用于检测物质的设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于检测物质(102)的设备(100)，包括：光源装置(114)，其适于朝向第一检测区域(104)发射第一组光束和第二组光束(116、118)，物质(102)被供给通过该第一检测区域。光谱系统(120)适于接收和分析由第一检测区域中的物质(102)反射和/或散射的光(122)。激光三角测量系统(124)包括适于朝向第二检测区域(106)发射激光线(130)的激光器装置(126)。基于相机传感器装置(128)配置为接收和分析由第二检测区域(106)中的物质(102)反射和/或散射的光(132)。光谱系统(120)的接收到的光(122)完全或部分地与基于相机传感器装置(128)的接收到的光(132)和/或激光线(130)相交。交。交。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测物质的设备


[0001]本专利技术涉及一种用于检测物质的设备，更具体地涉及包括光谱系统和激光三角测量系统的这样一种设备。

技术介绍

[0002]在广泛的工业范围内，经常需要和期望各种物体的识别、检测、分类和分选。
[0003]在其最简单的形式中，当要识别、分选和分类有限数量的物体时，可以有利地采用由人进行的物体的手动识别。然后，所提到的人可以基于他/她的知识识别和分类所涉及的物体。然而，这种类型的手动识别是单调的并且易于出错。此外，操作者的经验水平将显著地影响由操作者执行的操作的结果。此外，上述类型的手动识别遭受较低的识别速度。
[0004]因此，在工业中，散装物品的识别、分选和分类通常由机器执行，其中散装物品以连续物品流的形式供应。这种机器通常比操作者更快，并且可操作更长的时间段，因此提供了增强的整体吞吐量。这种类型的机器例如用于农业中的水果和蔬菜，以及用于回收中以识别和分选待回收的物体和材料。
[0005]以上类型的机器通常具有用于识别感兴趣的物体的一些形式的传感器。例如，可以采用光谱传感器形式的光学传感器来本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于检测物质(102)的设备(100)，所述设备(100)包括：光源装置(114)，适于朝向第一检测区域(104)发射第一组光束(116)和第二组光束(118)，物质(102)被供给通过所述第一检测区域，光谱系统(120)，包括分光计，其中，所述光谱系统(120)适于接收和分析由所述第一检测区域(104)中的物质(102)反射和/或散射的光(122)，其中，所述光谱系统(120)的接收到的光(122)源自所述第一组光束(116)和所述第二组光束(118)，以及激光三角测量系统(124)，包括：激光器装置(126)，适于朝向第二检测区域(106)发射激光线(130)，物质(102)被供给通过所述第二检测区域，以及基于相机传感器装置(128)，配置为接收和分析由所述第二检测区域(106)中的物质(102)反射和/或散射的光(132)，其中，所述基于相机传感器装置(128)的接收到的光(132)源自所述激光线(130)，其中，所述光谱系统(120)的接收到的光(122)完全或部分地与所述基于相机传感器装置(128)的接收到的光(132)和/或所述激光线(130)相交。2.根据权利要求1所述的设备(100)，其中，所述设备(100)还包括聚焦装置(134)，其中，所述聚焦装置(134)适于将所述第一组光束(116)和所述第二组光束(118)引导并聚焦在扫描元件(136)上，其中，所述扫描元件(136)适于将所述第一组光束和所述第二组光束(116、118)朝向所述第一检测区域(104)重定向，由此所述第一组光束和所述第二组光束(116、118)在所述第一检测区域(104)处会聚。3.根据权利要求1或2所述的设备(100)，其中，所述光源装置(114)包括适于发射所述第一组光束(116)的第一光源(138)，和适于发射所述第二组光束(118)的第二光源(140)。4.根据权利要求2或3所述的设备(100)，其中，所述聚焦装置(134)包括适于将所述第一组光束(116)引导并聚焦在所述扫描元件(136)上的第一聚焦元件(142)，和适于将所述第二组光束(118)引导并聚焦在所述扫描元件(136)上的第二聚焦元件(144)。5.根据权利要求1或2所述的设备(100)，其中，所述光源装置(134)包括适于发射所述第一组光束(116)和所述第二组光束(118)的单个光源(146)。6.根据从属于权利要求2的权利要求5所述的设备(100)，其中，所述聚焦装置(134)包括适于将所述第一组光束(116)引导并聚焦在所述扫描元件(136)上的第一聚焦元件(142)，和适于将所述第二组光束(118)引导并聚焦在所述扫描元件(136)上的第二聚焦元件(144)。7.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述光谱系统(120)包括适于分析第一波长间隔的光的第一分光计系统(120)，和适于分析第二波长间隔的光的第二分光计系统(120)。8.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述光谱系统(120)是扫描光谱系统(120)。9.根据前述权利要求任一项所述的设备(100)，其中，所述第一检测区域(104)和所述第二检测区域(106)重叠。10.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述设备(100)还包括布置在
所述光源装置(114)和所述第一检测区域(104)之间的第一光学滤波器(150)，所述第一光学滤波器(150)阻止源自所述第一组光束(116)和所述第二组光束(118)的光到达所述基于相机传感器装置(128)。11.根据前述权利要求中任一项所述的设备(100)，其中，所述设备(100)还...

【专利技术属性】
技术研发人员：迪尔克，
申请(专利权)人：陶朗分选有限责任公司，
类型：发明
国别省市：