触摸传感器薄膜制造技术

本发明专利技术提供一种触摸传感器薄膜，其改良了触摸传感器薄膜的制造时的耐火花性。触摸传感器薄膜具有多个检测电极及与多个检测电极电连接的多个引出配线，检测电极为由导电性细线构成的网状结构，多个检测电极分别具有：配置于检测电极的最外侧的第1连接端子；以及配置于与第1连接端子分离的位置的第2连接端子，引出配线经过第1连接端子，延伸至第2连接端子，并且与第1连接端子以及第2连接端子电连接。并且与第1连接端子以及第2连接端子电连接。并且与第1连接端子以及第2连接端子电连接。

【技术实现步骤摘要】
触摸传感器薄膜


[0001]本专利技术涉及一种触摸传感器薄膜。

技术介绍

[0002]近年来，作为用于触摸面板的触摸传感器，采用了由金属细线构成的金属网格传感器。金属网格传感器中，接触电极由金属细线构成，具有与导电性金属氧化物(ITO(Indium Tin Oxide，氧化铟锡)等)相比电阻低或在薄膜面上形成有金属网格传感器的情况下具有挠性等的特征。
[0003]金属网格传感器主要具有连接网状电极与引出配线的图案结构。网状电极与触摸面板的图像显示部配合配置，引出配线配置于图像显示部的周边，具有延长至连接于与控制触摸传感器的IC(Integrated Circuit，集成电路)芯片连接的FPC(挠性打印电路板)的位置(以下称为外部连接端子)的结构。通常，引出配线存在网状电极的根数相应的量，为了与相邻的引出配线绝缘，隔开规定以上的距离而相互配置，成为网状电极的根数相应的量的束而到达至外部连接端子。外部连接端子经由ACF(各向异性导电薄膜)与FPC连接。
[0004]上述引出配线的束的占有面积由引出配线的线宽、相邻的引出配线之间的间隙及引出配线的根数来确定，引出配线部通常由装饰印刷部隐藏。近年来的触摸面板由于其设计性的需求，期望缩小装饰印刷部的面积来扩大触摸面板中的图像显示部分面积比(也称为窄边框化)。即，要求缩小装饰印刷部的面积，这要求也缩小引出配线的束所占的面积。作为与窄边框化对应的装置，采用减小引出配线的线宽且使相邻的引出配线之间的间隙变窄的方法(也称为L/S下降)。
[0005]为了在减小引出配线的线宽的情况下，也可靠地驱动触摸传感器，需要可靠地电连接检测电极和引出配线。因此，例如在专利文献1中公开了在引出配线与检测电极之间难以断线的结构。在专利文献1中公开了在假设在连接区域线变细的部分中没有绘制一些线且断线的情况，在连接区域内线宽变粗的方法。
[0006]专利文献1：日本特开2015
‑
45890号公报
[0007]通过进行窄边框对应，对引出配线部的图案密度增加受到影响，在卷对卷的生产时或以薄片尺寸从触摸传感器薄膜的层叠状态取出触摸传感器薄膜时，因引出配线部中的剥离带电及火花电流的产生，有时受到从引出配线流入的电流的影响，与引出配线部连接的网格状的导通电极图案的一部分被烧坏(称为火花故障)。在火花故障为在各个触摸传感器中所包含的多个导通电极内烧坏任一根导通电极而导致导通不良的情况下，其触摸传感器薄膜不能够满足作为触摸传感器的功能而成为缺陷品。并且，在没有因火花故障而导致导通不良的情况下，也在触摸面板的视觉辨认区域内存在火花故障的产生部位的情况下，在缺陷位置观察网格细线的外观不同，识别为面上缺陷。
[0008]在专利文献1的技术中，能够改良因描绘不良而引起的检测电极与引出配线部的连接不良，但是未确认到对火花故障的改良效果。

