电屏蔽料的熔点，确定各所述区段对应的初始加工温度，包括：确定所述熔点和预设温差之间的和，得到所述第一区段对应的初始加工温度；确定所述第一区段对应的初始加工温度和所述预设温差之间的和，得到所述第二区段对应的初始加工温度；确定所述第二区段对应的初始加工温度和所述预设温差之间的和，得到所述第三区段对应的初始加工温度；将所述第三区段对应的初始加工温度，作为所述第四区段对应的初始加工温度。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述最高加工温度包括各所述区段对应的最高加工温度；所述预设差值条件包括预设差值阈值；所述在所述最高加工温度和所述初始加工温度之间的温度差值满足预设差值条件的情况下，判定所述待测半导电屏蔽料在挤出加工过程中未发生焦烧现象，包括：确定各所述区段对应的最高加工温度与对应的初始加工温度之间的温度差值，得到各所述区段对应的温度差值；在各所述区段对应的温度差值均小于或等于所述预设差值阈值，且各所述区段对应的最高加工温度中均小于所述待测半导电屏蔽料的分解温度或硫化温度的情况下，判定...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯帅，傅明利，樊灵孟，展云鹏，何文，贾磊，黎小林，惠宝军，朱闻博，冯宾，张逸凡，周粤，洪浚轩，何浩辉，杨挺，何建宗，罗鑫洪，黄罡，李欢，
申请(专利权)人：广东电网有限责任公司东莞供电局，
类型：发明
国别省市：