一种芯片验证方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种芯片验证方法、装置、设备及介质，涉及信息技术领域，所述方法包括：若检测到芯片启动仿真，对所述芯片的验证场景进行计算，得到黄金数据；将所述黄金数据存放在预配置的第一数组中，得到第一待对比数组；若检测到所述芯片完成仿真，接收所述芯片输出的待验证数据，并将所述待验证数据存放在预配置的第二数组中，得到第二待对比数组；将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果。因此，通过利用数组能够有序存放数据的特性去存放所述芯片输出的待验证数据以及所述黄金数据，使在对比验证时只需要根据所述第一待对比数组和所述第二待对比数组即能简单地完成对比，使对比过程简单化且提高芯片验证效率。高芯片验证效率。高芯片验证效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及信息
，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]传统的验证对比模型，即记分牌(scoreboard)，能实时进行数据的对比。但是用于AI芯片验证时，记分牌(scoreboard)虽然能将参考模型(RM)对所述芯片的验证场景计算得到的黄金数据(golden数据)和芯片仿真得到的数据进行对比，但表现并不灵活。现有技术中，首先，参考模型(RM)将计算得到的黄金数据(golden数据)存放在一个分析端口(uvm_analysis_port)中，并将分析端口连接到记分牌的一个端口(port)，然后将包含芯片输出结果的输出代理(AGT_O)连接到记分牌的另一个端口(port)，当芯片结束仿真后，将两个端口(port)的结果进行对比。由于硬件在实现算法的过程中，采用的方法千差万别，在芯片仿真时，会存在三种输出情况，第一种情况：会不让芯片进行结果输出；第二种情况：有时候会让芯片的结果间隔输出；第三种情况：有时候会让芯片结果连续输出。假设参考模型(RM)对所述芯片的验证场景计算得到的黄金数据(golden数据)为连续的，那么遇到第一种情况则只能修改记分牌(scoreboard)来使该层不进行对比，遇到第二种情况需要将参考模型(RM)中的黄金数据(golden数据)的排列进行修改，遇到第三种情况则能正常对比，因此采用传统的方法时，第一种情况和第二种情况将会让验证对比模型以及参考模型(RM)变得复杂，即使得对比时操作更复杂。
专利技术内容
[0003]本专利技术提供了一种芯片验证方法、装置、设备及介质，以解决现有技术中进行芯片功能验证时验证对比模型以及参考模型复杂且对比操作复杂的问题。
[0004]为了解决上述问题，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种芯片验证方法，包括：
[0006]若检测到芯片启动仿真，对所述芯片的验证场景进行计算，得到黄金数据；
[0007]将所述黄金数据存放在预配置的第一数组中，得到第一待对比数组；
[0008]若检测到所述芯片完成仿真，接收所述芯片输出的待验证数据，并将所述待验证数据存放在预配置的第二数组中，得到第二待对比数组；
[0009]将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果。
[0010]其进一步的技术方案为，所述黄金数据包括芯片输出地址和与所述芯片输出地址对应的第一输出数据，所述将所述黄金数据存放在预配置的第一数组中，得到第一待对比数组，包括：
[0011]在所述第一数组中增加元素，所述元素的地址为所述芯片输出地址；
[0012]将所述第一输出数据作为所述元素的值写入到所述第一数组中，得到所述第一待对比数组。
[0013]其进一步的技术方案为，所述待验证数据包括芯片输出地址和与所述芯片输出地
址对应的第二输出数据，所述将所述待验证数据存放在预配置的第二数组中，得到第二待对比数组，包括：
[0014]在所述第二数组中增加元素，所述元素的地址为所述芯片输出地址；
[0015]将所述第二输出数据作为所述元素的值写入到所述第二数组中，得到所述第二待对比数组。
[0016]其进一步的技术方案为，所述将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果，包括：
[0017]判断所述第一待对比数组与所述第二待对比数组中，同一个所述芯片输出地址对应的元素的值是否相同；
[0018]若所述第一待对比数组与所述第二待对比数组中，同一个所述芯片输出地址对应的元素的值相同，判定所述芯片的功能正常。
[0019]其进一步的技术方案为，所述将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果，所述方法还包括：
