一种图像对齐方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种图像对齐方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，该方法包括：获取参考图像和待匹配图像；对所述参考图像和所述待匹配图像进行特征匹配，确定匹配点对；基于所述匹配点对和随机抽样一致性算法，确定内点对；确定所述内点对对应的平移矩阵，并基于所述平移矩阵对所述待匹配图像进行变换。本发明专利技术提供的技术方案中，考虑到距离测量中长宽比应该保持不变的特性，在对待匹配图像进行对齐变化时利用内点对对应的平移矩阵，使得在经过图像对齐后，距离测量的结果较为准确。距离测量的结果较为准确。距离测量的结果较为准确。

【技术实现步骤摘要】
一种图像对齐方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及人工智能领域，且更具体地，涉及一种图像对齐方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]图像对齐技术是图像处理领域非常重要的预处理步骤，在图像分类和回归等应用中均需要较为准确的图像对齐方法，而目前的图像对齐技术往往会致使图像比例的改变，从而使得目前的图像对齐技术往往不适用于距离测量等应用中。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种图像对齐方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，以解决现有的图像对齐方法不适用于距离测量等应用的技术问题。
[0004]根据本专利技术的第一方面，提供了一种图像对齐方法，包括：
[0005]获取参考图像和待匹配图像；
[0006]对所述参考图像和所述待匹配图像进行特征匹配，确定匹配点对；
[0007]基于所述匹配点对和随机抽样一致性算法，确定内点对；
[0008]确定所述内点对对应的平移矩阵，并基于所述平移矩阵对所述待匹配图像进行变换。
[0009]根据本专利技术的第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像对齐方法，其特征在于，包括：获取参考图像和待匹配图像；对所述参考图像和所述待匹配图像进行特征匹配，确定匹配点对；基于所述匹配点对和随机抽样一致性算法，确定内点对；确定所述内点对对应的平移矩阵，并基于所述平移矩阵对所述待匹配图像进行变换。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述内点对对应的平移矩阵，包括：基于所述内点对分别对应的横坐标和纵坐标，确定所述内点对分别对应的横坐标变化值和纵坐标变化值；基于所述横坐标变化值和所述纵坐标变化值，确定所述内点对对应的平移矩阵。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述横坐标变化值和所述纵坐标变化值，确定所述内点对对应的平移矩阵，包括：基于所述横坐标变化值，确定所述横坐标变化中值；基于所述纵坐标变化值，确定所述纵坐标变化中值；基于所述横坐标变化中值和所述纵坐标变化中值，确定所述内点对对应的平移矩阵。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述参考图像和所述待匹配图像进行特征匹配，确定匹配点对，包括：提取所述参考图像的图像特征，获取第一关键点和第一描述符；提取所述待匹配图像的图像特征，获取第二关键点和第二描述符；基于所述第一关键点、所述第一描述符、所述第二关键点、所述第二描述符进行特征匹配，确定匹配点对。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述提取获取的参考图像的图像特征，获取第一关键点和第一描述符；提取获取的样本图像的图像特征，获取第二关键点和第二描述符，包括：利用ORB快速二进制描述符提取参考图像的图像特征，获取第一关键点和第一描述符；利用ORB快速二进制描述符提取待匹配图像的图像特征，获取第二关键点和第二描述符。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一关键点、所...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海联麓半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：