一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法技术

技术编号:36806719 阅读:13 留言:0更新日期:2023-03-09 00:19
本发明专利技术属于薄膜材料技术领域,具体为一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,步骤(一)对基材进行溶剂擦拭、氮气干燥,并放入真空室内;步骤(二)在基材非镀膜面上施加二维永磁阵列,调整二维永磁阵列、基材、靶材的相对位置;步骤(三)对真空室进行抽真空至优于1

【技术实现步骤摘要】
一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法


[0001]本专利技术属于薄膜材料
,具体为一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法。

技术介绍

[0002]超长焦距凹面镜阵列在空间光探测、光通信等方面具有举足轻重的地位。凹面镜焦距越长,意味着曲率半径越大、曲率(曲率半径的倒数)越小,当超过几十到几百米后,曲率即趋于零,很难利用传统的机械打磨方法实现,且精度控制困难。
[0003]经检索,论文《飞秒激光和酸刻蚀方法制作凹面微透镜阵列》(李明,《光子学报》2009年39卷第3期,547

560页)中采用飞秒激光光刻玻璃基材、氢氟酸(HF)刻蚀的方法制作凹面透镜阵列,该技术具有精度高、单元尺寸小的优点;但对设备要求高(价格高的飞秒激光器、高精度CCD、三位移动设备等)、制作过程复杂(需要激光光束匀化、光束质量控制),且需使用具有腐蚀性的HF酸。
[0004]专利CN201710449031.9“凹面结构上贴反射镜阵列的方法、凹面反射镜阵列和灯具”、CN201120476751.2“一种阵列式单元聚焦反射镜”中虽然提到了“阵列”,但上述专利中的“阵列”所指的是拼装成单个大尺寸平面反射镜或凹面反射镜的小尺寸面镜“碎片”集合,并且反射特性精度低,仅适用于工程和生活照明,无法用于科研和通信。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题,本专利技术提出了一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,使得制备的薄膜凹面镜阵列具有超长焦距的特性,且可通过改变薄膜的膜厚差调节焦距大小,方向性、纠错性均强于同尺寸的单个反射面镜,为空间光探测、光通信提供了更好的反射器件。
[0006]本专利技术所要解决的技术问题采用以下技术方案来实现:
[0007]一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,具体步骤如下:
[0008]步骤(一)对基材进行溶剂擦拭、氮气干燥,并放入真空室内;
[0009]步骤(二)在基材非镀膜面上施加二维永磁阵列,调整二维永磁阵列、基材、靶材的相对位置;
[0010]步骤(三)对真空室进行抽真空至优于1
×
10
‑3Pa的真空度,氩离子清洗基材,时间5~20min;
[0011]步骤(四)采用脉冲激光沉积技术实施镀膜,激光对靶材进行二维均匀扫描,镀膜时间为20~30min。
[0012]优选的,步骤(一)中基材为硅、锗或石英玻璃中的任意一种。
[0013]优选的,步骤(一)中基材的长、宽各不大于120mm,厚度不大于15mm,基材的镀膜面的表面光洁度优于60