[0020]若所述第一待对比数组与所述第二待对比数组中，同一个所述芯片的任意一个所述芯片输出地址对应的元素的值不相同，判定所述芯片的功能不正常。
[0021]其进一步的技术方案为，所述对所述芯片的验证场景进行计算，得到黄金数据，包括：
[0022]解析所述芯片的验证场景，得到配置信息；
[0023]根据所述配置信息计算得到所述黄金数据。
[0024]其进一步的技术方案为，所述第一数组和所述第二数组均为关联数组。
[0025]第二方面，本专利技术还提供了一种芯片验证装置，包括用于执行如第一方面所述方法的单元。
[0026]第三方面，本专利技术还提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
[0027]存储器，用于存放计算机程序；
[0028]处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现第一方面所述的方法的步骤。
[0029]第四方面，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的方法的步骤。
[0030]本专利技术提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0031]本专利技术中通过若检测到芯片启动仿真，对所述芯片的验证场景进行计算，得到黄金数据；将所述黄金数据存放在预配置的第一数组中，得到第一待对比数组；若检测到所述芯片完成仿真，接收所述芯片输出的待验证数据，并将所述待验证数据存放在预配置的第二数组中，得到第二待对比数组；将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果。因此，针对芯片结果三种情况下的输出，通过利用数组能够有序存放数据的特性去利用第二数组存放所述芯片输出的待验证数据，使得只对芯片有数据结果输出的情况下去存放数据，避免了第一种情况时芯片没有数据结果输出而导致的问题，从而不需要修改记分牌(scoreboard)来使该层不进行对比；且对待验证数据按相同排列方式进行有序存放从而使待验证数据在存放时的数据排列方式是一致的，同时利用第一数组使得所述黄金数据的数据排列和芯片输出的待验证数据的数据排列是一样的，避免了第二种情况
中所述黄金数据的数据排列和芯片输出的待验证数据的数据排列不一致的问题，从而不需要修改参考模型中的黄金数据(golden数据)的排列，最终使在对比验证时只需要根据所述第一待对比数组和所述第二待对比数组即能简单地完成对比，使对比过程简单化且提高芯片验证效率。
附图说明
[0032]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0034]图1为本专利技术实施例1提供的一种芯片验证方法的流程示意图；
[0035]图2为本专利技术实施例2提供的一种芯片验证装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：若检测到芯片启动仿真，对所述芯片的验证场景进行计算，得到黄金数据；将所述黄金数据存放在预配置的第一数组中，得到第一待对比数组；若检测到所述芯片完成仿真，接收所述芯片输出的待验证数据，并将所述待验证数据存放在预配置的第二数组中，得到第二待对比数组；将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果。2.根据权利要求1所述的芯片验证方法，其特征在于，所述黄金数据包括芯片输出地址和与所述芯片输出地址对应的第一输出数据，所述将所述黄金数据存放在预配置的第一数组中，得到第一待对比数组，包括：在所述第一数组中增加元素，所述元素的地址为所述芯片输出地址；将所述第一输出数据作为所述元素的值写入到所述第一数组中，得到所述第一待对比数组。3.根据权利要求2所述的芯片验证方法，其特征在于，所述待验证数据包括芯片输出地址和与所述芯片输出地址对应的第二输出数据，所述将所述待验证数据存放在预配置的第二数组中，得到第二待对比数组，包括：在所述第二数组中增加元素，所述元素的地址为所述芯片输出地址；将所述第二输出数据作为所述元素的值写入到所述第二数组中，得到所述第二待对比数组。4.根据权利要求3所述的芯片验证方法，其特征在于，所述将所述第一待对比数组和所述第二待对比数组进行对比，得到芯片验证结果，包括：判断所述第一待对比数组与所述第二待对比数组中，同一个所述芯片输出地址对应的元素的值...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨碧，蔡权雄，牛昕宇，
申请(专利权)人：深圳鲲云信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：