技术实现思路

[0009]本专利技术是为了解决这种问题而完成的，因此其目的在于提供一种改良了触摸传感器薄膜的制造时的耐火花性的触摸传感器薄膜。
[0010]一种触摸传感器薄膜，其特征在于，具有多个检测电极及与多个检测电极电连接的多个引出配线，
[0011]检测电极为由导电性细线构成的网状结构，
[0012]多个检测电极分别具有：配置于检测电极的最外侧的第1连接端子；以及配置于与第1连接端子分离的位置的第2连接端子，
[0013]引出配线经过第1连接端子，延伸至第2连接端子，并且与第1连接端子及第2连接端子电连接。
[0014]多个连接端子的线宽能够设为与检测电极的导电性细线相同的线宽。
[0015]多个检测电极分别还能够具有与引出配线电连接的第3连接端子，
[0016]第1连接端子、第2连接端子以及第3连接端子依次配置。
[0017]第1连接端子及第2连接端子中的任一个连接端子的长度还能够设为大于检测电极的电极宽度。
[0018]并且，能够将第1连接端子与第2连接端子之间的间隔设为5μm以上。
[0019]专利技术效果
[0020]根据本专利技术，能够设为如下结构来抑制触摸传感器薄膜的火花故障：触摸传感器薄膜具有基板、从配置于基板上的导电性细线到网状结构的检测电极、配置于基板上的检测电极的周边的引出配线及连接引出配线与检测电极的连接端子，连接端子具有连接端子1、连接端子2、
……
、连接端子n，连接端子1配置于检测电极的端部，引出配线通过连接端子1，延伸连接至连接单元n。
附图说明
[0021]图1是本专利技术的实施方式1所涉及的薄膜的部分剖视图。
[0022]图2是表示本专利技术的实施方式1所涉及的薄膜的俯视图。
[0023]图3是放大表示通常的触摸传感器薄膜中的引出配线与检测电极、连接端子的连接部分的俯视图。
[0024]图4是放大表示本专利技术的实施方式1中的触摸传感器薄膜的引出配线与第一检测电极、连接端子的连接部分的俯视图。
[0025]图5是放大表示本专利技术的实施方式2中的触摸传感器薄膜的引出配线与第一检测电极、连接端子的连接部分的俯视图。
[0026]图6是放大表示本专利技术的实施方式3中的触摸传感器薄膜的引出配线与第一检测电极、连接端子的连接部分的俯视图。
[0027]图7是放大表示本专利技术的实施方式4中的触摸传感器薄膜的引出配线与第一检测电极、连接端子的连接部分的俯视图。
[0028]图8是放大表示本专利技术的实施方式5中的触摸传感器薄膜的引出配线与第一检测电极、连接端子的连接部分的俯视图。
[0029]符号说明
[0030]1‑
触摸传感器薄膜，2
‑
基板，2A
‑
第1面，2B
‑
第2面，3A
‑
第1导电层，3B
‑
第2导电层，11
‑
第1检测电极，13
‑
第1引出配线，14
‑
第1外部连接端子，15、25
‑
配线部，16、26
‑
连接端子，301、401、501、60
‑1‑
第1连接端子，402、502、60
‑
n
‑
第2连接端子，503、60
‑
2～(n
‑
1)
‑
第3连接端子，21
‑
第2检测电极，23
‑
第2引出配线，24
‑
第2外部连接端子，MP
‑
图案，MW
‑
金属细线，Q1、第1电极区域，Q2
‑
第2电极区域，L3、L41、L42、L51、L52、L53、L60
‑
1～n
‑
连接端子的长度，P3、P41、P42、P1、P52、P60
‑
1～(n
‑
1)
‑
连接端子的间隔，W
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触摸传感器薄膜，其特征在于，具有多个检测电极以及与所述多个检测电极电连接的多个引出配线，所述检测电极为由导电性细线构成的网状结构，所述多个检测电极分别具有：配置于所述检测电极的最外侧的第1连接端子；以及配置于与所述第1连接端子分离的位置的第2连接端子，所述引出配线经过所述第1连接端子，延伸至所述第2连接端子，并且与所述第1连接端子以及所述第2连接端子电连接。2.根据权利要求1所述的触摸传感器薄膜，其中，所述第1连接端子以及所述第2连接端子的线宽为与...

【专利技术属性】
技术研发人员：温井克行，三井哲朗，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：