【技术实现步骤摘要】
一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法及系统
[0001]本专利技术涉及超精密加工领域,具体涉及一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法及系统。
技术介绍
[0002]光学自由曲面作为一类新型特殊的面形结构,为光学系统提供了很大的设计自由度,能够最大限度地改善光学性能的同时,实现了系统小型化,已逐渐成为新一代光学系统的核心关键器件。随着技术的发展,自由曲面凸显其优势,但是由于其面形复杂无规律,其加工自由度、加工精度及材料的日益严格要求,发展出了多种超精密切削方法。超精密飞切加工技术具有加工精度高、加工效率高及加工过程易于控制等优点,可实现多种曲面的高精度加工。然而超精密加工刀具切削位置的确定严重影响着曲面的加工精度,尤其是加工同一基底上的多个曲面,同时影响曲面的加工精度和位置精度。
技术实现思路
[0003]针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法,通过对零件试切采集两次试切数据进行处理可以得到准确的刀具误差值,简化步骤提升了效率。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法,其特征在于,包括:利用超精密飞切刀具进行试切处理得到超精密飞切刀具试切数据;利用所述超精密飞切刀具试切数据对超精密飞切刀具回转半径与回转角度进行误差修正处理。2.如权利要求1所述的一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法,其特征在于,所述利用超精密飞切刀具进行试切处理得到超精密飞切刀具试切数据包括:获取超精密飞切刀具零位位置;利用超精密飞切刀具基于所述超精密飞切刀具零位位置对待试切零件进行试切得到初始试切零件;利用超精密飞切刀具基于所述超精密飞切刀具零位位置进行顺时针旋转后,得到超精密飞切刀具正向试切角度;获取超精密飞切刀具与初始试切零件的垂直高度作为超精密飞切刀具正向试切高度;利用所述超精密飞切刀具正向试切角度与超精密飞切刀具正向试切高度对初始试切零件进行二次试切处理得到二次试切零件;利用超精密飞切刀具基于所述超精密飞切刀具零位位置进行逆时针旋转后,得到超精密飞切刀具逆向试切角度;获取超精密飞切刀具与初始试切零件的垂直高度作为超精密飞切刀具逆向试切高度;利用所述超精密飞切刀具逆向试切角度与超精密飞切刀具逆向试切高度对所述初始试切零件进行三次试切处理得到三次试切零件;将超精密飞切刀具正向试切角度、超精密飞切刀具正向试切高度、超精密飞切刀具逆向试切角度与超精密飞切刀具逆向试切高度作为超精密飞切刀具试切数据;其中,所述超精密飞切刀具正向试切角度的绝对值的两倍与超精密飞切刀具逆向试切角度的绝对值相同。3.如权利要求2所述的一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法,其特征在于,所述超精密飞切刀具进行顺时针与逆时针旋转的角度范围均为5
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至20
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