用于测试电子元件的处理器制造技术

本发明专利技术涉及用于测试电子元件的处理器。本发明专利技术的用于测试电子元件的处理器将一个特定传送装置负责传送的传送区间分为第一负责区间和第二负责区间，并且使得在第一负责区间传送时握持测试托盘的部位和在第二负责区间传送时握持测试托盘的部位不同，当一起测试装载于多个测试托盘的多个电子元件时，多个测试托盘在相应的传送区间能够彼此独立且同时传送。根据本发明专利技术，简化和减少传送装置的结构，从而具有降低生产成本和减小设备的尺寸的效果。具有降低生产成本和减小设备的尺寸的效果。具有降低生产成本和减小设备的尺寸的效果。

【技术实现步骤摘要】
用于测试电子元件的处理器
[0001]本申请是中国专利申请号为201910951013.X，申请日为2019年10月08日，专利技术名称为“用于测试电子元件的处理器”的申请的分案申请。


[0002]本专利技术涉及一种测试电子元件时使用的测试托盘以及用于测试电子元件的处理器(HANDLER)，所述处理器在移动相应测试托盘的同时进行电子元件的测试。

技术介绍

[0003]如所生产的半导体器件的电子元件由测试器测试，然后分为合格品和不合格品，并只出货合格品。
[0004]测试器与电子元件之间的电连接是由用于测试电子元件的处理器(下面成为“处理器”)实现。
[0005]处理器根据待测试的电子元件的测试的类型以各种形式制造。在这种处理器中，对电子元件和测试器之间的电连接技术、温度控制技术、与处理速度相关的技术、降低生产成本的技术以及设备小型化的技术等进行了持续的研究和开发。
[0006]处理器主要可以分为应用和未应用待输送电子元件的测试托盘，本专利技术涉及应用测试托盘。
[0007]该专利技术的申请人在该专利技术之本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试托盘，其中，包括：复数个装载元件，用于装载电子元件；设置框架，设置有所述复数个装载元件。2.根据权利要求1所述的测试托盘，其中，所述设置框架包括卡扣槽，所述卡扣槽分别设置在所述设置框架的前方侧边和后方侧边，并且一部分向外侧开放。3.根据权利要求2所述的测试托盘，其中，在平面上观察时，所述卡扣槽具有“T”形状。4.根据权利要求3所述的测试托盘，其中，所述卡扣槽包括上侧开口和下侧开口，所述上侧开口从上侧观察时向外侧开放，以沿左右方向延伸，所述下侧开口从下侧观察时向外侧开放，以沿左右方向延伸，所述下侧开口与所述上侧开...

【专利技术属性】
技术研发人员：金东一，河成圆，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：