本发明专利技术提供一种发光装置、光测量装置以及图像形成装置。发光装置包括：具有朝向一方向的面和朝向与所述面为相反侧的另一面的构件；发光部，配置在相对于所述构件的所述面侧，伴随发光而发热，且刚性比所述构件低；以及加热部，配置在相对于所述构件的所述另一面侧，从所述另一面侧对所述构件进行加热。所述另一面侧对所述构件进行加热。所述另一面侧对所述构件进行加热。
【技术实现步骤摘要】
发光装置、光测量装置以及图像形成装置
[0001]本公开涉及一种发光装置、光测量装置以及图像形成装置。
技术介绍
[0002]日本专利特开2020
‑
126980号公报中记载了一种发光装置，包括：基材，被搭载于配线基板上；发光元件阵列，设在所述基材上；第一导电图案，与所述发光元件阵列连接，沿着所述发光元件阵列的侧面而设在所述基材的表面，且具有与所述发光元件阵列相向的区域即相向区域、与越过所述相向区域而延伸的延伸区域；以及多个贯穿构件，连接于所述相向区域与所述延伸区域，且贯穿至所述基材的背面侧。
技术实现思路
[0003]本公开的课题在于，抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0004]根据本公开的第一方案，提供一种发光装置，包括：具有朝向一方向的面和朝向与所述面为相反侧的另一面的构件；发光部，配置在相对于所述构件的所述面侧，伴随发光而发热，且刚性比所述构件低；以及加热部，配置在相对于所述构件的所述另一面侧，从所述另一面侧对所述构件进行加热。
[0005]根据本公开的第二方案，所述发光装置还包括：探测部，探测所述构件的温度；以及控制部，基于所述探测部的探测结果来控制所述加热部。
[0006]根据本公开的第三方案，所述探测部对相对于所述构件的所述另一面侧的温度进行探测。
[0007]根据本公开的第四方案，所述探测部进一步对相对于所述构件的所述面侧的温度进行探测。
[0008]根据本公开的第五方案，所述加热部在与所述一方向交叉的交叉方向上的位置与所述发光部重合。
[0009]根据本公开的第六方案，所述发光部被安装于所述面。
[0010]根据本公开的第七方案，所述发光部相对于所述面而隔开，且经由连接部而安装于所述面。
[0011]根据本公开的第八方案，所述连接部是在一个发光部中彼此隔开间隔而配置有多个，在所述发光部与所述面之间形成有间隙。
[0012]根据本公开的第九方案，所述加热部在与所述一方向交叉的交叉方向上的位置与所述连接部重合。
[0013]根据本公开的第十方案，所述加热部沿着与所述一方向交叉的交叉方向而彼此隔开间隔地配置有多个。
[0014]根据本公开的第十一方案，所述构件以及所述发光部沿与所述一方向交叉的交叉方向延伸。
[0015]根据本公开的第十二方案，所述发光部沿着所述交叉方向而呈锯齿状地配置有多
个，
[0016]所述发光部在所述交叉方向上的其中一侧的端部与相邻的另一发光部在所述交叉方向上的另一侧的端部在所述交叉方向上的位置重合。
[0017]根据本公开的第十三方案，所述发光装置还包括：配置在相对于所述发光部而规定的相对位置的另一零件，所述发光部或所述另一零件中的至少其中任一者被安装于所述构件。
[0018]根据本公开的第十四方案，提供一种光测量装置，包括：所述发光装置，其中所述另一零件是受光部，所述受光部接收从所述发光部对在所述一方向上隔开的物体发光并从所述物体反射的光；以及形状确定部，基于所述受光部所接收的光来确定所述物体的三维形状。
[0019]根据本公开的第十五方案，提供一种图像形成装置，包括：像保持体；所述发光装置，使光在经带电的像保持体上成像而形成静电潜像，且所述加热部被安装于所述构件；以及显影装置，对所述像保持体的静电潜像进行显影而形成图像。
[0020](效果)
[0021]根据所述第一方案，与仅在构件与发光部之间配置有加热部的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0022]根据所述第二方案，与基于发光部的发光量来控制加热部的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0023]根据所述第三方案，能够基于另一面侧的温度探测结果而利用控制部来控制加热部。
[0024]根据所述第四方案，能够基于面侧以及另一面侧各自的温度探测结果而利用控制部来控制加热部。
