光纤的检查方法、光纤的检查装置、以及光纤绕线卷轴的制造方法制造方法及图纸

由光纤裸线(1N)及包覆光纤裸线(1N)的外周面的透光性的包覆层(12)构成的光纤(1)的检查方法具备：照射步骤(S1)，向将光纤(1)以多层卷绕方式卷绕于卷轴(20)而成的卷绕体(30)的外周面(30s)照射具有方向性的照明光(L)；图像数据生成步骤(S2)，接受由卷绕体(30)反射的照明光(L)并生成图像数据，该图像数据包含该照明光(L)的像(IM)的至少一部分；以及检查步骤(S3)，基于图像数据来判断在像(IM)中是否有照明光(L)的状态沿着光纤(1)的卷绕方向重复变化的条纹图案(SP)。化的条纹图案(SP)。化的条纹图案(SP)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光纤的检查方法、光纤的检查装置、以及光纤绕线卷轴的制造方法


[0001]本专利技术涉及一种光纤的检查方法、光纤的检查装置、以及光纤绕线卷轴的制造方法。

技术介绍

[0002]以往，作为光纤而言，公知有光纤裸线的外周面被包覆层包覆的光纤。另外，通常光纤是在经过检查之后出厂。作为光纤的检查而言，例如公知有使用OTDR(Optical Time Domain Reflectometer：光时域反射仪)等的光学特性检查、和对包覆层的损伤等缺陷的检查。例如下述专利文献1记载了检测包覆层缺陷的检查方法。
[0003]对于下述专利文献1的检查方法而言，向将光纤以多层卷绕方式卷绕于卷轴而成的卷绕体照射光，取得由卷绕体反射的光的像的图像数据，对该图像数据实施图像处理，来检测包覆层的气泡等缺陷。现有技术文献专利文献
[0004]专利文献1：日本专利特许第6585056号公报

技术实现思路

(一)要解决的技术问题
[0005]对于上述专利文献1的检查方法而言，是检测包覆层的气泡等缺陷、即在光纤的长度方向上局部产生的包覆层的缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光纤的检查方法，其检查由光纤裸线和包覆所述光纤裸线外周面的透光性的包覆层构成的光纤，其特征在于，具备：照射步骤，向将所述光纤以多层卷绕方式卷绕于卷轴而成的卷绕体的外周面照射具有方向性的照明光；图像数据生成步骤，接受由所述卷绕体反射的所述照明光并生成图像数据，该图像数据包含该照明光的像的至少一部分；以及检查步骤，基于所述图像数据来判断在所述像中是否有所述照明光的状态沿着所述光纤的卷绕方向重复变化的条纹图案。2.根据权利要求1所述的光纤的检查方法，其特征在于，在所述照射步骤中向所述卷绕体照射所述照明光的方向与在所述图像数据生成步骤中接受由所述卷绕体反射的所述照明光的方向所成的角度为30
°
以下。3.根据权利要求1或2所述的光纤的检查方法，其特征在于，当将在所述照射步骤中向所述卷绕体照射所述照明光的方向与在所述图像数据生成步骤中接受由所述卷绕体反射的所述照明光的方向所成的角度设定为φ时，则所述照明光的波段包含在由下述式(1)及(2)表示的规定波段WB中具有200nm以上宽度的特定波段，其中，φ的单位为
°
，WB的单位为nm，WB≥2
·
0.1
×
103·
sin((180
°...

【专利技术属性】
技术研发人员：松永达，
申请(专利权)人：株式会社藤仓，
类型：发明
国别省市：