基板卡匣检测治具制造技术

本实用新型专利技术属于液晶面板加工技术领域，公开了一种基板卡匣检测治具，其包括：底座和检测件。检测件设置在底座上，检测件上设有多个用于供卡匣的支撑棒插入的卡槽，多个卡槽与多个支撑棒一一对应，支撑棒的轴线与检测件的长度方向相垂直。以此通过检测件和底座，一次性就可以检测卡匣内的多个支撑棒，有效简化了检测过程，提高了检测效率，有利于提高基板整体的生产效率。的生产效率。的生产效率。

【技术实现步骤摘要】
基板卡匣检测治具


[0001]本技术涉及液晶面板加工
，尤其涉及一种基板卡匣检测治具。

技术介绍

[0002]液晶显示面板在加工过程中，需要对基板进行转运，运载过程中，通常使用机械手将基板装载在卡匣等工装箱内，以便于通过工装箱一次性转运多个基板。为了保证运载过程中基板的安全和稳定性，在装载基板前常需要对卡匣进行检测，以判断其内部支撑棒是否存在下垂、变形等不良。
[0003]目前现有的基板卡匣检测手段，一部分是通过人工目检完成，不仅工作量大、效率低，而且依靠个人经验进行检测容易存在偏差，另一部分是通过设计相应的检测装置进行检测，如中国专利CN104807401B公开了一种基板卡匣检测装置，其包括第一驱动机构、导轨、可编程逻辑器件以及用于检测支撑架的位置是否在预设范围内的传感机构，传感器机构包括数据处理和存储器、报警器等。
[0004]但采用该基板卡匣检测装置对卡匣进行检测时，不仅需要利用多个传感器与相应的后台系统配合，而且还需要驱动相应的驱动机构滑动才能够实现对卡匣的检测，导致检测过程繁琐，检测效率极低，从而使得基板的转运效率较低，不利于提高整体的生产效率。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种基板卡匣检测治具，解决了现有技术中对卡匣的检测过程繁琐，检测效率极低，导致基板的转运效率降低，影响整体生产效率的问题。
[0006]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0007]一种基板卡匣检测治具，其包括：底座和检测件。检测件设置在所述底座上，所述检测件上设有多个用于供所述卡匣的支撑棒插入的卡槽，多个所述卡槽与多个所述支撑棒一一对应，所述支撑棒的轴线与所述检测件的长度方向相垂直。
[0008]可选地，所述检测件为条状结构，多个所述卡槽沿所述检测件的长度方向间隔设置。
[0009]可选地，所述卡槽的拐角处均为直角倒角。
[0010]可选地，所述检测件上贯穿开设有把手孔。
[0011]可选地，所述把手孔设置多个。
[0012]可选地，所述检测件的厚度小于待测所述支撑棒的长度。
[0013]可选地，所述底座的重量大于所述检测件的重量。
[0014]可选地，所述底座与所述检测件为一体结构。
[0015]可选地，所述底座的底壁上设有与所述卡匣底壁抵接的垫块。
[0016]可选地，所述垫块设置四个，四个所述垫块沿所述底座的周向间隔分布。
[0017]本技术的有益效果：
[0018]本技术提供的基板卡匣检测治具通过设置多个卡槽，在对卡匣进行检测时，
将底座放置在卡匣底壁上，确保底座与卡匣底壁平行后，将卡匣的支撑棒插入对应的卡槽中，由于支撑棒的侧面会与卡槽的槽侧壁贴合，因此当任一个支撑棒的位置超出误差范围或者支撑棒在使用过程中出现倾斜时，所有支撑棒都无法顺利插入卡槽内，相反当所有支撑棒都能够顺利插入卡槽内时，就可以确定卡匣可以正常使用。以此通过检测件和底座，一次性就可以检测卡匣内的多个支撑棒，有效简化了检测过程，有效提高了检测效率，有利于提高基板整体的生产效率。
附图说明
[0019]图1为本技术实施例一中基板卡匣检测治具的正视图。
[0020]图2为本技术实施例一中基板卡匣检测治具的侧视图。
[0021]图3为本技术实施例二中基板卡匣检测治具的正视图。
[0022]图4为本技术实施例二中基板卡匣检测治具的侧视图。
[0023]图中：
[0024]100、底座；200、检测件；210、卡槽；220、把手孔；300、垫块。
具体实施方式
[0025]下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。
[0026]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0027]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0028]在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“右”、等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
[0029]本技术提供一种基板卡匣检测治具。
[0030]实施例一
[0031]图1为本技术实施例一中基板卡匣检测治具的正视图。图2为本技术实施例一中基板卡匣检测治具的侧视图。参照图1和图2所示，该基板卡匣检测治具其包括：底座100和检测件200。检测件200设置在底座100上，支撑棒的轴线与检测件200的长度方向相垂
直。检测件200上设有多个用于供卡匣的支撑棒插入的卡槽210，多个卡槽210与多个支撑棒一一对应，卡槽210的槽侧壁与支撑棒的侧面相贴合。
[0032]具体地，底座100呈立方体形，其底面为能够与卡匣内底壁抵紧的平面，检测件200固定在底座100的顶壁上，二者可以通过螺栓固定，也可以通过焊接等方式固定，也可以一体注塑成型形成一体结构，本技术不做限定。应当理解的是，检测件200与底座100之间也可以通过卡接等方式实现可拆卸连接，以便于根据卡匣尺寸和结构的不同，选择不同的检测件200与底座100连接。
[0033]检测件200可以根据卡匣内支撑棒的分布来设计，当多个支撑棒沿竖直方向间隔分布时，检测件200沿竖直方向延伸，多个卡槽210沿竖直方向间隔分布以与支撑棒相对应。
[0034]在对卡匣进行检测时，先将空卡匣放置在平整的平台上，比如大理石平台，检测其外观和结构，确保卡匣自身的完整性。利用塞规等量具检测卡匣底壁，确保卡匣底壁不存在变形，且与水平面保持平行。再利用垂直治具测量卡匣侧壁的垂直度，确保其整体形变在2mm范围以内。最后再将底座100放入卡匣内壁，底座100的底面抵紧在卡匣的内底壁上。
[0035]在底座本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基板卡匣检测治具，其特征在于，所述基板卡匣检测治具包括：底座(100)；以及检测件(200)，所述检测件(200)设置在所述底座(100)上，所述检测件(200)上设有多个用于供所述卡匣的支撑棒插入的卡槽(210)，多个所述卡槽(210)与多个所述支撑棒一一对应，所述支撑棒的轴线与所述检测件(200)的长度方向相垂直。2.根据权利要求1所述的基板卡匣检测治具，其特征在于，所述检测件(200)为条状结构，多个所述卡槽(210)沿所述检测件(200)的长度方向间隔设置。3.根据权利要求1所述的基板卡匣检测治具，其特征在于，所述卡槽(210)的拐角处均为直角倒角。4.根据权利要求1所述的基板卡匣检测治具，其特征在于，所述检测件(200)上贯穿开设有把手孔(220)。5.根据权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王红雷，朱强，
申请(专利权)人：河南省华锐光电产业有限公司，
类型：新型
国别省市：