[0025]根据所述第五方案，与加热部的整体在交叉方向上相对于发光部而偏离的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0026]根据所述第六方案，与发光部未被安装于面的结构相比，既能促进发光部的散热，又能抑制伴随构件的热变形造成的发光部的变形。
[0027]根据所述第七方案，与发光部的整个面被直接安装于构件的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0028]根据所述第八方案，与在发光部与面之间的整个空间配置有连接部的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0029]根据所述第九方案，与加热部的整体在交叉方向上相对于连接部而偏离的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0030]根据所述第十方案，与包括在交叉方向上与发光部整体重合的加热部的结构相比，能够使发光装置轻量化。
[0031]根据所述第十一方案，能够抑制下述情况，即，伴随发光部的发热，沿交叉方向延伸的构件以翘曲的方式发生热变形。
[0032]根据所述第十二方案，在发光部呈锯齿状配置的结构中，与仅在构件与发光部之间配置有加热部的结构相比，能够抑制伴随发光部的发热造成的构件的热变形。
[0033]根据所述第十三方案，在构件关联于发光部以及另一零件的相对位置的结构中，
能够抑制伴随构件的热变形造成的发光部与另一零件的相对位置的变化。
[0034]根据所述第十四方案，在包括受光部以及形状确定部的结构中，能够提高形状确定部对物体形状的确定精度。
[0035]根据所述第十五方案，与对构件进行加热的加热部件未安装于构件的结构相比，既能抑制对构件的加热对显影装置以及像保持体造成的影响，又能抑制伴随发光部的发热造成的图像形成不良。
附图说明
[0036]图1是表示第一实施方式的发光装置的结构的平面图。
[0037]图2是表示第一实施方式的发光装置的结构的正面图。
[0038]图3是表示第一实施方式的发光装置的硬件结构的框图。
[0039]图4是表示第二实施方式的图像形成装置的结构的概略正面图。
[0040]图5是表示第二实施方式的曝光装置的结构的正面图。
[0041]图6是表示第二实施方式的曝光装置的结构的侧面剖面图。
[0042]图7是从上方观察第二实施方式的曝光装置的平面图。
[0043]图8是从下方观察第二实施方式的曝光装置的平面图。
[0044]图9是表示第二实施方式的曝光装置的硬件结构的框图。
[0045]图10是表示第三实施方式的发光装置的结构的正面图。
[0046]图11是表示第三实施方式的光测量装置的结构的平面剖面图。
[0047]图12是表示第三实施方式的光测量装置的硬件结构的框图。
[0048]图13是表示第三实施方式的光测量装置的变形例的平面剖面图。
[0049]图14是表示第三实施方式的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种发光装置，包括：具有朝向一方向的面和朝向与所述面为相反侧的另一面的构件；发光部，配置在相对于所述构件的所述面侧，伴随发光而发热，且刚性比所述构件低；以及加热部，配置在相对于所述构件的所述另一面侧，从所述另一面侧对所述构件进行加热。2.根据权利要求1所述的发光装置，还包括：探测部，探测所述构件的温度；以及控制部，基于所述探测部的探测结果来控制所述加热部。3.根据权利要求2所述的发光装置，其中所述探测部对相对于所述构件的所述另一面侧的温度进行探测。4.根据权利要求3所述的发光装置，其中所述探测部进一步对相对于所述构件的所述面侧的温度进行探测。5.根据权利要求1至4中任一项所述的发光装置，其中所述加热部在与所述一方向交叉的交叉方向上的位置与所述发光部重合。6.根据权利要求1至5中任一项所述的发光装置，其中所述发光部被安装于所述面。7.根据权利要求6所述的发光装置，其中所述发光部相对于所述面而隔开，且经由连接部而安装于所述面。8.根据权利要求7所述的发光装置，其中所述连接部是在一个发光部中彼此隔开间隔而配置有多个，在所述发光部与所述面之间形成有间隙。9.根据权利要求7或8所述的发光装置，其中所述加热部在与所述一方向交叉的交叉方向上的位置与所述连接部重合。10...
【专利技术属性】
技术研发人员：中村健人，粕谷洋介，原伸考，
申请(专利权)人：富士胶片商业创新有限公司，
类型：发明
国别省市：
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