一种惯组产品温补参数校正方法及系统技术方案

技术编号:36788259 阅读:13 留言:0更新日期:2023-03-08 22:34
本发明专利技术涉及温度补偿技术领域,公开了一种惯组产品温补参数校正方法及系统,包括:获取待校正惯组产品的初始参数和N个初始温度,并基于初始参数和N个初始温度得到待校正惯组产品对应的初始温补参数,其中,N为正整数;根据初始温补参数通过线性拟合计算得到待校正温补参数,并基于初始温补参数和待校正温补参数计算得到温补差值;获取待校正惯组产品的补偿温度,并将补偿温度和N个初始温度进行大小比较,根据大小比较的结果利用温补差值进行温补参数校正,得到校正后温补参数;本发明专利技术解决了现有的温补参数校正方法存在精度较差的问题。现有的温补参数校正方法存在精度较差的问题。现有的温补参数校正方法存在精度较差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种惯组产品温补参数校正方法及系统


[0001]本专利技术涉及温度补偿
,尤其涉及一种惯组产品温补参数校正方法及系统。

技术介绍

[0002]温补惯组是指采用温补型加速度计作为关键器件的惯组产品,温补惯组在投入使用之前,往往需要进行温度补偿试验,计算出产品输出与温度之间的模型参数,即温度补偿参数,在使用过程中调用温度补偿参数,保证产品在温度变化的环境中输出精度可靠。随着惯组的使用以及各种环境试验考核,惯组产品的元器件会有性能变化导致温度补偿参数会产生误差,一般通过重新进行温度补偿试验,计算新的温度补偿参数来校正输出误差,但温度补偿试验需要外界温箱设备,耗费人力物力较多且精度较差。可见,现有的温补参数校正方法存在精度较差的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种惯组产品温补参数校正方法及系统,以解决现有的温补参数校正方法存在精度较差的问题。
[0004]为了实现上述目的,本专利技术通过如下的技术方案来实现:
[0005]第一方面,本专利技术提供一种惯组产品温补参数校正方法,包括:
[0006]获取待校正惯组产品的初始参数和N个初始温度,并基于所述初始参数和N个所述初始温度得到待校正惯组产品对应的初始温补参数,其中,N为正整数;
[0007]根据所述初始温补参数通过线性拟合计算得到待校正温补参数,并基于所述初始温补参数和所述待校正温补参数计算得到温补差值;
[0008]获取所述待校正惯组产品的补偿温度,并将所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较,根据所述大小比较的结果利用温补差值进行温补参数校正,得到校正后温补参数。
[0009]可选的,所述基于所述初始参数和N个所述初始温度得到待校正惯组产品对应的初始温补参数,包括:
[0010]通过对待校正惯组产品进行自标定,得到待矫正惯组产品在N个所述初始温度下对应的初始温补参数。
[0011]可选的,所述根据所述初始温补参数通过线性拟合计算得到待校正温补参数,包括:
[0012]获取第一补偿温度和第二补偿温度,使第一补偿温度小于或等于所述初始温度,第二补偿温度大于或等于所述初始温度;
[0013]利用线性拟合对所述第一补偿温度、所述第二补偿温度、所述初始温度和所述初始参数进行计算,得到待校正温补参数。
[0014]可选的,所述基于所述初始温补参数和所述待校正温补参数计算得到温补差值,
包括:
[0015]对所述初始温补参数和所述待校正温补参数进行差值计算得到差值结果,并将所述差值结果取绝对值得到温补差值。
[0016]可选的,所述将所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较,根据所述大小比较的结果利用温补差值进行温补参数校正,包括:
[0017]对所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较;
[0018]当所述补偿温度小于所有初始温度时,通过校正计算公式对所述补偿温度进行参数计算,计算公式如下所示:
[0019][0020]其中,K表示校正后温补参数,K
T
表示补偿温度T下对应的初始温补参数,T
控i
表示温控第i个点的温度,K
控i
表示进行自标定得到T
控i
温度点下对应的待校正温补参数,ΔK
i
表示第i个温度点下新得到的待校正温补参数与初始温补参数之间的差值;
[0021]当所述补偿温度位于所有初始温度之间时,通过校正计算公式对所述补偿温度进行参数计算,计算公式如下所示:
[0022][0023]其中,K表示校正后温补参数,K
T
表示补偿温度T下对应的初始温补参数,T
控i
表示温控第i个点的温度,K
控i
表示进行自标定得到T
控i
温度点下对应的待校正温补参数,ΔK
i
表示第i个温度点下新得到的待校正温补参数与初始温补参数之间的差值;