40,光圈数小于1。
[0014]优选的,步骤(二)中二维永磁阵列由9~100个相同的长方体单永磁体排列组成,
且任意相邻两个单永磁体的N、S极相反。
[0015]优选的,单永磁体的剩磁为0.5~5T、长、宽各为5~30mm,厚度为5~50mm,组成的二维永磁阵列长和宽分别不小于基材长和宽的120%。
[0016]优选的,步骤(二)中二维永磁阵列固定于基材的非镀膜面上,两者间距不大于10mm,保持同步旋转或静置。
[0017]优选的,步骤(二)中靶材为金、银、铝中的任意一种。
[0018]优选的,步骤(二)中靶材的长和宽不小于基材的长和宽,靶材与基材的镀膜面正对且平行,间距50~200mm。
[0019]优选的,步骤(四)中激光在靶材表面上的脉冲能量密度为0.1~40J/cm2或峰值功率密度为0.1~10
×
10
12
W/cm2。
[0020]优选的,步骤(四)中激光对靶材进行二维均匀扫描的扫描范围覆盖基材,二维均匀扫描为采用激光二维平移或二维振镜。
[0021]本专利技术的有益效果是:
[0022]本专利技术通过采用在基材的非镀膜面上施加二维永磁阵列,并采用脉冲激光沉积技术进行实施镀膜,与现有技术相比,使得制备得到的薄膜凹面镜阵列具有超长焦距的特性,且可通过改变薄膜的膜厚差调节焦距大小,方向性、纠错性均强于同尺寸的单个反射面镜,为空间光探测、光通信提供了更好的反射器件,具有精度高、制作成本较低、可用于科研和通信。
附图说明
[0023]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明:
[0024]图1为单个凹面反射薄膜剖面图;
[0025]图2为本专利技术中制备设备的结构示意图;
[0026]图3为7
×
7二维永磁阵列的磁感应强度分布图。
[0027]图中:1、二维永磁阵列;2、基材;3、靶材;4、激光;5、等离子体。
具体实施方式
[0028]为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合附图以及实施例对本专利技术进一步阐述。
[0029]本专利技术通过采用外置磁场调控脉冲激光沉积技术的镀膜方法,并利用膜厚的不均匀性及其旋转对称性,可以将反射薄膜等效为一个凹面镜。例如,如图1所述,图1中依附于基材2的圆形反射薄膜的厚度呈中间薄、边缘厚的形式,薄膜直径(等于或接近基材2的直径)为D、边缘与中心的厚度分别为h1和h2。一般的,D的尺寸为毫米到厘米,而(h2‑
h1)为几十个纳米到几个微米的厚度尺寸级别,则其曲率半径r≈D2/8(h2‑
h1),那么其曲率半径可以达到百米甚至千米以上的级别。进一步,将该这种光学薄膜制备为二维阵列形式,则可以形成一种超长焦距薄膜凹面镜阵列。
[0030]一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,具体步骤如下:
[0031]步骤(一)对基材2进行溶剂擦拭、氮气干燥,并放入真空室内。
[0032]具体的,所述基材2为硅、锗或石英玻璃中的任意一种,长、宽各不大于120mm,厚度
不大于15mm,基材2的镀膜面的表面光洁度优于60

40,光圈数小于1。
[0033]主要基于成本和抛光难度考虑,上述几种材料成本低,更重要的是硬度、脆性适中,易于高精度抛光,在较低条件和成本下容易达到表面光洁度和光圈数要求;所述基材2的长、宽是指镀膜面上的两个正交长度,厚度是指垂直于镀膜面的长度。
[0034]在本实施例中,所述基材2选择石英玻璃,长、宽各均为100mm、厚度10mm,表面光洁度60

40、光圈数小于1。
[0035]对基材2进行溶剂擦拭、氮气干燥的目的在于去除基材2表面污染。
[0036]步骤(二)在基材2非镀膜面上施加二维永磁阵列1,调整二维永磁阵列1、基材2、靶材3的相对位置。
[0037]具体的,所述二维永磁阵列1由9~100个相同的长方体单永磁体排列组成,且任意相邻两个单永磁体的N、S极相反,该M
×
K二维磁阵列的磁感应强度分布呈现出(M

1)
×
(K

1)二维“磁漩涡”,单个“磁漩涡”中心对应为四个单永磁体交界点,其磁感应强度最低。以图2为例的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,其特征在于:具体步骤如下:步骤(一)对基材(2)进行溶剂擦拭、氮气干燥,并放入真空室内;步骤(二)在基材(2)非镀膜面上施加二维永磁阵列(1),调整二维永磁阵列(1)、基材(2)、靶材(3)的相对位置;步骤(三)对真空室进行抽真空至优于1
×
10

3Pa的真空度,氩离子清洗基材(2),时间5~20min;步骤(四)采用脉冲激光沉积技术实施镀膜,激光(4)对靶材(3)进行二维均匀扫描,镀膜时间为20~30min。2.根据权利要求1所述的一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,其特征在于:步骤(一)中基材(2)为硅、锗或石英玻璃中的任意一种。3.根据权利要求1所述的一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,其特征在于:步骤(一)中基材(2)的长、宽各不大于120mm,厚度不大于15mm,基材(2)的镀膜面的表面光洁度优于60

40,光圈数小于1。4.根据权利要求1所述的一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法,其特征在于:步骤(二)中二维永磁阵列(1)由9~100个相同的长方体单永磁体排列组成,且任意相邻两个单永磁体的N、S极相反。5.根据权利要求4所述的一种超长焦距薄膜凹面镜阵列的制备方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:陆益敏杨春来王海徐曼曼奚琳
申请(专利权)人:安徽工程大学
类型:发明
国别省市:

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