一种测试装置以及测试组件制造方法及图纸

技术编号:36725007 阅读:27 留言:0更新日期:2023-03-01 10:29
本公开是关于一种测试装置以及测试组件,该测试装置用于测试触控屏响应时间,包括触摸导体、信号采集装置以及开关电路。其中,触摸导体用于与待测试的触控屏保持接触,信号采集装置包括第一检测点和第二检测点,第二检测点用于连接触控屏的触控响应信号输出端,开关电路包括检测节点,检测节点与第一检测点连接,开关电路用于导通或关断触摸导体与放电端之间的通路,以使得检测节点的电信号发生改变,其中,触摸导体与放电端导通时构成触摸导体的放电通路。采用本公开提供的测试装置,可以在降低测试成本的同时简化装置,提高测试的稳定性以及精确度,减小测试误差。减小测试误差。减小测试误差。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置以及测试组件


[0001]本公开涉及触控屏测试技术,尤其涉及一种测试装置以及测试组件。

技术介绍

[0002]随着触控屏的迅速发展,触控屏的性能测试行业也得到迅速发展。目前触控屏的触控性能的检测虽然已实现自动化,但检测设备检测时间长,检测误差大。因此对触控屏触控功能检测设备和触控屏检测设备进行优化的需求越来越迫切。

技术实现思路

[0003]为克服相关技术中存在的问题,本公开提供了一种测试装置以及测试组件。
[0004]本公开的第一方面,提供了一种测试装置,用于测试触控屏响应时间,所述测试装置包括:
[0005]触摸导体,所述触摸导体用于与待测试的触控屏保持接触;
[0006]信号采集装置,所述信号采集装置包括第一检测点和第二检测点,所述第二检测点用于连接所述触控屏的触控响应信号输出端;
[0007]开关电路,所述开关电路包括检测节点,所述检测节点与所述第一检测点连接,所述开关电路用于导通或关断所述触摸导体与放电端之间的通路,以使得所述检测节点的电信号发生改变,其中,所述触摸导体与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置,其特征在于,用于测试触控屏响应时间,所述测试装置包括:触摸导体,所述触摸导体用于与待测试的触控屏保持接触;信号采集装置,所述信号采集装置包括第一检测点和第二检测点,所述第二检测点用于连接所述触控屏的触控响应信号输出端;开关电路,所述开关电路包括检测节点,所述检测节点与所述第一检测点连接,所述开关电路用于导通或关断所述触摸导体与放电端之间的通路,以使得所述检测节点的电信号发生改变,其中,所述触摸导体与所述放电端导通时构成所述触摸导体的放电通路。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述开关电路包括第一支路、第二支路和第三支路,所述第一支路的第一端、所述第二支路的第一端和所述第三支路的第一端连接于公共节点,所述第一支路的第二端连接供电端,所述检测节点设置于所述第一支路上,所述第二支路的第二端连接所述触摸导体,所述第三支路的第二端连接所述放电端,所述第三支路上设置有开关元件。3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述第一支路上串联设置有第一电阻和第二电阻,所述检测节点设置于所述第一电阻和所述第二电阻之间。4.根据权利要求3所述的测...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭开荣
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1