[0024]当所述补偿温度大于所有初始温度时,通过校正计算公式对所述补偿温度进行参数计算,计算公式如下所示:
[0025][0026]其中,K表示校正后温补参数,K
T
表示补偿温度T下对应的初始温补参数,T
控i
表示温控第i个点的温度,K
控i
表示进行自标定得到T
控i
温度点下对应的待校正温补参数,ΔK
i
表示第i个温度点下新得到的待校正温补参数与初始温补参数之间的差值。
[0027]第二方面,本申请实施例提供一种惯组产品温补参数校正系统,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面中任一所述方法的步骤。
[0028]有益效果:
[0029]本专利技术提供的惯组产品温补参数校正方法,通过获取待矫正惯组产品的初始参数和初始温度得到待矫正惯组产品的初始温补参数,并通过线性拟合对初始温补参数进行计算得到待校正温补参数,对待校正温补参数和初始温补参数进行差值计算得到温补差值,便可利用温补差值对待校正惯组产品进行温补参数的修正补偿,从而得到校正后的温补参数,实现多个温度点下的标定,从而对温补参数进行有效性判定和修正,提高了温补参数的校正精度。
附图说明
[0030]图1为本专利技术优选实施例的惯组产品温补参数校正方法的流程图。
具体实施方式
[0031]下面对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0032]除非另作定义,本专利技术中使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本专利技术中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也相应地改变。
[0033]请参见图1,本申请实施例提供一种惯组产品温补参数校正方法,包括:
[0034]获取待校正惯组产品的初始参数和N个初始温度,并基于所述初始参数和N个所述初始温度得到待校正惯组产品对应的初始温补参数,其中,N为正整数;
[0035]根据所述初始温补参数通过线性拟合计算得到待校正温补参数,并基于所述初始温补参数和所述待校正温补参数计算得到温补差值;
[0036]获取所述待校正惯组产品的补偿温度,并将所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较,根据所述大小比较的结果利用温补差值进行温补参本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种惯组产品温补参数校正方法,其特征在于,包括:获取待校正惯组产品的初始参数和N个初始温度,并基于所述初始参数和N个所述初始温度得到待校正惯组产品对应的初始温补参数,其中,N为正整数;根据所述初始温补参数通过线性拟合计算得到待校正温补参数,并基于所述初始温补参数和所述待校正温补参数计算得到温补差值;获取所述待校正惯组产品的补偿温度,并将所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较,根据所述大小比较的结果利用温补差值进行温补参数校正,得到校正后温补参数。2.根据权利要求1所述的惯组产品温补参数校正方法,其特征在于,所述基于所述初始参数和N个所述初始温度得到待校正惯组产品对应的初始温补参数,包括:通过对待校正惯组产品进行自标定,得到待矫正惯组产品在N个所述初始温度下对应的初始温补参数。3.根据权利要求1所述的惯组产品温补参数校正方法,其特征在于,所述根据所述初始温补参数通过线性拟合计算得到待校正温补参数,包括:获取第一补偿温度和第二补偿温度,使第一补偿温度小于或等于所述初始温度,第二补偿温度大于或等于所述初始温度;利用线性拟合对所述第一补偿温度、所述第二补偿温度、所述初始温度和所述初始参数进行计算,得到待校正温补参数。4.根据权利要求1所述的惯组产品温补参数校正方法,其特征在于,所述基于所述初始温补参数和所述待校正温补参数计算得到温补差值,包括:对所述初始温补参数和所述待校正温补参数进行差值计算得到差值结果,并将所述差值结果取绝对值得到温补差值。5.根据权利要求1所述的惯组产品温补参数校正方法,其特征在于,所述将所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较,根据所述大小比较的结果利用温补差值进行温补参数校正,包括:对所述补偿温度和N个所述初始温度进行大小比较;当所述补偿温度小于所有初始温度时,通过校正计算公式对所述补偿温度进行参数计算,计算...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘晓庆赵永力王胜兰
申请(专利权)人:湖南航天机电设备与特种材料研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1